1.一种多通道芯片性能测试设备，包括操作板(1)，其特征在于：所述操作板(1)表面一侧开设有槽孔(3)，所述槽孔(3)正上方设置有芯片座(5)，所述芯片座(5)呈槽型结构，所述芯片座(5)正上方设置有芯片(8)，所述操作板(1)靠近槽孔(3)一侧设置有固定杆(9)，所述固定杆(9)竖向开设有限位块滑槽(10)，所述固定杆(9)靠近芯片(8)一侧开设有滑块槽(11)，所述固定杆(9)远离滑块槽(11)一侧竖向开设有连杆滑槽(12)，所述固定杆(9)靠近芯片(8)一侧设置有活动杆(13)，所述活动杆(13)与滑块槽(11)互动连接有滑块(15)，所述滑块(15)靠近限位块滑槽(10)一侧设置有限位块(14)，所述活动杆(13)最下端设置有连杆(16)，所述连杆(16)呈“u”型结构，所述连杆(16)与连杆滑槽(12)上下滑动，所述限位块滑槽(10)、滑块槽(11)、连杆滑槽(12)之间相互连通，所述活动杆(13)上表面一侧设置有下转轴(18)，所述固定杆(9)上表面位于活动杆(13)正上方设置有电机(21)，所述电机(21)靠近下转轴(18)一侧设置有主动板(22)，所述主动板(22)上表面设置有上转轴(23),所述上转轴(23)、下转轴(18)连接处转动连接有传动杆(24)。
2.根据权利要求1所述的一种多通道芯片性能测试设备，其特征在于：所述操作板(1)底部均匀安装有若干支撑腿(2)。
3.根据权利要求1所述的一种多通道芯片性能测试设备，其特征在于：所述操作板(1)上表面一侧设置有警示灯(4)，所述警示灯(4)与芯片座(5)相互连接。
4.根据权利要求1所述的一种多通道芯片性能测试设备，其特征在于：所述芯片座(5)上表面均匀开设有若干针孔(6)，所述针孔(6)与芯片(8)下表面针脚相卡合。
5.根据权利要求1所述的一种多通道芯片性能测试设备，其特征在于：所述连杆(16)远离活动杆(13)一端设置有托板(17)，所述托板(17)位于活动杆(13)正下方。
6.根据权利要求1所述的一种多通道芯片性能测试设备，其特征在于：所述活动杆(13)最下端设置有弹簧(19)，所述弹簧(19)最下端设置有橡胶块(20)，所橡胶块(20)与活动杆(13)长宽相同。
7.根据权利要求1所述的一种多通道芯片性能测试设备，其特征在于：所述芯片座(5)上表面均匀安装有六个挡板(7)，六个所述挡板(7)之间与芯片(8)卡合。