晶体频率测试装置及系统的制作方法

文档序号:33437322发布日期:2023-03-14 21:37阅读:39来源:国知局
晶体频率测试装置及系统的制作方法

1.本实用新型涉及晶体频率测试技术领域,特别涉及一种晶体频率测试装置及系统。


背景技术:

2.随着通信技术的发展,射频通信愈发普及,在使用射频模组进行组装生产前,需要验证模组上的晶体,即测试射频模组上晶体的晶体频率,目前晶体频率测试基本都是采用探针方式完成,由射频探针和直流探针组成整个探针系统,且探针需要专业人员操作,采用手动点测的方法进行测试。
3.然而,使用手动点测的方法,在测试过程中,人体相当于容性负载,会影响晶体频率测试精度,且难以在高低温环境下进行测试。


技术实现要素:

4.本实用新型的目的在于提供一种晶体频率测试装置,可以提高晶体频率测试精度,满足在高低温环境下的测试需求。
5.为解决上述技术问题,本实用新型的第一方面提供了一种晶体频率测试装置,包括:
6.射频连接件,用于将所述待测晶体连接至所述测试设备;定位结构,用于固定连接所述射频模组;安装结构,可活动地设置在所述定位结构上,所述射频连接件固定安装于所述安装结构上。
7.本实用新型的第二方面提供了一种晶体频率测试系统,包括:
8.测试设备和如第一方面所述的晶体频率测试装置,所述测试设备和所述晶体频率测试装置电连接,所述测试设备用于测试射频模组的晶体频率。
9.本实用新型实施方式相对于现有技术而言,包括射频连接件、安装结构和定位结构,其中,射频连接件固定安装于安装结构上,安装结构可活动地设置于定位结构上,射频连接件用于将射频模组上的待测晶体连接至测试设备,定位结构则用于固定连接射频模组,操作人员可以利用定位结构固定连接射频模组,再使安装结构上的射频连接件和待测晶体连接,这样,在晶体频率的测试过程中,操作人员无须手持晶体频率测试装置,也可以离开测试环境,因此,在测试过程中,可以避免引入容性负载,提高晶体频率测试精度,满足在高低温环境下的测试需求。
10.可选的,所述定位结构包括平行设置的第一滑轨和第二滑轨,所述安装结构具有相对的两端,所述安装结构的一端固定设有第一滑动件,另一端固定设有第二滑动件,所述第一滑动件可滑动地连接于所述第一滑轨,所述第二滑动件可滑动地连接所述第二滑轨。定位结构包括平行设置的第一滑轨和第二滑轨,安装结构具有相对的两端,一端固定设有第一滑动件,另一端固定设有第二滑动件,第一滑动件可滑动地连接第一滑轨,第二滑动件可滑动地连接第二滑轨,这样,使得安装结构可以相对第一滑轨和第二滑轨滑动,从而调整
射频连接件的位置,在射频模组上存在多个晶体需要测试时,可以通过调整射频连接件的位置以连接不同的待测晶体。
11.可选的,所述定位结构包括第一固定组件和第二固定组件,所述第一固定组件可活动地设置于所述第一滑轨上,所述第二固定组件可活动地设置于所述第二滑轨上,所述第一固定组件和所述第二固定组件用于固定连接所述射频模组。定位结构包括第一固定组件和第二固定组件,第一固定组件可活动地设置于第一滑轨上,第二固定组件可活动地设置于第二滑轨上,第一固定组件和第二固定组件用于固定连接射频模组,在第一滑轨和第二滑轨上均设置用于固定连接射频模组的固定组件,提高连接强度,确保晶体频率测试装置和射频模组的连接稳定性。
12.可选的,所述第一固定组件包括第一夹持件和第二夹持件,所述第一夹持件和所述第二夹持件均可活动地设置于所述第一滑轨,所述第一夹持件和所述第二夹持件相互靠近以固持所述射频模组;所述第二固定组件包括第三夹持件和第四夹持件,所述第三夹持件和所述第四夹持件均可活动地设置于所述第二滑轨,所述第三夹持件和所述第四夹持件相互靠近以固持所述射频模组。第一固定组件包括第一夹持件和第二夹持件,第一夹持件和第二夹持件均可活动地设置于第一滑轨,第一夹持件和第二夹持件相互靠近以固持射频模组,第二固定组件包括第三夹持件和第四夹持件,第三夹持件和第四夹持件均可活动地设置于第二滑轨,第三夹持件和第四夹持件相互靠近以固持射频模组,采用夹持的方式进行固定,连接和拆卸均简单快捷,还可以适应不同规格大小的射频模组。
13.可选的,所述第一固定组件还包括第三滑动件和第四滑动件,所述第三滑动件固定连接所述第一夹持件,所述第四滑动件固定连接所述第二夹持件,所述第三滑动件和所述第四滑动件均沿所述第一滑轨的延伸方向可滑动,所述第一滑动件位于所述第三滑动件和所述第四滑动件之间。第一固定组件还包括第三滑动件和第四滑动件,第三滑动件固定连接第一夹持件,第四滑动件固定连接第二夹持件,第三滑动件和第四滑动件沿第一滑轨的延伸方向可滑动,第一夹持件和第二夹持件通过滑动件连接第一滑轨,可以降低调整第一夹持件和第二夹持件位置的难度。
14.可选的,所述第一固定组件还包括第一弹性件和第二弹性件,所述第一滑轨的一端设有第一限位件,所述第一弹性件设于所述第一限位件和所述第三滑动件之间,所述第一滑轨的另一端设有第二限位件,所述第二弹性件设于所述第二限位件和所述第四滑动件之间。第一固定组件还包括第一弹性件和第二弹性件,第一滑轨的一端设有第一限位件,第一弹性件设于第一限位件和第三滑动件之间,第一滑轨的另一端设有第二限位件,第二弹性件设于第二限位件和第四滑动件之间,这样,当第一夹持件和第二夹持件夹持射频模组时,第一弹性件的两端分别抵持第一限位件和第三滑动件,从而固定第一夹持件的位置,第二弹性件的两端分别抵持第二限位件和第四滑动件,从而固定第二夹持件的位置,确保第一夹持件和第二夹持件稳固夹持射频模组。
15.可选的,所述第二固定组件还包括第五滑动件和第六滑动件,所述第五滑动件固定连接所述第三夹持件,所述第六滑动件固定连接所述第四夹持件,所述第五滑动件和所述第六滑动件均沿所述第二滑轨的延伸方向可滑动,所述第二滑动件位于所述第五滑动件和所述第六滑动件之间。第二固定组件还包括第五滑动件和第六滑动件,第五滑动件固定连接第三夹持件,第六滑动件固定连接第四夹持件,第五滑动件和第六滑动件沿第二滑轨
的延伸方向可滑动,第三夹持件和第四夹持件通过滑动件连接第二滑轨,可以降低调整第三夹持件和第四夹持件位置的难度。
16.可选的,所述第二固定组件还包括第三弹性件和第四弹性件,所述第二滑轨的一端设有第三限位件,所述第三弹性件设于所述第三限位件和所述第五滑动件之间,所述第二滑轨的另一端设有第四限位件,所述第四弹性件设于所述第四限位件和所述第六滑动件之间。第二固定组件还包括第三弹性件和第四弹性件,第二滑轨的一端设有第三限位件,第三弹性件设于第三限位件和第五滑动件之间,第二滑轨的另一端设有第四限位件,第四弹性件设于第四限位件和第六滑动件之间,这样,当第三夹持件和第四夹持件夹持射频模组时,第三弹性件的两端分别抵持第三限位件和第五滑动件,从而固定第三夹持件的位置,第四弹性件的两端分别抵持第四限位件和第六滑动件,从而固定第四夹持件的位置,确保第三夹持件和第四夹持件稳固夹持射频模组。
17.可选的,所述定位结构还包括第一连接件和第二连接件,所述第一连接件具有相对的两端,所述第一连接件的一端固定连接所述第三滑动件,所述第一连接件的另一端固定连接所述第五滑动件;所述第二连接件具有相对的两端,所述第二连接件的一端连接所述第四滑动件,所述第二连接件的另一端连接所述第六滑动件,所述安装结构位于所述第一连接件和所述第二连接件之间。定位结构还包括第一连接件和第二连接件,第一连接件具有相对的两端,第一连接件的一端固定连接第三滑动件,第一连接件的另一端固定连接第五滑动件,第二连接件的一端连接第四滑动件,第二连接件的另一端连接第六滑动件,这样,当需要使用夹持件夹持射频模组时,操作人员向第一连接件施力,可以使第一夹持件和第三夹持件同时移动,向第二连接件施力,可以使第二夹持件和第四夹持件同时移动,更加方便操作。
附图说明
18.一个或多个实施例通过与之对应的附图中的图片进行示例性说明,这些示例性说明并不构成对实施例的限定,附图中具有相同参考数字标号的元件表示为类似的元件,除非有特别申明,附图中的图不构成比例限制。
19.图1是本实用新型第一实施方式提供的晶体频率测试装置的结构示意图;
20.图2是图1的s1区域放大图;
21.图3是本实用新型第一实施方式提供的晶体频率测试装置和射频模组的连接示意图;
22.图4是本实用新型第一实施方式提供的晶体频率测试装置的弹性件和限位件的示意图;
23.图5是本实用新型第二实施方式提供的晶体频率测试系统的连接示意图。
具体实施方式
24.为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本实用新型的各实施方式进行详细的阐述。然而,本领域的普通技术人员可以理解,在本实用新型各实施方式中,为了使读者更好地理解本技术而提出了许多技术细节。但是,即使没有这些技术细节和基于以下各实施方式的种种变化和修改,也可以实现本技术各权利要求所要求保
护的技术方案。
25.在本实用新型实施方式中,术语“上”、“下”、“左”、“右”、“前”、“后”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“中”、“竖直”、“水平”、“横向”、“纵向”等指示方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系。这些术语主要是为了更好地描述本实用新型及其实施方式,并非用于限定所指示的装置、元件或组成部分必须具有特定方位,或以特定方位进行构造和操作。
26.并且,上述部分术语除了可以用于表示方位或位置关系以外,还可能用于表示其他含义,例如术语“上”在某些情况下也可能用于表示某种依附关系或连接关系。对于本领域普通技术人员而言,可以根据具体情况理解这些术语在本实用新型中的具体含义。
27.此外,术语“安装”、“设置”、“设有”、“开设”、“连接”、“相连”应做广义理解。例如,可以是固定连接,可拆卸连接,或整体式构造;可以是机械连接,或电连接;可以是直接相连,或者是通过中间媒介间接相连,又或者是两个装置、元件或组成部分之间内部的连通。对于本领域普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
28.此外,术语“第一”、“第二”等主要是用于区分不同的装置、元件或组成部分(具体的种类和构造可能相同也可能不同),并非用于表明或暗示所指示装置、元件或组成部分的相对重要性和数量。除非另有说明,“多个”的含义为两个或两个以上。
29.本实用新型的第一实施方式涉及一种晶体频率测试装置1000,如图1至图3所示,包括:包括射频连接件100、安装结构200和定位结构300,其中,射频连接件100固定安装于安装结构200上,安装结构200可活动地设置于定位结构300上,射频连接件100用于将射频模组400上的待测晶体410连接至测试设备,定位结构300则用于固定连接射频模组400。
30.本实用新型的第一实施方式相对于现有技术而言,操作人员可以利用定位结构300固定连接射频模组400,再使安装结构200上的射频连接件100和待测晶体410连接,这样,在晶体频率的测试过程中,操作人员无须手持晶体频率测试装置1000,可以离开测试环境,因此,可以避免引入容性负载,提高晶体频率测试精度,满足在高低温环境下的测试需求。
31.具体的,射频连接件100为sma连接头。
32.在一些实施例中,定位结构300包括平行设置的第一滑轨310和第二滑轨320,安装结构200具有相对的两端,一端固定设有第一滑动件210,另一端固定设有第二滑动件220,第一滑动件210可滑动地连接第一滑轨310,第二滑动件220可滑动地连接第二滑轨320,这样,使得安装结构300可以相对第一滑轨310和第二滑轨320滑动,从而调整射频连接件100的位置,在射频模组400上存在多个晶体需要测试时,可以通过调整射频连接件100的位置以连接不同的待测晶体410。
33.具体的,安装结构200上固定设有固定垫片230,固定垫片230设有通孔,射频连接件100穿过该通孔延伸至安装结构下方。
34.可选的,固定垫片230可以通过螺丝固定连接在安装结构200上,也可以是采用焊接、胶接或其他连接方式进行固定,只要能使晶体频率测试装置1000正常使用即可,本实用新型实施例对此不作具体限定。
35.在一些实施例中,定位结构300包括第一固定组件330和第二固定组件340,第一固定组件330可活动地设置于第一滑轨310上,第二固定组件340可活动地设置于第二滑轨320
上,第一固定组件330和第二固定组件340用于固定连接射频模组400,在第一滑轨310和第二滑轨320上均设置用于固定连接射频模组400的固定组件,提高连接强度,确保晶体频率测试装置1000和射频模组400的连接稳定性。
36.更具体的,第一固定组件330包括第一夹持件331和第二夹持件332,第一夹持件331和第二夹持件332均可活动地设置于第一滑轨310,第一夹持件331和第二夹持件332相互靠近以固持射频模组400,第二固定组件340包括第三夹持件341和第四夹持件342,第三夹持件341和第四夹持件342均可活动地设置于第二滑轨320,第三夹持件341和第四夹持件342相互靠近以固持射频模组400,采用夹持的方式进行固定,连接和拆卸均简单快捷,还可以适应不同规格大小的射频模组400。
37.进一步的,第一固定组件330还包括第三滑动件333和第四滑动件334,第三滑动件333固定连接第一夹持件331,第四滑动件334固定连接第二夹持件332,第三滑动件333和第四滑动件334沿第一滑轨310的延伸方向可滑动,第一夹持件331和第二夹持件332通过滑动件连接第一滑轨310,可以降低调整第一夹持件331和第二夹持件332位置的难度。
38.在一些实施例中,第一固定组件330还包括第一弹性件335和第二弹性件336,第一滑轨310的一端设有第一限位件311,第一弹性件335设于第一限位件311和第三滑动件333之间,第一滑轨310的另一端设有第二限位件312,第二弹性件336设于第二限位件312和第四滑动件334之间,这样,当第一夹持件331和第二夹持件332夹持射频模组400时,第一弹性件335的两端分别抵持第一限位件311和第三滑动件333,从而固定第一夹持件331的位置,第二弹性件336的两端分别抵持第二限位件312和第四滑动件334,从而固定第二夹持件332的位置,确保第一夹持件331和第二夹持件332稳固夹持射频模组400。
39.可以理解的是,第二固定组件340可以具有和第一固定组件330相同的结构,具体还包括第五滑动件343和第六滑动件344,第五滑动件343固定连接第三夹持件341,第六滑动件344固定连接第四夹持件342,第五滑动件343和第六滑动件344沿第二滑轨320的延伸方向可滑动,第三夹持件341和第四夹持件342通过滑动件连接第二滑轨320,可以降低调整第三夹持件341和第四夹持件342位置的难度。
40.在一些实施例中,第二固定组件340还包括第三弹性件345和第四弹性件346,第二滑轨320的一端设有第三限位件321,第三弹性件345设于第三限位件321和第五滑动件343之间,第二滑轨320的另一端设有第四限位件322,第四弹性件346设于第四限位件322和第六滑动件344之间,这样,当第三夹持件341和第四夹持件342夹持射频模组400时,第三弹性件345的两端分别抵持第三限位件321和第五滑动件343,从而固定第三夹持件341的位置,第四弹性件346的两端分别抵持第四限位件322和第六滑动件344,从而固定第四夹持件342的位置,确保第三夹持件341和第四夹持件342稳固夹持射频模组400。
41.可选的,在本实施例中,弹性件可以是弹簧、弹片或其他弹性件,只要在夹持件接触射频模组400时,该弹性件可以和限位件配合,推动滑动件,从而使夹持件固持射频模组400即可,本实用新型实施例对此不作具体限定。
42.可以理解的是,在其他实施例中,固定组件不包括弹性件,所有滑动件可以是设有通孔的滑块,滑轨穿过滑块的通孔,与通孔实现可滑动连接,每个滑块上设有与滑轨延伸方向垂直的定位通孔,螺丝或铆钉等固定件穿过该定位通孔和滑轨抵持,从而固定滑块的位置。
43.请一并参考图4,在一些实施例中,定位结构300还包括第一连接件350和第二连接件360,第一连接件350具有相对的两端,第一连接件350的一端固定连接第三滑动件333,第一连接件的另一端固定连接第五滑动件343,第二连接件360的一端连接第四滑动件334,第二连接件360的另一端连接第六滑动件344,这样,当需要使用夹持件夹持射频模组400时,操作人员向第一连接件350施力,可以使第一夹持件331和第三夹持件341同时移动,向第二连接件360施力,可以使第二夹持件332和第四夹持件342同时移动,更加方便操作。
44.可以理解的是,在本实用新型第一实施方式中,夹持件和连接件可以是柱状结构,夹持件及连接件和滑动件的固定连接可以是焊接、胶接、卡接、铆接、螺接或其他连接方式,只要能是使夹持件和滑动件以及连接件和滑动件稳固连接即可,本实用新型实施例对此不作具体限定。
45.本实用新型的第二实施方式涉及一种晶体频率的测试装置2000,如图5所示,包括:测试设备500和上述第一实施方式所述的晶体频率测试装置1000,测试设备500和晶体频率测试装置1000电连接,测试设备500用于测试射频模组400的晶体频率。
46.本实用新型的第二实施方式相对于现有技术而言,将测试设备500连接第一实施方式提供的晶体频率测试装置1000,对射频模组400上的待测晶体410进行频率测试,操作人员无须手持晶体频率测试装置1000,可以离开测试环境,因此,在测试过程中,可以避免引入容性负载,提高晶体频率测试精度,满足在高低温环境下的测试需求。
47.具体的,测试设备500为频谱仪。
48.可以理解的是,测试设备500也可以根据实际测试需求更换为其他仪器设备,如矢量网络分析仪或综测仪等,本实用新型实施例对此不作具体限定。
49.以上对本实用新型实施方式提供的晶体频率测试装置及系统进行了详细地介绍,本文中应用了具体个例对本实用新型的原理及实施方式进行了阐述,以上实施方式的说明只是用于帮助理解本实用新型的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明书的内容不应理解为对本实用新型的限制。
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