技术特征：
1.图示仪手动批量测试工装，包括图示仪和检测台，图示仪具有测试线a和测试线b，其特征在于：所述检测台上设有探针板以及用于驱动探针板升降的驱动机构，所述探针板朝向检测台的一侧固定安装有若干测试探针，测试探针均与所述图示仪的测试线a连接，所述图示仪的测试线b连接有测试笔；所述检测台上还设有放置板，放置板上开设有用于放置装有产品的料管的放置槽，所述料管的顶壁开设有暴露产品散热片的散热片槽和暴露产品引脚的引脚槽。2.根据权利要求1所述的图示仪手动批量测试工装，其特征在于：所述放置板水平滑动连接在检测台上，且放置板在检测台上的滑动方向与所述探针板的长度方向相垂直，所述放置槽的数量为多个。3.根据权利要求2所述的图示仪手动批量测试工装，其特征在于：所述放置板的侧壁开设有若干定位卡槽，检测台上设有固定板，固定板上水平滑动连接有用于与定位卡槽相契合的定位柱，所述定位柱卡入定位卡槽时，料管的散热片槽位于所述测试探针的正下方。4.根据权利要求2所述的图示仪手动批量测试工装，其特征在于：所述放置板的底面设有滑块，所述检测台上设有滑轨，滑块的底面开设有与滑轨滑动配合的滑槽。5.根据权利要求1所述的图示仪手动批量测试工装，其特征在于：所述检测台上固定安装有机架，所述驱动机构包括横板和若干弹性件，横板固定连接在机架上，横板位于探针板的上方，弹性件的顶端与横板相连，弹性件的底端与探针板相连。6.根据权利要求5所述的图示仪手动批量测试工装，其特征在于：所述探针板上固定连接有限位柱，横板上开设有供限位柱贯穿的限位孔，限位孔的孔径等于限位柱的直径。7.根据权利要求6所述的图示仪手动批量测试工装，其特征在于：所述横板开设有螺纹孔，螺纹孔螺纹连接有竖向设置的螺纹杆，螺纹杆的底端与所述探针板相抵。8.根据权利要求1所述的图示仪手动批量测试工装，其特征在于：所述检测台上固定安装有机架，所述驱动机构为液压缸或气缸，驱动机构的输出端与所述探针板相连。9.根据权利要求1所述的图示仪手动批量测试工装，其特征在于：所述放置槽的端部设有下陷腔。10.根据权利要求1所述的图示仪手动批量测试工装，其特征在于：所述测试探针的数量为50根。
技术总结
本发明属于半导体检测技术领域，具体涉及一种图示仪手动批量测试工装，包括图示仪和检测台，图示仪具有测试线A和测试线B，检测台上设有探针板以及用于驱动探针板升降的驱动机构，探针板朝向检测台的一侧固定安装有若干测试探针，测试探针均与测试线A连接，测试线B连接有测试笔；检测台上还设有放置板，放置板上开设有用于放置装有产品的料管的放置槽，料管的顶壁开设有散热片槽和引脚槽。本发明中，若干测试探针通过散热片槽与料管中对应产品的散热片接触，测试笔通过引脚槽与对应产品的引脚接触，实现产品的批量测试，有效提高测试效率，无需测试人员将产品从料管中取出，从而避免了产品在转移和摆放过程中遭受损伤。免了产品在转移和摆放过程中遭受损伤。免了产品在转移和摆放过程中遭受损伤。
技术研发人员：陈显平 杨旭 李杰
受保护的技术使用者：重庆平创半导体研究院有限责任公司
技术研发日：2022.05.23
技术公布日：2022/7/29