一种IC芯片脚空焊用测试放大器的制作方法

一种ic芯片脚空焊用测试放大器
技术领域
1.本实用新型涉及放大器，具体的说是涉及一种ic芯片脚空焊用测试放大器。


背景技术：

2.在一种ict测试治具上，应用到一种ic脚空焊测试用的vtep放大器配件，vtep放大器配件上设置有一种主控芯片。
3.上述的主控芯片价格高昂且升级频繁，配套的硬件和软件均需要更新使用，如果不升级，会造成设备的一些功能无法使用。
4.如图1
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2所示，现有技术中的主控芯片电路结构如下：
5.芯片u1的型号为p87lpc761bdh，芯片u1的vdd
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12脚和芯片u1的p1.2脚之间连接有电阻r2且该电阻r2的阻值为1k，所述芯片u1的vdd
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12脚接入电源vcc和电容c1，所述电容c1的另一端接地，所述电容c1的电容大小为10nf。
6.所述芯片u1的txd
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10脚和rxd
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10脚互接，其vss脚接地。
7.所述芯片u1的rst
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3脚接入接口nc2的2脚，其cin2b
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16脚、cin1a
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14脚互接并连接至所述接口nc2的3脚，所述芯片u1的cmpref
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13脚连接至所述接口nc2的4脚。
8.所述接口nc2的1脚连接一放大器u2的1脚；所述放大器u2的型号为opa340na。
9.所述放大器u2的2脚接地，其2脚还和所述放大器u2的1脚之间连接有电阻r1，所述电阻r1的阻值为464欧，所述放大器u2的1脚和所述放大器u2的负极端之间连接有串联的电阻r4和电阻r5，所述电阻r4和电阻r5的阻值大小均为10m。所述放大器u2的正极端连接有电阻r3、二极管d1的正极，所述电阻r3的阻值为10k，其另一端接入电源vcc，所述二极管d1的负极连接二极管d3的正极端，所述二极管d3的负极端接地，所述二极管d3可取消，使所述二极管d1的负极接地。所述放大器u2的负极端分别连接至二极管d2的正极、二极管d4的负极和接口nc1的j2脚，所述二极管d2的负极接入电源vcc，所述二极管d4的正极端接地。所述接口nc1的j3脚接入电源vcc，其j1脚和j4脚互接并接地。
10.因此，针对上述的主控芯片升级而无法使用设备的问题，需要设计一改进型电路来解决上述技术问题。


技术实现要素：

11.针对现有技术中的不足，本实用新型要解决的技术问题在于提供了一种ic芯片脚空焊用测试放大器。
12.为解决上述技术问题，本实用新型通过以下方案来实现：本实用新型的一种ic芯片脚空焊用测试放大器，包括：
13.放大器u2，具有5个引脚，所述放大器u2的5脚接入电源vcc；
14.电阻r4和电阻r5，所述电阻r4和电阻r5串联，其串联后的两端电路分别连接至所述放大器u2的负引极端和所述放大器u2的1脚；
15.电阻r1，两端分别连接至所述放大器u2的1脚和所述放大器u2的2脚，所述放大器
u2的2脚接地；
16.二极管d2和二极管d4，所述二极管d2和二极管d4串联且所述二极管d2的负极连接所述二极管d4的负极，所述二极管d2的负极接入电源vcc，所述二极管d4的正极接地，所述二极管d2和所述二极管d4之间的电路节点上连接至所述放大器u2的负极端；
17.二极管d1和二极管d3，所述二极管d1和所述二极管d3串联且所述二极管d1的负极连接所述二极管d3的正极，所述二极管d3的负极端接地；
18.所述测试放大器还包括至少一个可更换电阻，该可更换电阻的一端接至电源vcc和电容c1的一端，另一端接至所述放大器u2的正极端，所述电容c1的另一端接地
19.当可更换电阻为一个时，所述可更换电阻的阻值为150欧姆
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250欧姆；
20.当可更换电阻为多个电阻并联或多个电阻串联或多个电阻串联和并联混合连接时，所述多个电阻的总阻值为150欧姆
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250欧姆。
21.进一步的，当可更换电阻为一个时，所述可更换电阻为电阻r3，该电阻r3的阻值178欧姆。
22.进一步的，当可更换电阻为多个电阻并联时，所述多个电阻包括电阻r21和电阻r3，所述电阻r3的阻值为10k，所述电阻r21的阻值为182欧姆。
23.进一步的，所述放大器u2的型号为opa340na。
24.相对于现有技术，本实用新型的有益效果是：本实用新型的测试放大器将现有技术中的芯片u1取消掉，采用在放大器u2的正极方向和电源vcc之间连接电阻，使电阻的阻值在设定范围内。此时，改进的电路和现有技术中的电路效果一样。保证了原电路的电压放大倍数不变，保证了原来的电路的电流在承受范围内。由于本实用新型的取消了芯片u1的电路，极大的减少了电路板的成本。
附图说明
25.图1为现有技术中测试放大器的局部电路ⅰ图。
26.图2为现有技术中测试放大器的局部电路ⅱ图。
27.图3为本实用新型测试放大器的改进电路图。
具体实施方式
28.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，使本实用新型的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本实用新型的保护范围做出更为清楚明确的界定。显然，本实用新型所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
29.在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
30.在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，还可以是两个元件内部的连通，可以是无线连接，也可以是有线连接。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
31.此外，下面所描述的本实用新型不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。
32.实施例1：本实用新型的具体结构如下：
33.请参照附图3，本实用新型的一种ic芯片脚空焊用测试放大器，包括：
34.放大器u2，具有5个引脚，所述放大器u2的5脚接入电源vcc；
35.电阻r4和电阻r5，所述电阻r4和电阻r5串联，其串联后的两端电路分别连接至所述放大器u2的负引极端和所述放大器u2的1脚；
36.电阻r1，两端分别连接至所述放大器u2的1脚和所述放大器u2的2脚，所述放大器u2的2脚接地；
37.二极管d2和二极管d4，所述二极管d2和二极管d4串联且所述二极管d2的负极连接所述二极管d4的负极，所述二极管d2的负极接入电源vcc，所述二极管d4的正极接地，所述二极管d2和所述二极管d4之间的电路节点上连接至所述放大器u2的负极端；
38.二极管d1和二极管d3，所述二极管d1和所述二极管d3串联且所述二极管d1的负极连接所述二极管d3的正极，所述二极管d3的负极端接地；
39.所述测试放大器还包括至少一个可更换电阻，该可更换电阻的一端接至电源vcc和电容c1的一端，另一端接至所述放大器u2的正极端，所述电容c1的另一端接地
40.当可更换电阻为一个时，所述可更换电阻的阻值为150欧姆
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250欧姆；
41.当可更换电阻为多个电阻并联或多个电阻串联或多个电阻串联和并联混合连接时，所述多个电阻的总阻值为150欧姆
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250欧姆。
42.本实施例的一种优选技术方案：当可更换电阻为一个时，所述可更换电阻为电阻r3，该电阻r3的阻值178欧姆。
43.本实施例的一种优选技术方案：当可更换电阻为多个电阻并联时，所述多个电阻包括电阻r21和电阻r3，所述电阻r3的阻值为10k，所述电阻r21的阻值为182欧姆；
44.由此可算出，电阻r3和电阻r21之间的总电阻的阻值大小：
45.r总＝(r3
×
r21)/(r3+r21)＝(10000
×
182)/(10000+182)＝178.75欧姆。
46.本实施例的一种优选技术方案：所述放大器u2的型号为opa340na。
47.实施例2：
48.放大器u2的负极端仍然是连接接口nc1的j2脚，与传统的nc1接口一样，nc1接口的j3脚接入电源vcc，其j1脚和j4脚互接并接地。
49.综上所述，本实用新型的测试放大器将现有技术中的芯片u1取消掉，采用在放大器u2的正极方向和电源vcc之间连接电阻，使电阻的阻值在设定范围内。电阻的阻值范围是150欧姆
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250欧姆之间，典型电阻值取用178欧姆。
50.此时，改进的电路和现有技术中的电路效果一样。保证了原电路的电压放大倍数不变，保证了原来的电路的电流在承受范围内。由于本实用新型的取消了芯片u1的电路，极
大的减少了电路板的成本。
51.以上所述仅为本实用新型的优选实施方式，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其它相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。