技术特征：
1.芯片检测设备，其特征在于：包括旋转台，所述旋转台上设置有多个用于放置待检测工件的放置座，所述旋转台的外侧设置有多个可与放置座正对的检测机构，所述检测机构包括检测接头、用于驱动检测接头插入待检测工件的驱动组件和用于调整检测接头位置的调节组件。2.根据权利要求1所述的芯片检测设备，其特征在于：所述旋转台的外侧还设置有用于压紧待检测工件的压紧部。3.根据权利要求2所述的芯片检测设备，其特征在于：所述检测机构包括检测架，所述驱动组件包括设置在检测架上的y轴向驱动部，y轴向驱动部的底端连接有x轴向驱动部，x轴向驱动部远离y轴向驱动部的一端连接有z轴向驱动部。4.根据权利要求3所述的芯片检测设备，其特征在于：所述调节组件包括设置在检测架与y轴向驱动部之间的第一调节部和设置在x轴向驱动部与z轴向驱动部之间的第二调节部。5.根据权利要求4所述的芯片检测设备，其特征在于：所述第一调节部和第二调节部均包括固定盘和调节盘，所述固定盘上设置有调节孔，所述调节盘上设置有调节杆，所述调节杆位于调节孔内，且调节杆穿过调节孔并螺纹连接有调节旋钮。6.根据权利要求5所述的芯片检测设备，其特征在于：所述x轴向驱动部、y轴向驱动部和z轴向驱动部均通过气缸驱动。7.根据权利要求6所述的芯片检测设备，其特征在于：所述压紧部包括旋转气缸，旋转气缸的活塞杆的顶端固接有压紧杆，压紧杆远离活塞杆的一端可拆卸连接有压紧座。8.根据权利要求7所述的芯片检测设备，其特征在于：所述压紧座的底部设置有可插入到待检测工件内部的插杆。9.根据权利要求8所述的芯片检测设备，其特征在于：所述放置座上设置有限位柱。10.根据权利要求9所述的芯片检测设备，其特征在于：所述旋转台、固定盘和调节盘上均设置有减重孔。