一种射频芯片的测试方法、装置、设备和存储介质与流程

本发明实施例涉及计算机技术领域，尤其涉及一种射频芯片的测试方法、装置、设备和存储介质。

背景技术：

随着第五代移动通信技术（5thgenerationmobilenetworks，5g）建设的进行，国内对于相关射频器件和芯片的需求日益增加，而因为5g通讯精度相比以前大大提升，对于射频芯片的要求也就更高了，因此需对射频芯片进行一系列的性能测试。

目前对射频芯片测试的方案主要包括两种，第一种是借助低端数字自动化测试设备（automatictestequipment，ate）对射频芯片进行测试，另一种是将数字ate与pxi（pciextensionsforinstrumentation，面向仪器系统的pci扩展）射频测试仪进行结合，共同对射频芯片进行测试。

但是，第一种方法中，对射频芯片的发射性能进行测试时，数字ate为了获取射频芯片的射频参数，需要减少设备内部的数字逻辑测试板卡，以装配射频测试板卡，导致测试精度较低；第二种方法中，由于pxi射频测试仪为非全双工的4通道射频仪，每次只能对一个射频芯片进行测试，导致多个射频芯片的测试过程非常耗时，测试效率较低；其次，由于pxi射频测试仪架构陈旧，导致测试过程难度较大，并且pxi射频测试仪很难兼容最新的射频产品协议，有效性较低。

技术实现要素：

本发明实施例提供了一种射频芯片的测试方法、装置、设备和存储介质，可以提高多个待测件的测试效率，以及测试结果的精度。

第一方面，本发明实施例提供了一种射频芯片的测试方法，所述方法包括：

通过数字测试设备控制多个当前待测件向预设的射频仪发送射频信号，并通过所述射频仪以及所述数字测试设备，根据各所述射频信号对各所述待测件进行发射性能的测试；

其中，所述射频仪支持对多个待测件的并行测试；

通过数字测试设备控制各所述待测件接收所述射频仪发送的数据包，并根据各所述待测件的接收结果，对各所述待测件进行接收性能的测试；

返回执行通过数字测试设备控制多个当前待测件向预设的射频仪发送射频信号的操作，直至完成对全部待测件的处理。

第二方面，本发明实施例还提供了一种射频芯片的测试装置，该装置包括：

发射测试模块，用于通过数字测试设备控制多个当前待测件向预设的射频仪发送射频信号，并通过所述射频仪以及所述数字测试设备，根据各所述射频信号对各所述待测件进行发射性能的测试；

其中，所述射频仪支持对多个待测件的并行测试；

接收测试模块，用于通过数字测试设备控制各所述待测件接收所述射频仪发送的数据包，并根据各所述待测件的接收结果，对各所述待测件进行接收性能的测试；

返回执行模块，用于返回执行通过数字测试设备控制多个当前待测件向预设的射频仪发送射频信号的操作，直至完成对全部待测件的处理。

第三方面，本发明实施例还提供了一种计算机设备，该计算机设备包括：

一个或多个处理器；

存储装置，用于存储一个或多个程序；

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器执行本发明任意实施例提供的射频芯片的测试方法。

第四方面，本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，该存储介质上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现本发明任意实施例提供的射频芯片的测试方法。

本发明实施例的技术方案通过数字测试设备控制多个当前待测件向射频仪发送射频信号，并通过射频仪以及数字测试设备，根据各射频信号对各待测件进行发射性能的测试，然后通过数字测试设备控制各待测件接收射频仪发送的数据包，并根据各待测件的接收结果，对各待测件进行接收性能的测试，最后返回执行通过数字测试设备控制多个当前待测件向射频仪发送射频信号的操作，直至完成对全部待测件的处理的技术手段，可以节省多个待测件的测试时间，提高多个待测件的测试效率，以及测试结果的精度。

附图说明

图1是本发明实施例一中的一种射频芯片的测试方法的流程图；

图2a是本发明实施例二中的一种射频芯片的测试方法的流程图；

图2b是本发明实施例二中的一种射频芯片的测试方法的流程图；

图3是本发明实施例三中的一种射频芯片的测试装置的结构图；

图4是本发明实施例四中的一种计算机设备的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。

实施例一

图1为本发明实施例一提供的一种射频芯片的测试方法的流程图，本实施例可适用于对射频芯片的性能进行测试的情形，该方法可以由射频芯片的测试装置来执行，该装置可以由软件和/或硬件来实现，并一般可以集成在计算机以及所有包含程序运行功能的智能设备（例如，终端设备或者服务器）中，具体包括如下步骤：

步骤110、通过数字测试设备控制多个当前待测件向预设的射频仪发送射频信号，并通过所述射频仪以及所述数字测试设备，根据各所述射频信号对各所述待测件进行发射性能的测试。

其中，所述射频仪支持对多个待测件的并行测试。

在本实施例中，所述待测件为等待测试的射频芯片，放置于测试负载板（loadboard）上。所述数字测试设备可以为数字自动化测试设备（automatictestequipment，ate）。典型的，所述数字ate可以为型号为s50的ate。

所述预设的射频仪可同时与多个待测件进行连接，以实现对多个待测件进行并行测试。在一个具体的实施例中，所述预设的射频仪可以为iqxstream-ate射频仪，所述iqxstream-ate射频仪可以支持32通道并行测试，4通道全双工并行测试，由此可以实现射频仪对多个待测件进行并行测试。

所述iqxstream-ate射频仪能够支持通用串行总线（universalserialbus，usb）、局域网（localareanetwork，lan）、异步传输标准接口（rs-232）、通用接口总线（general-purposeinterfacebus，gpib）等通信协议。所述iqxstream-ate射频仪支持对各种蓝牙等级，以及各种协议的待测件测试，由此可以实现对市面上型号最新的射频芯片进行测试，提高射频芯片测试方法的有效性。

具体的，所述蓝牙等级可以包括bt2.x、3.x、4.x以及5.0等，所述待测件适用的协议可以包括无线局域网（wirelesslocalareanetworks，wlan）协议、紫蜂协议（zigbee）以及全球定位系统（globalpositioningsystem，gps）协议等。

在此步骤中，数字测试设备首先通过内部的射频（radiofrequency，rf）模块向射频仪发送配置参数，以建立数字测试设备与射频仪之间的连接，然后数字测试设备向各待测件发送数据包发送指令，以使各待测件在所述数据包发送指令下，将预设数据格式的数据包发送至射频仪。射频仪在接收到所述数据包后，执行向对应的待测件进行测试的准备工作。

其中，所述配置参数可以为数字测试设备的标识信息，例如蓝牙地址等。各待测件在所述数据包发送指令下，可以将pn9数据包发送至射频仪。射频仪在接收到所述数据包后，启动矢量信号分析（vectorsignalanalyser，vsa）。

在上述过程之后，数字测试设备向各待测件发送信号发送指令，以使各待测件在所述信号发送指令下，将各自的射频信号发送至射频仪。射频仪和数字测试设备可以根据各待测件发送的射频信号，验证各待测件的发射过程是否正常。如果某待测件的发射过程正常，则认为该待测件通过关于发射性能的测试；反之，则认为该待测件没有通过关于发射性能的测试。

在本实施例中，数字测试设备可以通过通用异步收发传输（universalasynchronousreceivertransmitter，uart）协议与所述待测件进行通信；数字测试设备可以通过lan协议与所述射频仪进行通信。数字测试设备和射频仪之间只需要网线通过互联网协议（internetprotocol，ip）地址建立通信，由此可以降低开发过程的技术难度，减少开发成本。各待测件与射频仪可以通过50欧姆匹配的sma(sub-miniature-a)传导线进行非信令的数据收发过程。

步骤120、通过数字测试设备控制各所述待测件接收所述射频仪发送的数据包，并根据各所述待测件的接收结果，对各所述待测件进行接收性能的测试。

在本实施例中，当完成对各待测件进行发射性能的测试后，数字测试设备可以向射频仪发送数据包发送指令，以使射频仪在该数据包发送指令下，向各待测件发送数据包。数字测试设备可以将射频仪发送的数据包，与各待测件接收的数据包进行比较，根据比较结果，对各待测件进行接收性能的测试。其中，如果射频仪发送的数据包，与某待测件接收的数据包一致，则认为该待测件通过关于接收性能的测试；如果不一致，则认为该待测件没有通过关于接收性能的测试。

在本实施例中，通过将射频仪同时与多个待测件进行连接，对多个待测件进行性能测试，一方面可以实现对多个待测件并行测试，可以缩短多个待测件的测试耗时，提高待测件的测试效率；另一方面通过数字测试设备对待测件的发射性能和接收性能进行测试，可以提高待测件测试结果的精度。

步骤130、判断是否完成对全部待测件的处理，若是，则结束对射频芯片的测试方法的执行，若否，则返回执行步骤110，直至完成对全部待测件的处理。

本发明实施例的技术方案通过数字测试设备控制多个当前待测件向射频仪发送射频信号，并通过射频仪以及数字测试设备，根据各射频信号对各待测件进行发射性能的测试，然后通过数字测试设备控制各待测件接收射频仪发送的数据包，并根据各待测件的接收结果，对各待测件进行接收性能的测试，最后返回执行通过数字测试设备控制多个当前待测件向射频仪发送射频信号的操作，直至完成对全部待测件的处理的技术手段，可以节省多个待测件的测试时间，提高多个待测件的测试效率，以及测试结果的精度。

在上述实施例的基础上，可选的，通过数字测试设备控制各所述待测件接收所述射频仪发送的数据包，包括：

如果存在至少一个目标待测件通过关于发射性能的测试，则通过数字测试设备控制各所述目标待测件接收所述射频仪发送的数据包。

在本实施例中，在根据各射频信号对各待测件进行发射性能的测试之后，如果存在未通过关于发射性能的测试的待测件，则不对该待测件进行接收性能的测试；如果存在通过关于发射性能的测试的目标待测件，则按照上述方法对该目标待测件进行接收性能的测试。

在本发明实施例的一个实施方式中，在根据射频信号对待测件进行发射性能的测试之后，还包括：如果确定所述待测件未通过关于发射性能的测试，则确定所述待测件不合格；在根据待测件的接收结果，对待测件进行接收性能的测试之后，还包括：如果确定所述待测件通过关于接收性能的测试，则确定所述待测件合格。

其中，如果确定某一待测件未通过关于发射性能的测试，则确定该待测件不合格；如果确定某一待测件既通过关于发射性能的测试，又通过关于接收性能的测试，则确定该待测件合格。

在本实施例中，在完成对全部待测件的处理之后，可以根据各待测件的测试结果对各待测件进行分类，例如，可以将合格的待测件分成一类，将不合格的待测件分为另一类。这样设置的目的在于：可以避免后续对不合格的待测件进行使用。

实施例二

本实施例是对上述实施例一的进一步细化，与上述实施例相同或相应的术语解释，本实施例不再赘述。图2a为本发明实施例二提供的一种射频芯片的测试方法的流程图，在本实施例中，本实施例的技术方案可以与上述实施例的方案中的一种或者多种方法进行组合，在本实施例中，如图2a所示，本发明实施例提供的方法还可以包括：

步骤210、通过数字测试设备控制多个当前待测件向预设的射频仪发送射频信号。

其中，所述射频仪支持对多个待测件的并行测试。

步骤220、通过射频仪根据各所述射频信号，得到与各待测件对应的至少一项射频参数，并将与各待测件对应的至少一项射频参数发送至数字测试设备。

射频仪可以根据待测件发送的射频信号，得到与该待测件对应的射频参数，并将与该待测件对应的全部射频参数发送至数字测试设备。

在一个具体的实施例中，射频仪可以根据待测件发送的射频信号，对待测件的发射频点、发射功率、杂散信号、调制参数、带内辐射进行测量，得到多个测量结果，然后分别对各测量结果进行解析，得到与该待测件对应的各项射频参数（包括频偏、发射功率、杂散、调制参数以及带内辐射），并将与该待测件对应的全部射频参数发送至数字测试设备。

步骤230、通过数字测试设备，根据与各待测件对应的至少一项射频参数，对各待测件的发射性能进行测试。

在此步骤之前，数字测试设备还对待测件在发送过程中的功耗进行了测试。如果待测件的功耗符合预设要求，则数字测试设备根据与该待测件对应的射频参数，对该待测件的发射性能进行测试；如果待测件的功耗不符合预设要求，则确认该待测件不合格。

其中，可以判断待测件的功耗是否属于预设的数值区间内，若是，则确认待测件的功耗符合预设要求。

在本发明实施例的一个实施方式中，通过数字测试设备，根据与待测件对应的至少一项射频参数，对待测件的发射性能进行测试，包括：通过所述数字测试设备，判断与所述待测件对应的全部射频参数是否满足预设要求，若是，则确定所述待测件通过关于发射性能的测试；若否，则确定所述待测件未通过关于发射性能的测试。

在一个具体的实施例中，数字测试设备可以判断与待测件对应的频偏、发射功率、杂散、调制参数以及带内辐射，是否均属于对应的预设数值区间，若是，则认为该待测件通过关于发射性能的测试，并执行步骤240；若否，则认为该待测件未通过关于发射性能的测试。

在本实施例中，通过数字测试设备根据与各待测件对应的射频参数，对各待测件的发射性能进行测试，可以提高待测件测试结果的精度。

步骤240、通过数字测试设备控制各所述待测件接收所述射频仪发送的数据包，并根据各所述待测件的接收结果，对各所述待测件进行接收性能的测试。

在此步骤之前，数字测试设备还向各待测件发送接收模式的设置指令，以使各待测件将当前的工作模式由发送模式更新为接收模式。数字测试设备还对各待测件在接收过程中的功耗进行了测试，如果待测件的功耗符合预设要求，则数字测试控制射频仪向该待测件发送数据包；如果待测件的功耗不符合预设要求，则确认该待测件不合格。

本此步骤中，可选的，数字测试设备可以向射频仪发送数据包发送指令，以及接收数据包的各待测件的标识信息，以使射频仪在该数据包发送指令下，根据标识信息，向对应的待测件发送数据包。

在本发明实施例的一个实施方式中，通过数字测试设备控制待测件接收所述射频仪发送的数据包，并根据待测件的接收结果，对待测件进行接收性能的测试，包括：通过数字测试设备控制待测件接收所述射频仪发送的数据包，并根据所述射频仪发送的数据包的个数，以及所述待测件接收的数据包的个数，计算丢包率；根据所述丢包率对所述待测件的接收性能进行测试。

其中，待测件接收到射频仪发送的数据包后，可以将接收到的数据包个数发送至数字射频设备，与此同时，射频仪还可以将向该待测件发送的数据包的个数发送至数字射频设备。数字射频设备根据射频仪向待测件发送的数据包的个数，以及该待测件接收的数据包的个数，计算丢包率。如果丢包率大于预设阈值，则认为该待测件未通过关于接收性能的测试；如果丢包率小于等于预设阈值，则认为该待测件通过关于接收性能的测试。

在本实施例中，根据丢包率对待测件的接收性能进行测试，可以快速得到待测件的测试结果，提高待测件的测试效率。

步骤250、判断是否完成对全部待测件的处理，若是，则结束对射频芯片的测试方法的执行，若否，则返回执行步骤210，直至完成对全部待测件的处理。

在本发明实施例的一个实施方式中，如果没有完成对全部待测件的处理，则通过机械臂将多个当前待测件取走，并获取多个新的待测件作为当前待测件。

其中，如果没有完成对全部待测件的处理，数字测试设备可以通过gpib通信协议向机械臂发送指令，机械臂在该指令下将多个当前待测件取走，并获取多个新的待测件作为当前待测件。

本发明实施例的技术方案通过数字测试设备控制多个当前待测件向射频仪发送射频信号，并通过射频仪根据各射频信号，得到与各待测件对应的射频参数，并将与各待测件对应的射频参数发送至数字测试设备，然后通过数字测试设备，根据与各待测件对应的射频参数，对各待测件的发射性能进行测试，并通过数字测试设备控制各待测件接收射频仪发送的数据包，根据各待测件的接收结果，对各待测件进行接收性能的测试，最后返回执行通过数字测试设备控制多个当前待测件向射频仪发送射频信号的操作，直至完成对全部待测件的处理的技术手段，可以节省多个待测件的测试时间，提高多个待测件的测试效率，以及测试结果的精度。

为了更好的对本发明实施例提供的技术方案进行介绍，以一个待测件为例，本发明实施例可以参考下述的实施方式，如图2b所示：

步骤11、数字测试设备通过rf模块向射频仪发送配置参数。

步骤12、数字测试设备向待测件发送数据包发送指令，待测件在该指令下将pn9数据包发送至射频仪，射频仪启动vsa。

步骤13、数字测试设备控制待测件向射频仪发送射频信号。

在此步骤中，射频仪根据所述射频信号，得到与待测件对应的射频参数，并将全部射频参数发送至数字测试设备。

步骤14、数字测试设备判断待测件的发射功耗是否符合预设要求，若是，执行步骤15，若否，执行步骤24。

步骤15、判断待测件的频偏是否符合预设要求，若是，执行步骤16，若否，执行步骤24。

步骤16、判断待测件的发射功率是否符合预设要求，若是，执行步骤17，若否，执行步骤24。

步骤17、判断待测件的杂散是否符合预设要求，若是，执行步骤18，若否，执行步骤24。

步骤18、判断待测件的调制参数是否符合预设要求，若是，执行步骤19，若否，执行步骤24。

步骤19、判断待测件的带内辐射是否符合预设要求，若是，执行步骤20，若否，执行步骤24。

步骤20、数字测试设备向待测件发送接收模式的设置指令，以使待测件将当前的工作模式由发送模式更新为接收模式。

步骤21、数字测试设备判断待测件的接收功耗是否符合预设要求，若是，执行步骤22，若否，执行步骤24。

步骤22、数字测试设备控制待测件接收射频仪发送的数据包。

步骤23、计算丢包率，判断丢包率是否大于预设阈值，若是，执行步骤24；若否，执行步骤25。

步骤24、确定所述待测件不合格。

步骤25、确定所述待测件合格。

本发明实施例提供的方法可以节省多个待测件的测试时间，提高多个待测件的测试效率，以及测试结果的精度。

实施例三

图3为本发明实施例三提供的一种射频芯片的测试装置的结构图，该装置包括：发射测试模块310、接收测试模块320和返回执行模块330。

其中，发射测试模块310，用于通过数字测试设备控制多个当前待测件向预设的射频仪发送射频信号，并通过所述射频仪以及所述数字测试设备，根据各所述射频信号对各所述待测件进行发射性能的测试；

其中，所述射频仪支持对多个待测件的并行测试；

接收测试模块320，用于通过数字测试设备控制各所述待测件接收所述射频仪发送的数据包，并根据各所述待测件的接收结果，对各所述待测件进行接收性能的测试；

返回执行模块330，用于返回执行通过数字测试设备控制多个当前待测件向预设的射频仪发送射频信号的操作，直至完成对全部待测件的处理。

本发明实施例的技术方案通过数字测试设备控制多个当前待测件向射频仪发送射频信号，并通过射频仪以及数字测试设备，根据各射频信号对各待测件进行发射性能的测试，然后通过数字测试设备控制各待测件接收射频仪发送的数据包，并根据各待测件的接收结果，对各待测件进行接收性能的测试，最后返回执行通过数字测试设备控制多个当前待测件向射频仪发送射频信号的操作，直至完成对全部待测件的处理的技术手段，可以节省多个待测件的测试时间，提高多个待测件的测试效率，以及测试结果的精度。

在上述各实施例的基础上，发射测试模块310，可以包括：

参数计算单元，用于通过所述射频仪根据各所述射频信号，得到与各待测件对应的至少一项射频参数，并将与各待测件对应的至少一项射频参数发送至数字测试设备；

第一测试单元，用于通过所述数字测试设备，根据与各待测件对应的至少一项射频参数，对各所述待测件的发射性能进行测试；

射频参数判断单元，用于通过所述数字测试设备，判断与所述待测件对应的全部射频参数是否满足预设要求；

测试通过确定单元，用于当与所述待测件对应的全部射频参数满足预设要求时，确定所述待测件通过关于发射性能的测试；

测试未通过确定单元，用于当与所述待测件对应的任意一项射频参数不满足预设要求时，确定所述待测件未通过关于发射性能的测试；

不合格待测件确定单元，用于如果确定所述待测件未通过关于发射性能的测试，则确定所述待测件不合格。

接收测试模块320，可以包括：

控制接收单元，用于存在至少一个目标待测件通过关于发射性能的测试时，通过数字测试设备控制各所述目标待测件接收所述射频仪发送的数据包；

丢包率计算单元，用于通过数字测试设备控制待测件接收所述射频仪发送的数据包，并根据所述射频仪发送的数据包的个数，以及所述待测件接收的数据包的个数，计算丢包率；

第二测试单元，用于根据所述丢包率对所述待测件的接收性能进行测试；

合格待测件确定单元，用于如果确定所述待测件通过关于接收性能的测试，则确定所述待测件合格；

判断单元，用于判断是否完成对全部待测件的处理；

待测件获取单元，用于没有完成对全部待测件的处理时，通过机械臂将多个当前待测件取走，并获取多个新的待测件作为当前待测件。

本发明实施例所提供的射频芯片的测试装置可执行本发明任意实施例所提供的射频芯片的测试方法，具备执行方法相应的功能模块和有益效果。

实施例四

图4为本发明实施例四提供的一种计算机设备的结构示意图，如图4所示，该计算机设备包括处理器410、存储器420、输入装置430和输出装置440；计算机设备中处理器410的数量可以是一个或多个，图4中以一个处理器410为例；计算机设备中的处理器410、存储器420、输入装置430和输出装置440可以通过总线或其他方式连接，图4中以通过总线连接为例。存储器420作为一种计算机可读存储介质，可用于存储软件程序、计算机可执行程序以及模块，如本发明任意实施例中的一种射频芯片的测试方法对应的程序指令/模块（例如，一种射频芯片的测试装置中的发射测试模块310、接收测试模块320和返回执行模块330）。处理器410通过运行存储在存储器420中的软件程序、指令以及模块，从而执行计算机设备的各种功能应用以及数据处理，即实现上述的一种射频芯片的测试方法。也即，该程序被处理器执行时实现：

通过数字测试设备控制多个当前待测件向预设的射频仪发送射频信号，并通过所述射频仪以及所述数字测试设备，根据各所述射频信号对各所述待测件进行发射性能的测试；

其中，所述射频仪支持对多个待测件的并行测试；

通过数字测试设备控制各所述待测件接收所述射频仪发送的数据包，并根据各所述待测件的接收结果，对各所述待测件进行接收性能的测试；

返回执行通过数字测试设备控制多个当前待测件向预设的射频仪发送射频信号的操作，直至完成对全部待测件的处理。

存储器420可主要包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序；存储数据区可存储根据终端的使用所创建的数据等。此外，存储器420可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非易失性固态存储器件。在一些实例中，存储器420可进一步包括相对于处理器410远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至计算机设备。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。输入装置430可用于接收输入的数字或字符信息，以及产生与计算机设备的用户设置以及功能控制有关的键信号输入，可以包括键盘和鼠标等。输出装置440可包括显示屏等显示设备。

实施例五

本发明实施例五还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现本发明任意实施例所述方法。当然，本发明实施例所提供的一种计算机可读存储介质，其可以执行本发明任意实施例所提供的一种射频芯片的测试方法中的相关操作。也即，该程序被处理器执行时实现：

通过数字测试设备控制多个当前待测件向预设的射频仪发送射频信号，并通过所述射频仪以及所述数字测试设备，根据各所述射频信号对各所述待测件进行发射性能的测试；

其中，所述射频仪支持对多个待测件的并行测试；

通过数字测试设备控制各所述待测件接收所述射频仪发送的数据包，并根据各所述待测件的接收结果，对各所述待测件进行接收性能的测试；

返回执行通过数字测试设备控制多个当前待测件向预设的射频仪发送射频信号的操作，直至完成对全部待测件的处理。

通过以上关于实施方式的描述，所属领域的技术人员可以清楚地了解到，本发明可借助软件及必需的通用硬件来实现，当然也可以通过硬件实现，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中，如计算机的软盘、只读存储器（read-onlymemory,rom）、随机存取存储器（randomaccessmemory,ram）、闪存（flash）、硬盘或光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备（可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等）执行本发明各个实施例所述的方法。

值得注意的是，上述一种射频芯片的测试装置的实施例中，所包括的各个单元和模块只是按照功能逻辑进行划分的，但并不局限于上述的划分，只要能够实现相应的功能即可；另外，各功能单元的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本发明的保护范围。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。