一种用于半导体外延片研磨的陶瓷托盘的制作方法

文档序号:19597191发布日期:2020-01-03 11:26阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种用于半导体外延片研磨的陶瓷托盘,包括基座(1)和托盘(2),其特征在于:所述基座(1)顶部与所述托盘(2)底部连接,且所述基座(1)直径大于所述托盘(2)直径,并且所述基座(1)顶部还设置有至少一对结构完全一致的紧固机构(3),所述紧固机构(3)顶部至所述基座(1)底部之间的距离大于所述托盘(2)顶部至所述基座(1)底部之间的距离,且一对所述紧固机构(3)分别设置在所述托盘(2)直径的两侧,并且所述紧固机构(3)至所述托盘(2)边缘设置有间隙。

2.根据权利要求1所述的一种用于半导体外延片研磨的陶瓷托盘,其特征在于:所述紧固机构(3)包括支撑杆(4)、调节螺杆(5)和压头(6),所述支撑杆(4)垂直设置在所述基座(1)顶部,所述支撑杆(4)上设置有螺栓孔,所述调节螺杆(5)一端贯穿所述螺栓孔与所述压头(6)连接。

3.根据权利要求2所述的一种用于半导体外延片研磨的陶瓷托盘,其特征在于:所述压头(6)靠近所述托盘(2)一侧设置有保护层,且所述保护层上均匀设置有凸起点。

4.根据权利要求2或3所述的一种用于半导体外延片研磨的陶瓷托盘,其特征在于:所述压头(6)顶部至所述基座(1)底部之间的距离小于所述托盘(2)顶部至所述基座(1)底部之间距离。

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