技术特征：
1.一种flash芯片检测设备，包括检测装置(1)、连接插口(7)和连接插头(8)，其特征在于：所述检测装置(1)的顶部固定有芯片插块(2)，所述检测装置(1)的底部固定有固定座(4)，所述固定座(4)的底部固定有移动底座(5)，所述移动底座(5)的底部开设有第一槽孔(10)，所述第一槽孔(10)的内壁固定有气缸(11)，所述气缸(11)内活塞连接有活塞杆(12)，所述活塞杆(12)的底部固定有吸盘(13)，所述连接插头(8)的侧壁固定有连接座(9)，所述第一槽孔(10)的内壁固定有支撑块(15)，所述支撑块(15)的侧壁滑动安装有第一齿条(14)，所述第一齿条(14)与齿轮(16)呈相互啮合状，所述齿轮(16)的内壁固定有转动杆(17)，所述齿轮(16)与第二齿条(18)呈相互啮合状，所述固定座(4)内设置有控制机构(23)，所述检测装置(1)上设置有限位机构(28)。2.根据权利要求1所述的一种flash芯片检测设备，其特征在于：所述第二齿条(18)远离气缸(11)的一侧固定有连杆(19)，所述连杆(19)远离第二齿条(18)的一端固定有滑板(20)，所述滑板(20)滑动安装在第二槽孔(29)的内壁，所述滑板(20)的底部固定有万向轮(22)，所述滑板(20)的顶部固定有第一弹簧(21)，所述第一弹簧(21)的顶部固定在第二槽孔(29)的内壁。3.根据权利要求1所述的一种flash芯片检测设备，其特征在于：所述控制机构(23)包括推杆(231)，所述推杆(231)的顶部铰接有第一活动杆(234)，所述第一活动杆(234)远离推杆(231)的一端铰接有传动杆(235)，所述传动杆(235)远离第一活动杆(234)的一端铰接有第二活动杆(236)，所述第二活动杆(236)远离传动杆(235)的一端铰接有连接块(237)，所述连接块(237)远离第二活动杆(236)的一侧固定有l型连接杆(238)，所述l型连接杆(238)远离连接块(237)的一端固定有限位块(239)。4.根据权利要求1所述的一种flash芯片检测设备，其特征在于：所述推杆(231)靠近气缸(11)的一侧固定有固定块(232)，所述固定块(232)的顶部固定有第二弹簧(233)，所述第二弹簧(233)的顶部固定在第一槽孔(10)的内壁。5.根据权利要求1所述的一种flash芯片检测设备，其特征在于：所述检测装置(1)的侧壁开设有滑槽(24)，所述滑槽(24)内滑动连接有滑块(25)，所述滑块(25)远离气缸(11)的一侧固定有挡板(26)，所述挡板(26)上开设有限位槽(27)。6.根据权利要求1所述的一种flash芯片检测设备，其特征在于：所述限位机构(28)包括套筒(281)，所述套筒(281)的内壁固定有第三弹簧(282)，所述第三弹簧(282)远离检测装置(1)的一侧固定有套杆(283)，所述套杆(283)的底部固定有固定杆(284)，所述固定杆(284)的底部固定有限位杆(285)。7.根据权利要求1所述的一种flash芯片检测设备，其特征在于：所述第一弹簧(21)设置有两组，且两组第一弹簧(21)以移动底座(5)竖直方向上的中心线为对称轴对称设置。8.根据权利要求1所述的一种flash芯片检测设备，其特征在于：所述检测装置(1)的顶部固定有报警器(3)。9.一种flash芯片检测方法，其特征在于：该flash芯片检测方法包括以下步骤：s1、当对芯片进行检测时，将检测装置(1)移动到指定位置时，通过外接电源，将连接插头(8)插进检测装置(1)的连接插口(7)中，进行通电；s2、通过启动气缸(11)，控制活塞杆(12)向下移动，使吸盘(13)向下移动，使吸盘(13)与地面紧密贴合，对检测装置(1)进行支撑；
s3、当吸盘(13)向下移动时，会使吸盘(13)远离推杆(231)，因第二弹簧(233)处于压缩状态，进而使推杆(231)向下移动，通过第一活动杆(234)，使传动杆(235)向左移动，通过第二活动杆(236)，进而使连接块(237)向上移动，使连接块(237)带动l型连接杆(238)向上移动，进而使限位块(239)向上移动，使限位块(239)移动到连接座(9)的右侧，进而可以对连接座(9)进行限位；s4、当检测装置(1)固定好后，通过将芯片放置到芯片插块(2)内，进而可以启动检测装置(1)对芯片进行检测；s5、当检测结束后，通过启动气缸(11)，使活塞杆(12)带动吸盘(13)远离地面，进而使吸盘(13)移动到第一槽孔(10)内，使吸盘(13)的顶部挤压第一齿条(14)，通过齿轮(16)，使第二齿条(18)向下移动，进而使连杆(19)带动滑板(20)向下移动，使万向轮(22)从第二槽孔(29)中移出，进而可以通过万向轮(22)对检测装置(1)进行移动；s6、当吸盘(13)向上移动，会使吸盘(13)挤压推杆(231)向上移动，通过第一活动杆(234)、传动杆(235)和第二活动杆(236)的配合，使连接块(237)带动l型连接杆(238)向下移动，使限位块(239)向下移动，解除对连接座(9)的限位，进而可以将连接插头(8)从连接插口(7)中拔出，对检测装置(1)进行断电；s7、通过拉动固定杆(284)，进而使限位杆(285)从限位槽(27)中移出，解除对挡板(26)的限位，因重力，进而使挡板(26)向下移动，使挡板(26)向下移动对连接插口(7)进行遮挡，防止在不使用检测装置(1)时有灰尘进入到连接插口(7)中。
技术总结
本发明公开了一种FLASH芯片检测设备及其检测方法，涉及芯片检测技术领域。包括检测装置、连接插口和连接插头，所述检测装置的顶部固定有芯片插块，所述检测装置的底部固定有固定座，所述固定座的底部固定有移动底座。该FLASH芯片检测设备及其检测方法，当对检测装置进行移动时，通过将连接插头插进连接插口中，进而可以启动气缸，使活塞杆向下移动，进而使吸盘向下移动与地面贴合对检测装置进行支撑，当吸盘远离推杆时，因第二弹簧处于压缩状态，通过限位机构的配合，使限位块向上移动，使限位块对连接座的右侧进行限位，防止不小心有人拉扯到连接插头的连接线，使连接插头从连接插口中脱离，影响芯片的检测。影响芯片的检测。影响芯片的检测。
技术研发人员：曾小帅 汪艳 许光明 郭中祥 曾团结 位明明
受保护的技术使用者：视旗科技（深圳）有限公司
技术研发日：2022.01.24
技术公布日：2022/5/17