技术总结
本发明公开了一种电子元器件的自动检测缺陷设备，包括第一箱体、第二箱体、第三箱体及第四箱体，所述第三箱体内设有上料机构，所述上料机构包括上料漏斗、振动盘、直振送料组件及压紧工件气缸，所述第四箱体内且紧贴所述上料机构出料端位置设有落料组件，所述落料组件包括落料底架、落料底架上端连接的水平支撑架、水平支撑架上端设有的送料气缸、送料气缸上端设有的落料板及水平支撑架位置上方设有的挡料板，所述第四箱体内设有检测机构，所述检测机构包括上料组件、下料组件、圆盘形固定架、环形转动架、上料工位、检测光源、检测相机及驱动组件。
技术研发人员：孙家良;孙健
受保护的技术使用者：南京微伽自动化技术有限公司
技术研发日：2019.05.17
技术公布日：2019.07.23