一种干烧检测方法、装置及存储介质与流程

技术总结
本发明公开了一种干烧检测方法，处于第一干烧检测阶段，检测电子设备内部的温度变化值；将所述温度变化值与预设的第一温度阈值进行比较，得到比较结果；基于所述比较结果，确定所述电子设备是否处于干烧状态。本发明还同时公开了一种干烧检测装置及存储介质。公开了一种干烧检测装置及存储介质。公开了一种干烧检测装置及存储介质。


技术研发人员：郭远久 李宝刚 姚琦 朱光亮 乔维君
受保护的技术使用者：广东美的生活电器制造有限公司
技术研发日：2019.09.27
技术公布日：2021/4/17