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氧化物烧结体、溅射靶以及氧化物半导体膜的制作方法
文档序号:16374278
发布日期:2018-12-22 08:57
阅读:
来源:国知局
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氧化物烧结体、溅射靶以及氧化物半导体膜的制作方法
技术特征:
技术总结
一种氧化物烧结体,含有包含In元素、Zn元素、Sn元素以及Y元素的氧化物,烧结体密度为理论密度的100.00%以上。
技术研发人员:
井上一吉;宇都野太;笘井重和;柴田雅敏;丝濑麻美
受保护的技术使用者:
出光兴产株式会社
技术研发日:
2017.04.26
技术公布日:
2018.12.21
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