一种FLASH芯片检测设备及其检测方法与流程

一种flash芯片检测设备及其检测方法
技术领域
1.本发明涉及芯片检测技术领域，具体为一种flash芯片检测设备及其检测方法。


背景技术：

2.主板上的bios大多使用flash memory制造，翻译成中文就是“闪动的存储器”，通常把它称作“闪存储器”，简称“闪存”。闪存盘是一种移动存储产品，可用于存储任何格式数据文件便于随身携带，是个人的“数据移动中心”。闪存盘采用闪存存储介质和通用串行总线接口，具有轻巧精致、使用方便、便于携带、容量较大、安全可靠、时尚潮流等特征，是大家理想的便携存储工具。
3.然而现有的flash芯片检测设备在进行检测时，需要外接电源对检测设备进行通电，然而工作人员不小心拉扯连接插头的连接线时，可能会使连接插头从检测装置的连接插口中脱离出来，使检测装置断电，进而会影响对芯片的检测作业。鉴于此，我们提出了一种flash芯片检测设备及其检测方法。


技术实现要素：

4.(一)解决的技术问题
5.针对现有技术的不足，本发明提供了一种flash芯片检测设备及其检测方法，解决了上述背景技术提到的问题。
6.(二)技术方案
7.为实现以上目的，本发明通过以下技术方案予以实现：一种flash芯片检测设备，包括检测装置、连接插口和连接插头，所述检测装置的顶部固定有芯片插块，所述检测装置的底部固定有固定座，所述固定座的底部固定有移动底座，所述移动底座的底部开设有第一槽孔，所述第一槽孔的内壁固定有气缸，所述气缸内活塞连接有活塞杆，所述活塞杆的底部固定有吸盘，所述连接插头的侧壁固定有连接座，所述第一槽孔的内壁固定有支撑块，所述支撑块的侧壁滑动安装有第一齿条，所述第一齿条与齿轮呈相互啮合状，所述齿轮的内壁固定有转动杆，所述齿轮与第二齿条呈相互啮合状，所述固定座内设置有控制机构，所述检测装置上设置有限位机构。
8.优选的，所述第二齿条远离气缸的一侧固定有连杆，所述连杆远离第二齿条的一端固定有滑板，所述滑板滑动安装在第二槽孔的内壁，所述滑板的底部固定有万向轮，所述滑板的顶部固定有第一弹簧，所述第一弹簧的顶部固定在第二槽孔的内壁。
9.优选的，所述控制机构包括推杆，所述推杆的顶部铰接有第一活动杆，所述第一活动杆远离推杆的一端铰接有传动杆，所述传动杆远离第一活动杆的一端铰接有第二活动杆，所述第二活动杆远离传动杆的一端铰接有连接块，所述连接块远离第二活动杆的一侧固定有l型连接杆，所述l型连接杆远离连接块的一端固定有限位块。
10.优选的，所述推杆靠近气缸的一侧固定有固定块，所述固定块的顶部固定有第二弹簧，所述第二弹簧的顶部固定在第一槽孔的内壁。
11.优选的，所述检测装置的侧壁开设有滑槽，所述滑槽内滑动连接有滑块，所述滑块远离气缸的一侧固定有挡板，所述挡板上开设有限位槽。
12.优选的，所述限位机构包括套筒，所述套筒的内壁固定有第三弹簧，所述第三弹簧远离检测装置的一侧固定有套杆，所述套杆的底部固定有固定杆，所述固定杆的底部固定有限位杆。
13.优选的，所述第一弹簧设置有两组，且两组第一弹簧以移动底座竖直方向上的中心线为对称轴对称设置。
14.优选的，所述检测装置的顶部固定有报警器。
15.一种flash芯片检测方法，该flash芯片检测方法包括以下步骤：
16.s1、当对芯片进行检测时，将检测装置移动到指定位置时，通过外接电源，将连接插头插进检测装置的连接插口中，进行通电。
17.s2、通过启动气缸，控制活塞杆向下移动，使吸盘向下移动，使吸盘与地面紧密贴合，对检测装置进行支撑。
18.s3、当吸盘向下移动时，会使吸盘远离推杆，因第二弹簧处于压缩状态，进而使推杆向下移动，通过第一活动杆，使传动杆向左移动，通过第二活动杆，进而使连接块向上移动，使连接块带动l型连接杆向上移动，进而使限位块向上移动，使限位块移动到连接座的右侧，进而可以对连接座进行限位；
19.s4、当检测装置固定好后，通过将芯片放置到芯片插块内，进而可以启动检测装置对芯片进行检测。
20.s5、当检测结束后，通过启动气缸，使活塞杆带动吸盘远离地面，进而使吸盘移动到第一槽孔内，使吸盘的顶部挤压第一齿条，通过齿轮，使第二齿条向下移动，进而使连杆带动滑板向下移动，使万向轮从第二槽孔中移出，进而可以通过万向轮对检测装置进行移动。
21.s6、当吸盘向上移动，会使吸盘挤压推杆向上移动，通过第一活动杆、传动杆和第二活动杆的配合，使连接块带动l型连接杆向下移动，使限位块向下移动，解除对连接座的限位，进而可以将连接插头从连接插口中拔出，对检测装置进行断电。
22.s7、通过拉动固定杆，进而使限位杆从限位槽中移出，解除对挡板的限位，因重力，进而使挡板向下移动，使挡板向下移动对连接插口进行遮挡，防止在不使用检测装置时有灰尘进入到连接插口中。
23.(三)有益效果
24.本发明提供了一种flash芯片检测设备及其检测方法。具备以下有益效果：
25.(1)、该flash芯片检测设备及其检测方法，当对检测装置进行移动时，通过将连接插头插进连接插口中，进而可以启动气缸，使活塞杆向下移动，进而使吸盘向下移动与地面贴合对检测装置进行支撑，当吸盘远离推杆时，因第二弹簧处于压缩状态，通过限位机构的配合，使限位块向上移动，使限位块对连接座的右侧进行限位，防止不小心有人拉扯到连接插头的连接线，使连接插头从连接插口中脱离，影响芯片的检测。
26.(2)、该flash芯片检测设备及其检测方法，当对检测装置进行移动时，通过启动气缸，控制活塞杆向上移动，使吸盘远离地面，使吸盘挤压第一齿条向上移动，通过齿轮、转动杆、第二齿条、连杆和滑板的配合，使万向轮从第二槽孔中移出，进而可以通过万向轮检测
装置进行移动。
27.(3)、该flash芯片检测设备及其检测方法，当将连接插头从连接插口中拔出时，通过拉动固定杆，使限位杆从限位槽中移出，因重力，进而使挡板向下移动，使挡板对连接插口进行遮挡，防止在不使用检测装置时有灰尘等东西进入到检测装置的连接插口中，容易造成检测装置的连接插口处损坏。
附图说明
28.图1为本发明整体装置的结构示意图；
29.图2为本发明正视的结构示意图；
30.图3为本发明图2的a结构放大示意图；
31.图4为本发明图2的b结构放大示意图；
32.图5为本发明图2的c结构放大示意图；
33.图6为本发明限位块和l型连接杆的一种结构示意图。
34.图中：1、检测装置；2、芯片插块；3、报警器；4、固定座；5、移动底座；7、连接插口；8、连接插头；9、连接座；10、第一槽孔；11、气缸；12、活塞杆；13、吸盘；14、第一齿条；15、支撑块；16、齿轮；17、转动杆；18、第二齿条；19、连杆；20、滑板；21、第一弹簧；22、万向轮；23、控制机构；231、推杆；232、固定块；233、第二弹簧；234、第一活动杆；235、传动杆；236、第二活动杆；237、连接块；238、l型连接杆；239、限位块；24、滑槽；25、滑块；26、挡板；27、限位槽；28、限位机构；281、套筒；282、第三弹簧；283、套杆；284、固定杆；285、限位杆；29、第二槽孔。
具体实施方式
35.下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
36.请参阅图1-图6，本发明提供一种技术方案：一种flash芯片检测设备，包括检测装置1、连接插口7和连接插头8，检测装置1的顶部固定有芯片插块2，检测装置1的顶部固定有报警器3，报警器3的设置可以通过报警器3给工作人员提示，检测装置1的底部固定有固定座4，固定座4的底部固定有移动底座5，移动底座5的底部开设有第一槽孔10，第一槽孔10的内壁固定有气缸11，气缸11内活塞连接有活塞杆12，活塞杆12的底部固定有吸盘13，通过吸盘13使检测装置1的稳定性更高，连接插头8的侧壁固定有连接座9，第一槽孔10的内壁固定有支撑块15，支撑块15的侧壁滑动安装有第一齿条14，第一齿条14与齿轮16呈相互啮合状，齿轮16的内壁固定有转动杆17，转动杆17远离齿轮16的一端转动安装在第一槽孔10的内壁，齿轮16与第二齿条18呈相互啮合状，固定座4内设置有控制机构23，检测装置1上设置有限位机构28，第二齿条18远离气缸11的一侧固定有连杆19，连杆19贯穿第二槽孔29，且连杆19可以在贯穿处上下移动，连杆19远离第二齿条18的一端固定有滑板20，滑板20滑动安装在第二槽孔29的内壁，滑板20的底部固定有万向轮22，万向轮22可以对检测装置1进行移动，滑板20的顶部固定有第一弹簧21，第一弹簧21设置有两组，且两组第一弹簧21以移动底座5竖直方向上的中心线为对称轴对称设置，第一弹簧21的顶部固定在第二槽孔29的内壁。
37.上述控制机构23包括推杆231，推杆231贯穿第一槽孔10的顶部，推杆231的顶部铰接有第一活动杆234，第一活动杆234远离推杆231的一端铰接有传动杆235，传动杆235滑动在固定座4的内壁，传动杆235远离第一活动杆234的一端铰接有第二活动杆236，第二活动杆236远离传动杆235的一端铰接有连接块237，连接块237滑动安装在固定座4的内壁，连接块237远离第二活动杆236的一侧固定有l型连接杆238，l型连接杆238贯穿固定座4的侧壁，且l型连接杆238在固定座4的贯穿处可以移动，l型连接杆238远离连接块237的一端固定有限位块239，推杆231靠近气缸11的一侧固定有固定块232，固定块232的顶部固定有第二弹簧233，第二弹簧233的顶部固定在第一槽孔10的内壁，检测装置1的侧壁开设有滑槽24，滑槽24内滑动连接有滑块25，滑块25远离气缸11的一侧固定有挡板26，挡板26上开设有限位槽27。
38.上述限位机构28包括套筒281，套筒281的内壁固定有第三弹簧282，第三弹簧282远离检测装置1的一侧固定有套杆283，套杆283滑动安装在套筒281的内壁，套杆283的底部固定有固定杆284，固定杆284的底部固定有限位杆285。
39.一种flash芯片检测方法，该flash芯片检测方法包括以下步骤：
40.s1、当对芯片进行检测时，将检测装置1移动到指定位置时，通过外接电源，将连接插头8插进检测装置1的连接插口7中，进行通电。
41.s2、通过启动气缸11，控制活塞杆12向下移动，使吸盘13向下移动，使吸盘13与地面紧密贴合，对检测装置1进行支撑，当吸盘13远离第一齿条14时，因第二弹簧233处于拉伸状态，进而使滑板20向上移动，使万向轮22伸进第二槽孔29中。
42.s3、当吸盘13向下移动时，会使吸盘13远离推杆231，因第二弹簧233处于压缩状态，进而使推杆231向下移动，通过第一活动杆234，使传动杆235向左移动，通过第二活动杆236，进而使连接块237向上移动，使连接块237带动l型连接杆238向上移动，进而使限位块239向上移动，使限位块239移动到连接座9的右侧，进而可以对连接座9进行限位，防止不小心有人拉扯连接线使连接插头8从连接插口7中脱离，使检测装置1断电，影响对芯片的检测。
43.s4、当检测装置1固定好后，通过将芯片放置到芯片插块2内，进而可以启动检测装置1对芯片进行检测。
44.s5、当检测结束后，通过启动气缸11，使活塞杆12带动吸盘13远离地面，进而使吸盘13移动到第一槽孔10内，使吸盘13的顶部挤压第一齿条14，通过齿轮16，使第二齿条18向下移动，进而使连杆19带动滑板20向下移动，使万向轮22从第二槽孔29中移出，进而可以通过万向轮22对检测装置1进行移动；
45.s6、当吸盘13向上移动，会使吸盘13挤压推杆231向上移动，通过第一活动杆234、传动杆235和第二活动杆236的配合，使连接块237带动l型连接杆238向下移动，使限位块239向下移动，解除对连接座9的限位，进而可以将连接插头8从连接插口7中拔出，对检测装置1进行断电；
46.s7、通过拉动固定杆284，进而使限位杆285从限位槽27中移出，解除对挡板26的限位，因重力，进而使挡板26向下移动，使挡板26向下移动对连接插口7进行遮挡，防止在不使用检测装置1时有灰尘进入到连接插口7中，当使用检测装置1时，通过移动挡板26向上移动，因挡板26的顶部设置有斜面，进而会使挡板26挤压限位杆285向右移动，当挡板26上的
限位槽27与限位杆285对齐时，因第三弹簧282处于拉伸状态，使限位杆285伸进限位槽27中，进而可以使挡板26固定，进而可以将连接插头8插进连接插口7中。
47.尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。