技术总结
一种新型的传感器信号采集芯片的基准电流测试结构。该基准电流的测试结构包括一与原基准电流电路完全相同的新搭建电路、电流引出元件、合适的电流测试点和电流测试元件。其中，搭建的新电路与原有的基准电流电路完全相同，且搭建的新电路与原有的基准电流电路之间没有接触点，所述的搭建的新电路位于传感器信号采集芯片的内部，该电路通过内部电流引出元件将基准电流引出到芯片外部，并在电流测试点连接有电流测试元件，能够降低整个传感器信号采集芯片的功耗、面积和成本。
技术研发人员：江石根
受保护的技术使用者：苏州格美芯微电子有限公司
文档号码：201720242549
技术研发日：2017.03.14
技术公布日：2018.04.17