技术特征：
1.一种探针卡板，其特征在于，包括pcb板,所述pcb板上连接有trim测试板、继电器控制单元、第一继电器组、第二继电器组；所述pcb板上开设有芯片测试槽，所述芯片测试槽用于放置待检测的芯片；所述trim测试板上设有64个测试触点；所述继电器控制单元上设有芯片功能模块引脚、第一电流电压控制引脚、第二电流电压控制引脚、输出信号引脚；所述第一继电器组连接分别连接所述第一电流电压控制引脚以及所述待检测的芯片带有熔丝的引脚，实现熔丝的熔断；所述第二电流电压控制引脚、所述第二继电器组、待测的芯片的功能模块引脚连接,实现芯片功能的测试；第三电流电压控制引脚、第三继电器组、所述输出信号引脚连接，实现芯片输出信号测试。2.根据权利要求1所述一种探针卡板，其特征在于，所述继电器控制单元为jp接线牛角，jp接线牛角的ur9～ur14引脚为所述第一电流电压控制引脚；所述jp接线牛角的b2f引脚、b2s引脚、c2f引脚、c2s引脚、a4f引脚、a4s引脚、b4f引脚、b4s引脚、d4f引脚、d4s引脚为所述芯片功能模块引脚；所述jp接线牛角的ur引脚外接+5v电压；所述jp接线牛角的a3gf、a3gs、a4gs、a4gf、a1gf、a1gs、a2gs、a2gf引脚接地；所述第一继电器组包括6个继电器，分别为继电器ks、kcs0、kcs1、km、kim、kcf_cs；所述第一继电器组连接分别连接所述第一电流电压控制引脚以及所述待检测的芯片带有熔丝的引脚，实现熔丝的熔断的连接方式为：ur9引脚分别与继电器kt10和继电器kt12的线圈一端连接；ur10引脚分别与继电器kt9和继电器kt10的线圈一端连接；ur11引脚分别与继电器kt8和继电器kt7的线圈一端连接；ur12引脚分别与继电器kt6和继电器kt5的线圈一端连接；ur13引脚分别与继电器kt4和继电器kt3的线圈一端连接；ur14引脚分别与继电器kt2和继电器kt1的线圈一端连接；继电器kt1～继电器kt12中，每个继电器控制两对常闭触点，继电器kt1的一常闭触点kt1_s1a的一端与trim测试板的47引脚连接，另一端与u1的f4触点连接，另一常闭触点kt1_s1b的一端与trim测试板的46和48引脚连接，另一端与u1的vss3触点连接；继电器kt2的一常闭触点kt2_s1a的一端与trim测试板的45引脚连接，另一端与u1的f3触点连接，另一常闭触点kt2_s1b的一端与trim测试板的43引脚连接,另一端与u1的f2触点连接；继电器kt3的一常闭触点kt3_s1a的一端与trim测试板的42和44引脚连接,另一端与u1的vss1触点连接，另一常闭触点kt3_s1b的一端与trim测试板的41引脚连接,另一端与u1的f1触点连接；继电器kt4的一常闭触点kt4_s1a的一端与trim测试板的39引脚连接,另一端与u1的f5触点连接，另一常闭触点kt4_s1b的一端与trim测试板的40和38引脚连接,另一端与u1的vss5触点连接；继电器kt5的一常闭触点kt5_s1a的一端与trim测试板的35引脚连接,另一端与u1的f6触点连接，另一常闭触点kt5_s1b的一端与trim测试板的37引脚连接,另一端与u1的f7触点连接；继电器kt6的一常闭触点kt6_s1a的一端与trim测试板的36和34引脚连接,另一端与u1的vss7触点连接，另一常闭触点kt6_s1b的一端与trim测试板的33引脚连接,另一端与u1的f8触点连接；继电器kt7的一常闭触点kt7_s1a的一端与trim测试板的15引脚连接,另一端与u1的f14触点连接，另一常闭触点kt7_s1b的一端与trim测试板的16和14引脚连接,
另一端与u1的vss14触点连接；继电器kt8的一常闭触点kt8_s1a的一端与trim测试板的13引脚连接,另一端与u1的f15触点连接，另一常闭触点kt8_s1b的一端与trim测试板的11引脚连接,另一端与u1的f11触点连接；继电器kt9的一常闭触点kt9_s1a的一端与trim测试板的10和12引脚连接,另一端与u1的vss11触点连接，另一常闭触点kt9_s1b的一端与trim测试板的9引脚连接.另一端与u1的f16触点连接；继电器kt10的一常闭触点kt10_s1a的一端与trim测试板的7引脚连接，另一端与u1的f12触点连接,另一常闭触点kt10_s1b的一端与trim测试板的8和6引脚连接；另一端与u1的vss9触点连接；继电器kt11的一常闭触点kt11_s1a的一端与trim测试板的5引脚连接，另一端与u1的f9触点连接,另一常闭触点kt11_s1b的一端与trim测试板的3引脚连接；另一端与u1的f10触点连接；继电器kt12的一常闭触点kt12_s1a的一端与trim 测试板的2和4引脚连接,另一端与u1的vss10触点连接，另一常闭触点kt12_s1b的一端与trim测试板的1引脚连接,另一端与u1的f13触点连接。3.根据权利要求2所述一种探针卡板，其特征在于，所述第二电流电压控制引脚、所述第二继电器组、所述待测的芯片的功能模块引脚连接,实现芯片功能的测试的连接方式为；所述第二继电器组包括12个继电器，分别为继电器kt1～kt12；jp接线牛角的ur3～ur8引脚为所述第二电流电压控制引脚；ur3引脚与继电器ks的线圈一端连接，ur4引脚与继电器kcs0的线圈一端连接，ur5引脚与继电器kcs1的线圈一端连接，ur6引脚与继电器km的线圈一端连接；ur7引脚与继电器kim的线圈一端连接,ur8引脚与继电器kcf_cs的线圈一端连接；继电器kcs1的一常闭触点kcs1_s1a的一端与电容c1的一端连接，常闭触点kcs1_s1a的另一端与电阻r1一端连接，电阻r1另一端接地；电容c1的另一端连接与继电器kcf的一常闭触点kcf_cs_s1a的一端连接，继电器kcf的一常闭触点kcf_cs_s1a的另一端与u1的vss2和cf触点连接；jp1接线牛角的a4f以及a4s引脚与继电器kcso的一常闭触点kcso_s1a的一端连接，常闭触点kcso_s1a的另一端分别与u1的cs触点、电容c1的一端、常闭触点kcs1_s1a的一端连接；jp1接线牛角的b4f以及b4s引脚与继电器kim的一常闭触点kim_s1a的一端连接,常闭触点kim_s1a的另一端分别与u1的vss7、im触点连接；jp1接线牛角的b2f以及b2s引脚与u1的d1触点连接。4.根据权利要求2所述一种探针卡板，其特征在于，所述第三继电器组包括2个继电器，分别为继电器kio、k4；jp接线牛角的ur1～ur2引脚为所述第三电流电压控制引脚；所述jp接线牛角的a2f引脚、a2s引脚、d2f引脚、d2s引脚连接、c4f引脚、c4s引脚为所述输出信号引脚；ur1引脚与继电器ki0的线圈一端连接，ur2引脚与继电器k4的线圈一端连接；u1的d2触点、d4触点、io触点为芯片熔丝后测试输出端，所述pcb板上增加了电容c1、电容c2、电容c3、电阻r1、电阻r2、电阻r3；jp1接线牛角的a2f以及a2s引脚与u1的d2触点连接；jp1接线牛角的c2f以及c2s引脚与电阻r3的一端连接，电阻r3的另一端的分别与电容c3的一端、继电器kio的一常闭触点kio_s1a的一端连接，常闭触点kio_s1a的另一端与u1的io触点连接，电容c3的另一端接地；
jp1接线牛角的d2f以及d2s引脚与继电器k4的一常闭触点k4_s1a的一端连接，k4_s1a的另一端与电阻r2的一端连接,电阻r2的另一端分别与u1的d4触点、电容c2的一端连接,电容c2的另一端接地。
技术总结
一种探针卡板，包括PCB板,PCB板上连接有tr im测试板、继电器控制单元、第一继电器组、第二继电器组；PCB板上开设有芯片测试槽，芯片测试槽用于放置待检测的芯片；tr im测试板上设有32个对称的测试触点；继电器控制单元上设有芯片功能模块引脚、第一电流电压控制引脚、第二电流电压控制引脚、输出信号引脚；第一继电器组连接分别连接电流电压控制引脚以及待检测的芯片带有熔丝的引脚，实现熔丝的熔断；芯片功能模块引脚、第二继电器组、待测的芯片的功能模块引脚连接,实现芯片功能的测试。的功能模块引脚连接,实现芯片功能的测试。的功能模块引脚连接,实现芯片功能的测试。
技术研发人员：周国成
受保护的技术使用者：无锡矽鹏半导体检测有限公司
技术研发日：2022.08.09
技术公布日：2023/3/23