技术特征：
1.一种多通道保护板综合测试电路，其特征在于：包括主控电路模块和多个电芯电路模块，主控电路模块和多个电芯电路模块连接；主控电路模块包括第一单片机控制电路、待机电流检测输入接口、待机电流检测档位切换电路、电池检测输入接口、第一adc检测电路、第一通道选择电路和第一通讯电路；所述待机电流检测输入接口与待测电芯保护板连接，所述待机电流检测档位切换电路连接于待机电流检测输入接口和第一单片机控制电路之间，用于提供多种电阻值的电路；所述电池检测输入接口与电池连接；所述第一adc检测电路连接于电池检测输入接口和第一单片机控制电路之间，并与待机电流检测档位切换电路连接，用于检测并转换电池检测输入接口和待机电流检测档位切换电路的电流信号，传输至第一单片机控制电路；所述第一通道选择电路与第一单片机控制电路连接，用于提供多个检测通道；所述第一通讯电路与第一单片机控制电路连接，用于在第一单片机控制电路和上位机之间传输信号；所述第一单片机控制电路用于接收各连接电路的信号和向各连接电路发出信号；所述电芯电路模块用于模拟电芯。2.根据权利要求1所述的一种多通道保护板综合测试电路，其特征在于：所述单个电芯电路模块包括放电驱动电路、充电驱动电路、电芯输出接口、充放电控制电路、第二单片机控制电路、第二adc检测电路、第二通道选择电路、电源和第二通讯电路；所述放电驱动电路与充放电控制电路连接，用于将电流输出控制在安全范围内；所述充电驱动电路通过电芯输出接口与放电驱动电路连接，并与电源连接，用于接收并存储电量；所述充放电控制电路与放电驱动电路、充电驱动电路连接，用于控制放电驱动电路、充电驱动电路的放电量和充电量；所述第二adc检测电路连接于放电驱动电路和第二单片机控制电路之间，用于将在放电驱动电路中采集到的电流信息发送至第二单片机控制电路；所述第二通讯电路连接于第一单片机控制电路和第二单片机控制电路之间，用于在两个单片机控制电路之间进行信号传输；所述第二通道选择电路与单片机控制电路连接，用于提供多个检测通道；所述第二单片机控制电路用于接收各连接电路的信号和向各连接电路发出信号。3.根据权利要求2所述的一种多通道保护板综合测试电路，其特征在于：主控电路模块还包括模拟电阻电路、ntc电阻输出接口、低电阻模拟电路和电阻档位切换电路；所述模拟电阻电路与第一单片机控制电路连接，用于接收单片机的信号调节成对应的电阻值；所述ntc电阻输出接口与模拟电阻电路连接，用于和待测电芯保护板连接；所述低电阻模拟电路与电阻档位切换电路连接，用于提供低电阻值的电路；所述电阻档位切换电路连接于低电阻模拟电路和第一单片机控制电路之间，并与模拟电阻电路连接，用于根据第一单片机控制电路的指令，在模拟电阻电路和低电阻模拟电路之间切换。4.根据权利要求3所述的一种多通道保护板综合测试电路，其特征在于：所述模拟电阻
电路包括数字电位器u13、数字电位器u15和数字电位器u16，每个数字电位器里有两个可调电阻，三个数字电位器的cs引脚和sck引脚与第一单片机控制电路连接，数字电位器u13的数据溢出引脚shdn与数字电位器u15的输入引脚s i连接，构成级联，数字电位器u15的数据溢出引脚shdn与数字电位器u16的输入引脚si连接，构成级联；数字电位器u13的si引脚与第一单片机控制电路连接；数字电位器u13的fb1引脚和fw1引脚连接构成模拟电阻的一端，u13的pa1引脚和pa2引脚连接，u13的pw2引脚、pb2引脚和u15的pw2引脚、pb2引脚连接，u15的pa2引脚和pa1引脚连接，u15的pb1引脚、pw1引脚和u16的pb1引脚、pw1引脚连接，u16的pa1引脚和pa2引脚连接，u16的pb2引脚和pw2引脚连接构成模拟电阻的另一端。5.根据权利要求3所述的一种多通道保护板综合测试电路，其特征在于：所述低电阻模拟电路和电阻档位切换电路包括数字电位器u17、继电器开关jk1、光耦u17和三极管q9；所述u14的cs引脚、sck引脚和s i引脚与第一单片机控制电路连接，jk1有两组开关，u14的pb引脚与jk1的第一组公共端引脚连接，u14的pb引脚和pw引脚与jk1的第二组公共端引脚连接，jk1的第一组常开引脚和第二组的常开引脚连接至ntc输出接口；光耦u17和第一单片机控制电路连接并和三极管q9连接，流过三极管q9的电流与jk1的线圈感应。6.根据权利要求1所述的一种多通道保护板综合测试电路，其特征在于：所述第一通道选择电路包括拨码开关s1和多个电阻，多个电阻分别与拨码开关s1的各个引脚连接。7.根据权利要求1所述的一种多通道保护板综合测试电路，其特征在于：所述的第一通讯电路以rs485协议规约将数字信号上传至上位机。8.根据权利要求2所述的一种多通道保护板综合测试电路，其特征在于：所述放电驱动电路包括电源接口、熔断器fu1_1、二极管d2_1、二极管d3_1、电容ct4_1、电容c5_1、三极管q1_1、三极管q2_1、电阻rc1_1、电阻r3_1、电阻r4_1、电阻r6_1；所述电源接口与三极管q1_1发射极连接，熔断器fu1_1连接于电源接口和三极管q1_1之间，二极管d3_1和电容ct4_1并联于熔断器fu1_1和三极管q1_1之间，二极管d3_1负极与电源接口正级连接，二极管d3_1正级与电源接口负极连接，电阻r3_1将三级管q1_1基极连接至电源接口正级，三极管q1_1的基极通过r4_1连接三极管q2_1的集电极，三极管q2_1的发射极连接至电源接口的负极，三极管q2_1的基极通过电阻r6_1连接放电控制电路，二极管d2_1、电阻rc1_1与三极管q1_1串联，电容c5_1并联于二极管d2_1和电阻rc1_1之间，电阻rc1_1与输出接口连接。
技术总结
本发明公开了一种多通道保护板综合测试电路，具备了单节过充点测试，满电保护点测试，单节过放点测试，底电保护点测试，高温保护点测试等参数测试功能，待机电流测试功能，待机电流可以测量到微安级别的微小电流，测试更加全面，利用数字电位器的方式来模拟NTC电阻测试，大大缩小了高温测试电路的体积大小，我们利用精简的电路设计了多串电芯电路模块加1主控电路模块集成在一块线路板上，外围接线减少，整体体积变小，利用拨码开关来区分每个模块的地址的方式，可以实现多通道多电芯同时测量，使用简单元件电路简约小巧，成本较小，测试所有数据可以发送给上位机，上位机会生产报表并记录测试结果。并记录测试结果。并记录测试结果。
技术研发人员：江学文 郑楚滨 巫伟升
受保护的技术使用者：深圳市安拓森仪器仪表有限公司
技术研发日：2021.11.01
技术公布日：2022/3/15