一种多通道芯片性能测试设备的制作方法

本实用新型涉及多通道芯片领域，特别是涉及一种多通道芯片性能测试设备。

背景技术：

芯片在电子学中是一种把电路(主要包括半导体设备，也包括被动组件等)小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上，芯片是决定电子设备正常高效运转的大脑。

在多通道芯片生产过程中，需要对芯片的性能进行检查，防止性能较差的芯片流入到市场，影响客户的使用，同时传统的多通道芯片测试装置，需要人工将芯片按压放置在底座上进行测试，测试结束后再通过人工将芯片从底座处扣起，此过程增加了工人的工作量，同时造成工人长期手指的损伤，同时操作复杂，降低了测试的效率。

技术实现要素：

为了克服现有技术的不足，本实用新型提供一种多通道芯片性能测试设备，操作简单，提高测试效率，无需人工按压、扣起芯片。

为解决上述技术问题，本实用新型提供如下技术方案：一种多通道芯片性能测试设备，包括操作板，所述操作板表面一侧开设有槽孔，所述槽孔正上方设置有芯片座，所述芯片座呈槽型结构，所述芯片座正上方设置有芯片，所述操作板靠近槽孔一侧设置有固定杆，所述固定杆竖向开设有限位块滑槽，所述固定杆靠近芯片一侧开设有滑块槽，所述固定杆远离滑块槽一侧竖向开设有连杆滑槽，所述固定杆靠近芯片一侧设置有活动杆，所述活动杆与滑块槽互动连接有滑块，所述滑块靠近限位块滑槽一侧设置有限位块，所述活动杆最下端设置有连杆，所述连杆呈“u”型结构，所述连杆与连杆滑槽上下滑动，所述限位块滑槽、滑块槽、连杆滑槽之间相互连通，所述活动杆上表面一侧设置有下转轴，所述固定杆上表面位于活动杆正上方设置有电机，所述电机靠近下转轴一侧设置有主动板，所述主动板上表面设置有上转轴,所述上转轴、下转轴连接处转动连接有传动杆。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述操作板底部均匀安装有若干支撑腿。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述操作板上表面一侧设置有警示灯，所述警示灯与芯片座相互连接。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述芯片座上表面均匀开设有若干针孔，所述针孔与芯片下表面针脚相卡合。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述连杆远离活动杆一端设置有托板，所述托板位于活动杆正下方。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述活动杆最下端设置有弹簧，所述弹簧最下端设置有橡胶块，所橡胶块与活动杆长宽相同。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述芯片座上表面均匀安装有六个挡板，六个所述挡板之间与芯片卡合。

与现有技术相比，本实用新型能达到的有益效果是：

1、通过设置的活动杆与电机，在主动板与传动杆的配合下，当主动板转动一百八十度后，主动板与传动杆首位相连，活动杆将芯片全部按压至芯片座内部，从而对其快速的检测，与此同时，电机继续转动，此时在主动板的作用下，传动杆向上运动，并通过连杆在槽孔内部向上推动，从而将芯片从芯片座内部顶起，无需工人手动按压、扣起芯片，防止工人手指损伤，同时有效的提高测试的效率。

2、通过设置的弹簧和橡胶块，弹簧减缓活动杆对芯片表面的冲击，从而避免活动杆在运动的过程中造成芯片的损伤，同时通过橡胶块提高与芯片上表面之间的摩擦力，同时起到一定的缓冲作用，提高保护芯片的效果。

3、通过设置的挡板，防止在芯片与芯片座之间卡合的过程中，芯片从芯片座上表面滑落，便于芯片与芯片座之间进行卡合，防止偏移。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型的操作板结构示意图；

图3为本实用新型的芯片座结构示意图；

图4为本实用新型的局部结构示意图；

图5为本实用新型的固定杆截面结构示意图；

图6为本实用新型的电机结构示意图；

图7为本实用新型的传动杆结构示意图。

其中：1、操作板；2、支撑腿；3、槽孔；4、警示灯；5、芯片座；6、针孔；7、挡板；8、芯片；9、固定杆；10、限位块滑槽；11、滑块槽；12、连杆滑槽；13、活动杆；14、限位块；15、滑块；16、连杆；17、托板；18、下转轴；19、弹簧；20、橡胶块；21、电机；22、主动板；23、上转轴；24、传动杆。

具体实施方式

为了使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施例，进一步阐述本实用新型，但下述实施例仅仅为本实用新型的优选实施例，并非全部。基于实施方式中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得其它实施例，都属于本实用新型的保护范围。下述实施例中的实验方法，如无特殊说明，均为常规方法，下述实施例中所用的材料、试剂等，如无特殊说明，均可从商业途径得到。

实施例:

如图1-7所示，本实用新型提供一种多通道芯片性能测试设备，包括操作板1，操作板1表面一侧开设有槽孔3，槽孔3正上方设置有芯片座5，芯片座5呈槽型结构，芯片座5正上方设置有芯片8，操作板1靠近槽孔3一侧设置有固定杆9，固定杆9竖向开设有限位块滑槽10，固定杆9靠近芯片8一侧开设有滑块槽11，固定杆9远离滑块槽11一侧竖向开设有连杆滑槽12，固定杆9靠近芯片8一侧设置有活动杆13，活动杆13与滑块槽11互动连接有滑块15，滑块15靠近限位块滑槽10一侧设置有限位块14，活动杆13最下端设置有连杆16，连杆16呈“u”型结构，连杆16与连杆滑槽12上下滑动，限位块滑槽10、滑块槽11、连杆滑槽12之间相互连通，活动杆13上表面一侧设置有下转轴18，固定杆9上表面位于活动杆13正上方设置有电机21，电机21靠近下转轴18一侧设置有主动板22，主动板22上表面设置有上转轴23,上转轴23、下转轴18连接处转动连接有传动杆24。

在使用时，将芯片8放置在芯片座5的上表面，电机21接通电源，并使其通电运行，此时主动板22在电机21的带动下转动，在主动板22转动的过程中传动杆24跟随主动板22做偏心转动，同时使得传动杆24向下运动，随后活动杆13在下转轴18与传动杆24活动连接下，使得活动杆13通过滑块15在滑块槽11内部向下滑动，此时活动杆13最下端逐渐的将芯片8向芯片座5的方向按压，当主动板22转动一百八十度后，主动板22与传动杆24收尾相连，活动杆13将芯片8全部按压至芯片座5内部，从而对其快速的检测，与此同时，电机21继续转动，此时在主动板22的作用下，使得传动杆24向上运动，并通过连杆16在槽孔3内部向上推动，从而将芯片8从芯片座5内部顶起，无需工人手动按压、扣起芯片8，防止工人手指损伤，同时有效的提高测试的效率。

在其他实施例中，操作板1底部均匀安装有若干支撑腿2，对操作板1起到固定支撑的作用。

在其他实施例中，操作板1上表面一侧设置有警示灯4，警示灯4与芯片座5相互连接，当对芯片8进行测试时，性能较差的警示灯4亮起，从而便于删选。

在其他实施例中，芯片座5上表面均匀开设有若干针孔6，针孔6与芯片8下表面针脚相卡合，便于对针脚式的芯片进行测试。

在其他实施例中，连杆16远离活动杆13一端设置有托板17，托板17位于活动杆13正下方，提高连杆16与芯片8的接触面积，防止在顶起的过程中芯片8偏移。

在其他实施例中，活动杆13最下端设置有弹簧19，弹簧19最下端设置有橡胶块20，所橡胶块20与活动杆13长宽相同。

通过弹簧19减缓活动杆13对芯片8表面的冲击，从而避免活动杆13在运动的过程中造成芯片8的损伤，同时通过橡胶块20提高与芯片8上表面之间的摩擦力，同时起到一定的缓冲作用，提高保护芯片8的效果。

在其他实施例中，芯片座5上表面均匀安装有六个挡板7，六个挡板7之间与芯片8卡合。

防止在芯片8与芯片座5之间卡合的过程中，芯片8从芯片座5上表面滑落，便于芯片8与芯片座5之间进行卡合，防止偏移。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的仅为本实用新型的优选例，并不用来限制本实用新型，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。