1.一种探测芯片分层的测试结构，包括机台(1)，其特征在于，所述机台(1)顶部一侧固定连接有固定板(2)且固定板(2)为两个，所述机台(1)顶部活动连接有与固定板(2)相对应的移动板(3)，所述固定板(2)和移动板(3)表面一侧均焊接有支撑架(4)，所述机台(1)内侧壁安装有弹簧(5)，所述弹簧(5)远离机台(1)一侧连接至移动板(3)表面，所述移动板(3)表面右侧固定连接有调节杆(6)，所述机台(1)顶部开设有滑槽(7)，所述机台(1)通过滑槽(7)滑动连接有滑块(701)，所述滑块(701)顶部安装有显微镜(8)。
2.根据权利要求1所述的一种探测芯片分层的测试结构，其特征在于，所述固定板(2)和移动板(3)表面均粘接有橡胶垫(401)，所述橡胶垫(401)粘接在支撑架(4)表面顶部。
3.根据权利要求1所述的一种探测芯片分层的测试结构，其特征在于，所述调节杆(6)远离移动板(3)一侧固定连接有连接杆(9)，所述连接杆(9)焊接在调节杆(6)之间。
4.根据权利要求1所述的一种探测芯片分层的测试结构，其特征在于，所述机台(1)底部固定连接有支腿(10)且支腿(10)为四个，所述支腿(10)底部粘接有防滑脚垫(1001)。
5.根据权利要求1所述的一种探测芯片分层的测试结构，其特征在于，所述机台(1)内部一侧活动连接有储物柜(11)，所述储物柜(11)表面一侧安装有把手(1101)。