一种多通道保护板综合测试电路的制作方法

1.本发明属于电路技术领域，具体地说，本发明涉及一种多通道保护板综合测试电路。


背景技术：

2.目前电芯保护板测试综合测试方式，是用dc电源与直流负载一起配合模拟电芯利用dc电源与电子负载内部的电流与电压表来读取电芯数据，使用继电器与电阻配合切换完成模拟ntc电阻测试，这种测量方式可以有效的测试电芯保护板单节过充点测试，满电保护点测试，单节过放点测试，底电保护点测试，高温保护点测试等参数测试，但这种测试方式存在以下缺点：测试的系统都是独立模块整体系统体积较高，成本较大，该系统不能测试电芯保护板的待机电流等参数，测试时需要连接线路较多测试时出错率较高。


技术实现要素：

3.为了克服现有技术的不足，本发明提供一种多通道保护板综合测试电路，测试功能齐全且体积小，成本低。
4.本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种多通道保护板综合测试电路，包括主控电路模块和多个电芯电路模块，主控电路模块和多个电芯电路模块连接；
5.主控电路模块包括第一单片机控制电路、待机电流检测输入接口、待机电流检测档位切换电路、电池检测输入接口、第一adc检测电路、第一通道选择电路和第一通讯电路；
6.所述待机电流检测输入接口与待测电芯保护板连接，所述待机电流检测档位切换电路连接于待机电流检测输入接口和第一单片机控制电路之间，用于提供多种电阻值的电路；
7.所述电池检测输入接口与电池连接；
8.所述第一adc检测电路连接于电池检测输入接口和第一单片机控制电路之间，并与待机电流检测档位切换电路连接，用于检测并转换电池检测输入接口和待机电流检测档位切换电路的电流信号，传输至第一单片机控制电路；
9.所述第一通道选择电路与第一单片机控制电路连接，用于提供多个检测通道；
10.所述第一通讯电路与第一单片机控制电路连接，用于在第一单片机控制电路和上位机之间传输信号；
11.所述第一单片机控制电路用于接收各连接电路的信号和向各连接电路发出信号；
12.所述电芯电路模块用于模拟电芯。
13.上述技术方案中所述单个电芯电路模块包括放电驱动电路、充电驱动电路、电芯输出接口、充放电控制电路、第二单片机控制电路、第二adc检测电路、第二通道选择电路、电源和第二通讯电路；
14.所述放电驱动电路与充放电控制电路连接，用于将电流输出控制在安全范围内；
15.所述充电驱动电路通过电芯输出接口与放电驱动电路连接，并与电源连接，用于
接收并存储电量；
16.所述充放电控制电路与放电驱动电路、充电驱动电路连接，用于控制放电驱动电路、充电驱动电路的放电量和充电量；
17.所述第二adc检测电路连接于放电驱动电路和第二单片机控制电路之间，用于将在放电驱动电路中采集到的电流信息发送至第二单片机控制电路；
18.所述第二通讯电路连接于第一单片机控制电路和第二单片机控制电路之间，用于在两个单片机控制电路之间进行信号传输；
19.所述第二通道选择电路与单片机控制电路连接，用于提供多个检测通道；
20.所述第二单片机控制电路用于接收各连接电路的信号和向各连接电路发出信号。
21.主控电路模块还包括模拟电阻电路、ntc电阻输出接口、低电阻模拟电路和电阻档位切换电路；
22.所述模拟电阻电路与第一单片机控制电路连接，用于接收单片机的信号调节成对应的电阻值；
23.所述ntc电阻输出接口与模拟电阻电路连接，用于和待测电芯保护板连接；
24.所述低电阻模拟电路与电阻档位切换电路连接，用于提供低电阻值的电路；
25.所述电阻档位切换电路连接于低电阻模拟电路和第一单片机控制电路之间，并与模拟电阻电路连接，用于根据第一单片机控制电路的指令，在模拟电阻电路和低电阻模拟电路之间切换。
26.上述技术方案中所述模拟电阻电路包括数字电位器u13、数字电位器u15和数字电位器u16，每个数字电位器里有两个可调电阻，三个数字电位器的cs引脚和sck引脚与第一单片机控制电路连接，数字电位器u13的数据溢出引脚shdn与数字电位器u15的输入引脚si连接，构成级联，数字电位器u15的数据溢出引脚shdn与数字电位器u16的输入引脚si连接，构成级联；数字电位器u13的si引脚与第一单片机控制电路连接；数字电位器u13的fb1引脚和fw1引脚连接构成模拟电阻的一端，u13的pa1引脚和pa2引脚连接，u13的pw2引脚、pb2引脚和u15的pw2引脚、pb2引脚连接，u15的pa2引脚和pa1引脚连接，u15的pb1引脚、pw1引脚和u16的pb1引脚、pw1引脚连接，u16的pa1引脚和pa2引脚连接，u16的pb2引脚和pw2引脚连接构成模拟电阻的另一端。
27.上述技术方案中所述低电阻模拟电路和电阻档位切换电路包括数字电位器u17、继电器开关jk1、光耦u17和三极管q9；所述u14的cs引脚、sck引脚和si引脚与第一单片机控制电路连接，jk1有两组开关，u14的pb引脚与jk1的第一组公共端引脚连接，u14的pb引脚和pw引脚与jk1的第二组公共端引脚连接，jk1的第一组常开引脚和第二组的常开引脚连接至ntc输出接口；光耦u17和第一单片机控制电路连接并和三极管q9连接，流过三极管q9的电流与jk1的线圈感应。
28.上述技术方案中所述第一通道选择电路包括拨码开关s1和多个电阻，多个电阻分别与拨码开关s1的各个引脚连接。
29.上述技术方案中所述的第一通讯电路以rs485协议规约将数字信号上传至上位机。
30.上述技术方案中所述放电驱动电路包括电源接口、熔断器fu1_1、二极管d2_1、二极管d3_1、电容ct4_1、电容c5_1、三极管q1_1、三极管q2_1、电阻rc1_1、电阻r3_1、电阻r4_
1、电阻r6_1；
31.所述电源接口与三极管q1_1发射极连接，熔断器fu1_1连接于电源接口和三极管q1_1之间，二极管d3_1和电容ct4_1并联于熔断器fu1_1和三极管q1_1之间，二极管d3_1负极与电源接口正级连接，二极管d3_1正级与电源接口负极连接，电阻r3_1将三级管q1_1基极连接至电源接口正级，三极管q1_1的基极通过r4_1连接三极管q2_1的集电极，三极管q2_1的发射极连接至电源接口的负极，三极管q2_1的基极通过电阻r6_1连接放电控制电路，二极管d2_1、电阻rc1_1与三极管q1_1串联，电容c5_1并联于二极管d2_1和电阻rc1_1之间，电阻rc1_1与输出接口连接。
32.本发明的有益效果是：本发明提供的多通道保护板综合测试电路不仅有现有测试电路的功能，还增加了待机电流测试功能，待机电流可以测量到微安级别的微小电流，测试更加全面，利用数字电位器的方式来模拟ntc电阻测试，大大缩小了高温测试电路的体积大小，我们利用精简的电路设计了多串电芯电路模块加一个主控电路模块集成在一块线路板上，外围接线减少，整体体积变小，利用拨码开关来区分每个模块的地址的方式，可以实现多通道多电芯同时测量，使用简单元件电路简约小巧，成本较小，测试所有数据可以发送给上位机，上位机会生产报表并记录测试结果，让测试更加专业，本发明中设计了过流保护和过压保护功能，测试更加安全，发明拥有高可靠性，稳定性和精度高等特点，本发明可以测试移动电源，可穿戴设备，各种带有电芯保护板的数码产品。
附图说明
33.图1为本发明一种多通道保护板综合测试电路的原理框图。
34.图2为本发明一种多通道保护板综合测试电路中ntc电阻输出接口与电池检测输入接口电路的具体实施例图。
35.图3为本发明一种多通道保护板综合测试电路中模拟电阻电路的具体实施例图。
36.图4为本发明一种多通道保护板综合测试电路中低电阻模拟电路和电阻档位切换电路的具体实施例图。
37.图5为本发明一种多通道保护板综合测试电路中待机电流输入接口和待机电流检测档位切换电路的具体实施例图。
38.图6为本发明一种多通道保护板综合测试电路中第一adc检测电路的具体实施例图。
39.图7为本发明一种多通道保护板综合测试电路中第一单片机控制电路和第一通道选择电路的具体实施例图。
40.图8为本发明一种多通道保护板综合测试电路中第一通讯电路的具体实施例图。
41.图9为本发明一种多通道保护板综合测试电路中放电驱动电路的具体实施例图。
42.图10为本发明一种多通道保护板综合测试电路中充电驱动电路和充放电控制电路的具体实施例图。
43.图11为本发明一种多通道保护板综合测试电路中第二adc检测电路的具体实施例图。
44.图12为本发明一种多通道保护板综合测试电路中第二单片机控制电路和第二通道选择电路的具体实施例图。
45.图13为本发明一种多通道保护板综合测试电路中第二通讯电路的具体实施例图。
具体实施方式
46.下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
47.以下将结合实施例和附图对本发明的构思、具体结构及产生的技术效果进行清楚、完整地描述，以充分地理解本发明的目的、特征和效果。显然，所描述的实施例只是本发明的一部分实施例，而不是全部实施例，基于本发明的实施例，本领域的技术人员在不付出创造性劳动的前提下所获得的其他实施例，均属于本发明保护的范围。另外，专利中涉及到的所有联接/连接关系，并非单指构件直接相接，而是指可根据具体实施情况，通过添加或减少联接辅件，来组成更优的联接结构。本发明创造中的各个技术特征，在不互相矛盾冲突的前提下可以交互组合。
48.参照图1，如图所示，本发明提供了一种多通道保护板综合测试电路，包括主控电路模块1和4个电芯电路模块2，主控电路模块1和4个电芯电路模块2连接；主控电路模块1包括第一单片机控制电路3、ntc电阻输出接口5、模拟电阻电路4、低电阻模拟电路7、电阻档位切换电路6、待机电流检测输入接口9、待机电流检测档位切换电路8、电池检测输入接口11、第一adc检测电路10、第一通道选择电路13和第一通讯电路12；单个电芯电路模块2包括第二单片机控制电路15、充放电控制电路19、放电驱动电路20、充电驱动电路22、电芯输出接口21、第二adc检测电路16、第二通道选择电路18和第二通讯电路17；所述模拟电阻电路4与第一单片机控制电路3连接，用于接收单片机的信号调节成对应的电阻值；所述ntc电阻输出接口5与模拟电阻电路4连接，用于和待测电芯保护板连接；所述低电阻模拟电路7与电阻档位切换电路6连接，用于提供低电阻值的电路；
49.所述电阻档位切换电路6连接于低电阻模拟电路7和第一单片机控制电路3之间，并与模拟电阻电路4连接，用于根据第一单片机控制电路3的指令，在模拟电阻电路4和低电阻模拟电路7之间切换；所述待机电流检测输入接口9与待测电芯保护板连接，所述待机电流检测档位切换电路8连接于待机电流检测输入接口9和第一单片机控制电路3之间，用于提供多种电阻值的电路；所述电池检测输入接口11与电池连接；所述第一adc检测电路10连接于电池检测输入接口11和第一单片机控制电路3之间，并与待机电流检测档位切换电路8连接，用于检测并转换电池检测输入接口11和待机电流检测档位切换电路8的电流信号，传输至第一单片机控制电路3；所述第一通道选择电路13与第一单片机控制电路3连接，用于提供4个检测通道；所述第一通讯电路12与第一单片机控制电路3连接，用于在第一单片机控制电路3和上位机之间传输信号，第一通讯电路12以rs485协议规约将数字信号上传至上位机；所述第一单片机控制电路3用于接收各连接电路的信号和向各连接电路发出信号；所述单个电芯电路模块2包括放电驱动电路20、充电驱动电路22、电芯输出接口21、充放电控制电路19、第二单片机控制电路15、第二adc检测电路16、第二通道选择电路18、电源23和第二通讯电路17；所述放电驱动电路20与充放电控制电路19连接，用于将电流输出控制在安全范围内；所述充电驱动电路22通过电芯输出接口21与放电驱动电路20连接，并与电源23连接，用于接收并存储电量；所述充放电控制电路19与放电驱动电路20、充电驱动电路22连接，用于控制放电驱动电路20、充电驱动电路22的放电量和充电量；所述第二adc检测电路16连接于放电驱动电路20和第二单片机控制电路15之间，用于将在放电驱动电路20中采集
到的电流信息发送至第二单片机控制电路15；所述第二通讯电路17连接于第一单片机控制电路3和第二单片机控制电路15之间，用于在两个单片机控制电路之间进行信号传输；所述第二通道选择电路18与第二单片机控制电路15连接，用于提供4个检测通道；所述第二单片机控制电路15用于接收各连接电路的信号和向各连接电路发出信号。
50.对于ntc电阻输出接口5与电池检测输入接口11电路，如图2所示，本发明提供了一具体实施例，内部模拟电阻电路4经过p3的ntc-引脚和adc引脚连接到需要测试的电芯保护板的ntc电阻接口处，进行模拟ntc电阻值变化，从而模拟环境温度变化情况，pack电池的正极检测信号从p3的1脚输入，经过r50与r54等比例分压电路后送入到第一adc检测电路10进行检测，检测端为r54两端。
51.对于模拟电阻电路4，如图3所示，本发明提供了一具体实施例，模拟电阻电路4包括数字电位器u13、数字电位器u15和数字电位器u16，每个数字电位器里有两个可调电阻，三个数字电位器的cs引脚和sck引脚与第一单片机控制电路3连接，数字电位器u13的数据溢出引脚shdn与数字电位器u15的输入引脚si连接，构成级联，数字电位器u15的数据溢出引脚shdn与数字电位器u16的输入引脚si连接，构成级联；数字电位器u13的si引脚与第一单片机控制电路3连接；数字电位器u13的fb1引脚和fw1引脚连接构成模拟电阻的一端，u13的pa1引脚和pa2引脚连接，u13的pw2引脚、pb2引脚和u15的pw2引脚、pb2引脚连接，u15的pa2引脚和pa1引脚连接，u15的pb1引脚、pw1引脚和u16的pb1引脚、pw1引脚连接，u16的pa1引脚和pa2引脚连接，u16的pb2引脚和pw2引脚连接构成模拟电阻的另一端。具体地说，u13与u15和u16是数字电位器芯片，每块芯片内部有两个可调电阻，三片芯片的cs引脚和sck引脚由第一单片机控制电路3直接控制，u13的shdn引脚即数据溢出输出脚连接到u15的si引脚输入输入脚，构成级联，u15的shdn引脚连接u16的si引脚构成级联，即三片ic是数据串联的连接方式，数据的总输入在u13的si引脚直接与第一单片机控制电路3连接，由单片机直接输入数据给三片芯片，单片机可以通过这种方式直接控制3片芯片内部共六个可调电阻的阻值，u13的pb1引脚和pw1引脚连接在一起作为模拟电阻的一端，其pa1引脚与pa2引脚连接，与u13片内第2个可变电阻串连，u13的pw2引脚、pb2引脚与u15的pw2引脚、pb2引脚连接，与u15第2个可变电阻串联，u15的pa2引脚与u15的pa1脚，即u15片内的第2个与第1个可变电阻串联连接，u15的pb1引脚、pw1引脚连接u16的pb1引脚、pw1引脚，即u15片内的第一个可变电阻与u16片内的第一个可变电阻串联连接，u16的第7脚连接u16的第8脚，即u16片内的第一个与第二个可变电阻串联连接，u16的pa1引脚与pa2引脚连接在一起作为模拟电阻的另一端，以上6个模拟电阻均是串联连接，每一个串电阻都可以被单片机单独设置，r51，r58，r55是选择四串和六串接入到ntc电阻输出接口5(即p3的ntc-引脚、adc1引脚)来模拟ntc(温度)电阻变化。
52.对于低电阻模拟电路7和电阻档位切换电路6，如图4所示，本发明提供了一具体实施例，低电阻模拟电路7和电阻档位切换电路6包括数字电位器u17、继电器开关jk1、光耦u17和三极管q9；所述u14的cs引脚、sck引脚和si引脚与第一单片机控制电路3连接，jk1有两组开关，u14的pb引脚与jk1的第一组公共端引脚连接，u14的pb引脚和pw引脚与jk1的第二组公共端引脚连接，jk1的第一组常开引脚和第二组的常开引脚连接至ntc输出接口；光耦u17和第一单片机控制电路3连接并和三极管q9连接，流过三极管q9的电流与jk1的线圈感应。
53.具体的说，u14是数字电位器，内部的可变电阻的阻值较小，适用于模拟低电阻值的模拟电阻，u14的第1脚和第2脚与第3脚直接由第一单片机控制电路3直接控制，单片机可以通过这三个引脚来设置芯片内部的可变电阻阻值，u14的第7脚连接jk1的第一组公共端引脚，u14的第5脚与第6脚连接jk1的第二组公共端引脚，jk1的第一组常开引脚与jk1的第二组常开引脚并联到ntc电阻输出接口5，当需要低电阻时，单片机可以输出高电平给u17光耦的第2脚，u17的第3脚与第4脚不导通，r61将u17的第3脚电位拉高，通过r64导通q9，q9导通与jk1的线圈形成回路，jk1线圈得电吸合，jk1的第一组和第2组常开开关闭合，将u14的片内电阻并联到ntc电阻输出接口5，即前文中p3的3，4脚。
54.对于待机电流输入接口和待机电流检测档位切换电路8，如图5所示，本发明提供了一具体实施例，待机电流由p2的第一脚输入，经过内部待机电流检测档位切换电路8和采样电阻后由p2的第2脚输出，待机电流由p2接口引脚1到jk4的常闭触点经过内部开关从公共端输出到p2接口第2脚上，这种状态是不检测状态，当需要检测待机电流时，单片机输出高电平给u20使得u20输出端不导通，但输出端的电压被r75拉高，则通过r77导通q11，与jk4的线圈形成回路吸合，断开常闭引脚，待机电流则通过f1流向r67与c53与r66与c52的一端并且连接到第一adc检测电路10的r52，同理单片机可以通过控制u18来控制jk2的吸合与断开，通过jk2的切换可以选择是通过r67或者是r66其中一个采样电阻进行电流采样，实现档位切换的功能，jk2的公共脚连接到第一adc检测电路10的r56的一端进行检测，随后待机电流则通过jk3的常开端，这里在测量待机电流时需要单片机控制u24来吸合jk3，使得静态电流可以通过jk3的内部开关从jk3的公共脚回到p2的2脚接口上。
55.对于第一adc检测电路10，如图6所示，本发明提供了一具体实施例，待机电流的从r52和r56输入，经过c43与c47与c50滤波后输入给adc芯片的第6脚和第7脚通道2进行检测，经过分压后的pack电池输入信号经过r53与r57输入，经c44与c48与c51滤波后送入给adc芯片的第7脚和第8脚进行检测。
56.对于第一单片机控制电路3和第一通道选择电路13，如图7所示，本发明提供了一具体实施例，第一通道选择电路包括拨码开关s1和4个电阻，4个电阻分别与拨码开关s1的各个引脚连接，通过s1拨码开关拨码来区分每个模块地址，并和电阻r88-r94配合给单片机送入电平信号，让单片机读取通道号，第一单片机控制电路3中单片机在这里做为控制核心，不仅要控制以上介绍的所有电路，并且要通过串口2与4个电芯板通讯，读取4个电芯电路的电压电流数据和设置4个电芯电路的电压与过充点的值，并且将数据内部进行整合，在上位机发送请求读取命令后统一发送给上位机，上位机发送设置命令后，由主控板单片机做统一调配。
57.对于第一通讯电路12，如图8所示，本发明提供了一具体实施例，单片机通过发送输入通过q14发射极，送入到光耦u23进行隔离发送到u23的6脚输出控制q13的基极，输出信号再经q13的集电极输出给u21的2脚与3脚送入到u21中经过电平信号装换，输出转换成ab差分信号发送给pc端上位机软件，上位机软件发送数据时通过u7将ab差分信号转换为ttl信号，从u21的1脚输出给u19的3脚信号经过u19隔离发送到u19的6脚输出给单片机接收。
58.对于放电驱动电路20，如图9所示，本发明提供了一具体实施例，所述放电驱动电路包括电源接口、熔断器fu1_1、二极管d2_1、二极管d3_1、电容ct4_1、电容c5_1、三极管q1_1、三极管q2_1、电阻rc1_1、电阻r3_1、电阻r4_1、电阻r6_1；
59.所述电源接口与三极管q1_1发射极连接，熔断器fu1_1连接于电源接口和三极管q1_1之间，二极管d3_1和电容ct4_1并联于熔断器fu1_1和三极管q1_1之间，二极管d3_1负极与电源接口正级连接，二极管d3_1正级与电源接口负极连接，电阻r3_1将三级管q1_1基极连接至电源接口正级，三极管q1_1的基极通过r4_1连接三极管q2_1的集电极，三极管q2_1的发射极连接至电源接口的负极，三极管q2_1的基极通过电阻r6_1连接放电控制电路，二极管d2_1、电阻rc1_1与三极管q1_1串联，电容c5_1并联于二极管d2_1和电阻rc1_1之间，电阻rc1_1与输出接口连接。
60.从in1_1输入直流电源，经过fu1_1保险，d3_1并联电源负极的作用是防反接保护，经过ct1_1，ct2_1，ct4_1电容滤波，再经过l1_1电感进行滤波，滤波后的电压从q1_1的发射极输入，r3_1将q1_1基极连接电源正极，q1_1的基极通过r4_1连接q2_1的集电极，q2_1的发射极连接电源负极，q2_1的基极通过r6_1连接充放电控制电路19，充放电控制电路19输出控制q2_1基极，可以控制q2_1集电极与发射极之间的导通量，间接控制q1_1发射极与集电极之间的导通量，从而控制q1_1集电极输出的电压大小，经过d2_1，d2_1的作用是防止电流倒灌入放电回路，再经过rc1_1电流采样电阻之后输出给out1_1接口，rc1_1两端连接第二adc检测电路16采样电流参数。
61.对于充电驱动电路22和充放电控制电路19，如图10所示，充电回路是被测的电芯保护板通过out1_1接口，将电压输入进来，但电压要高于放电驱动电路20输出的电压，才能启动充电回路，否则则是关闭状态，经过rc1_1进行充电电流采样，再经过d5_1接入到q5_1的集电极，q5_1的发射极连接到电源负极，在这里q5_1起到吸收充电电流的作用，q4_1的发射极控制q5_1的基极，q4_1的基极连接r13_1连接充放电控制电路19，这里充放电控制电路19输出信号越大，q4_1和q5_1的导通量就越大，吸收的电流就越大，单片机输出pwm信号设置放电回路输出电压，pwm信号经过r10_1，r11_1，r12_1，c8_1，c9_1，c12_1组成的π型滤波电路，将pwm的矩形波信号整形成正弦波信号，正弦波信号输入到u2_1a的第3脚，u2_1a的输出脚1脚连接到2脚反相输入端，构成电压跟随器电路，所以第3脚输入的信号直接跟随至1脚输出，输出信号分两路，一路通过r9_1输入到u2_1b的第6脚反相输入端，r21_1,c16_1与r27_1构成输出电压采样电路(r25_1信号连接到第二adc检测电路16),输出采样电压通过连接到r27_1一端的r19_1连接到u2_1b的5脚同相输入端，与6脚反相输入端的输入的正弦波信号进行比较，输出控制信号控制充电驱动电路22。另一路经过r16_1与r20_1限幅后，通过r22_1输入到u4_1a的3脚同相输入端，u4_1a的1脚输出脚经过放电驱动电路20构成负馈电路，再经过r21_1,c16_1与r27_1构成输出电压采样电路，将输出电压反馈到u4_1a的第2脚反相输入端，进行调制，从1脚输出调制后的信号，控制放电驱动电路20输出准确的电压。以上电路构成模拟电芯的核心电路，可以模拟电芯的整个充放电的过程。
62.对于第二adc检测电路16，如图11所示，本发明提供了一具体实施例，r14_1和r17_1连接电流采样电阻rc1_1的两端，采样信号经c6_1与c10_1和c14_1进行滤波之后，输入到adc芯片的通道2进行转换，输出电压采样信号连接到r15_1，经c7_1与c11_1和c15_1进行滤波之后，输入到adc芯片的通道1进行转换，单片机可以通过spi接口协议读取adc芯片转换后的数据。
63.对于第二单片机控制电路15和第二通道选择电路18，如图12所示，本发明提供了一具体实施例，r33_1，r34_1，r37_1，r38_1，r40_1，r41_1，组成第二通道选择电路18，通过
其中通过搭配不同电阻，来给单片机引脚输出不同的电平信号，来区别不同的通道，其连接到单片机引脚，u6_1是单片机其主要作用是通过第20脚输出pwm信号设置模拟电芯电压，和检测通道号，控制第二通讯电路17与主控电路模块1通讯，通过读取adc芯片，读取转换后的充放电电流电压数据，实现过充，过放测试并记录过充点和过放点，过流保护等。
64.对于第二通讯电路17，如图13所示，本发明提供了一具体实施例，u7_1和u8_1是光耦，在此处作用是隔离通讯的作用，增加电路的抗干扰性,当电芯电路模块2要向主控电路模块1发送数据时，电芯电路模块2的单片机芯片的第16脚输出信号通过u8_1的一脚，与r36_1构成回路u8_1内部通过光信号传输导通或截止u8_1的3，4脚信号经过r35上拉之后，与主控电路模块1单片机的第4脚相连接来接收信号，当主控电路模块1要向电芯电路模块2发送数据时，由主控电路模块1的单片机第5脚发送数据输入u7_1的第2脚经过内部隔离将数据传输到u7_1的3脚输出给电芯电路模块2单片机的第15脚，以此来接收来自主控电路模块1发送过来的数据。
65.以上是对本发明的较佳实施进行了具体说明，但本发明创造并不限于所述实施例，熟悉本领域的技术人员在不违背本发明精神的前提下还可做出种种的等同变形或替换，这些等同的变形或替换均包含在本技术权利要求所限定的范围内。