1.一种射频芯片的测试方法，其特征在于，包括：
通过数字测试设备控制多个当前待测件向预设的射频仪发送射频信号，并通过所述射频仪以及所述数字测试设备，根据各所述射频信号对各所述待测件进行发射性能的测试；
其中，所述射频仪支持对多个待测件的并行测试；
通过数字测试设备控制各所述待测件接收所述射频仪发送的数据包，并根据各所述待测件的接收结果，对各所述待测件进行接收性能的测试；
返回执行通过数字测试设备控制多个当前待测件向预设的射频仪发送射频信号的操作，直至完成对全部待测件的处理。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过数字测试设备控制各所述待测件接收所述射频仪发送的数据包，包括：
如果存在至少一个目标待测件通过关于发射性能的测试，则通过数字测试设备控制各所述目标待测件接收所述射频仪发送的数据包。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过所述射频仪以及所述数字测试设备，根据各所述射频信号对各所述待测件进行发射性能的测试，包括：
通过所述射频仪根据各所述射频信号，得到与各待测件对应的至少一项射频参数，并将与各待测件对应的至少一项射频参数发送至数字测试设备；
通过所述数字测试设备，根据与各待测件对应的至少一项射频参数，对各所述待测件的发射性能进行测试。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，通过所述数字测试设备，根据与待测件对应的至少一项射频参数，对待测件的发射性能进行测试，包括：
通过所述数字测试设备，判断与所述待测件对应的全部射频参数是否满足预设要求；
若是，则确定所述待测件通过关于发射性能的测试；
若否，则确定所述待测件未通过关于发射性能的测试。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过数字测试设备控制待测件接收所述射频仪发送的数据包，并根据待测件的接收结果，对待测件进行接收性能的测试，包括：
通过数字测试设备控制待测件接收所述射频仪发送的数据包，并根据所述射频仪发送的数据包的个数，以及所述待测件接收的数据包的个数，计算丢包率；
根据所述丢包率对所述待测件的接收性能进行测试。
6.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在根据射频信号对待测件进行发射性能的测试之后，还包括：
如果确定所述待测件未通过关于发射性能的测试，则确定所述待测件不合格；
在根据待测件的接收结果，对待测件进行接收性能的测试之后，还包括：
如果确定所述待测件通过关于接收性能的测试，则确定所述待测件合格。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在对各所述待测件进行接收性能的测试之后，还包括：
判断是否完成对全部待测件的处理；
若否，则通过机械臂将多个当前待测件取走，并获取多个新的待测件作为当前待测件。
8.一种射频芯片的测试装置，其特征在于，包括：
发射测试模块，用于通过数字测试设备控制多个当前待测件向预设的射频仪发送射频信号，并通过所述射频仪以及所述数字测试设备，根据各所述射频信号对各所述待测件进行发射性能的测试；
其中，所述射频仪支持对多个待测件的并行测试；
接收测试模块，用于通过数字测试设备控制各所述待测件接收所述射频仪发送的数据包，并根据各所述待测件的接收结果，对各所述待测件进行接收性能的测试；
返回执行模块，用于返回执行通过数字测试设备控制多个当前待测件向预设的射频仪发送射频信号的操作，直至完成对全部待测件的处理。
9.一种计算机设备，包括：
一个或多个处理器；
存储装置，用于存储一个或多个程序；
当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器执行所述程序时实现如权利要求1-7中任一所述的射频芯片的测试方法。
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一所述的射频芯片的测试方法。