技术特征：
1.一种晶体频率测试装置，用于测试射频模组待测晶体的晶体频率，其特征在于，包括：射频连接件，用于将所述待测晶体连接至所述测试设备；定位结构，用于固定连接所述射频模组；安装结构，可活动地设置在所述定位结构上，所述射频连接件固定安装于所述安装结构上。2.根据权利要求1所述的晶体频率测试装置，其特征在于，所述定位结构包括平行设置的第一滑轨和第二滑轨，所述安装结构具有相对的两端，所述安装结构的一端固定设有第一滑动件，另一端固定设有第二滑动件，所述第一滑动件可滑动地连接于所述第一滑轨，所述第二滑动件可滑动地连接所述第二滑轨。3.根据权利要求2所述的晶体频率测试装置，其特征在于，所述定位结构包括第一固定组件和第二固定组件，所述第一固定组件可活动地设置于所述第一滑轨上，所述第二固定组件可活动地设置于所述第二滑轨上，所述第一固定组件和所述第二固定组件用于固定连接所述射频模组。4.根据权利要求3所述的晶体频率测试装置，其特征在于，所述第一固定组件包括第一夹持件和第二夹持件，所述第一夹持件和所述第二夹持件均可活动地设置于所述第一滑轨，所述第一夹持件和所述第二夹持件相互靠近以固持所述射频模组；所述第二固定组件包括第三夹持件和第四夹持件，所述第三夹持件和所述第四夹持件均可活动地设置于所述第二滑轨，所述第三夹持件和所述第四夹持件相互靠近以固持所述射频模组。5.根据权利要求4所述的晶体频率测试装置，其特征在于，所述第一固定组件还包括第三滑动件和第四滑动件，所述第三滑动件固定连接所述第一夹持件，所述第四滑动件固定连接所述第二夹持件，所述第三滑动件和所述第四滑动件均沿所述第一滑轨的延伸方向可滑动，所述第一滑动件位于所述第三滑动件和所述第四滑动件之间。6.根据权利要求5所述的晶体频率测试装置，其特征在于，所述第一固定组件还包括第一弹性件和第二弹性件，所述第一滑轨的一端设有第一限位件，所述第一弹性件设于所述第一限位件和所述第三滑动件之间，所述第一滑轨的另一端设有第二限位件，所述第二弹性件设于所述第二限位件和所述第四滑动件之间。7.根据权利要求5或6所述的晶体频率测试装置，其特征在于，所述第二固定组件还包括第五滑动件和第六滑动件，所述第五滑动件固定连接所述第三夹持件，所述第六滑动件固定连接所述第四夹持件，所述第五滑动件和所述第六滑动件均沿所述第二滑轨的延伸方向可滑动，所述第二滑动件位于所述第五滑动件和所述第六滑动件之间。8.根据权利要求7所述的晶体频率测试装置，其特征在于，所述第二固定组件还包括第三弹性件和第四弹性件，所述第二滑轨的一端设有第三限位件，所述第三弹性件设于所述第三限位件和所述第五滑动件之间，所述第二滑轨的另一端设有第四限位件，所述第四弹性件设于所述第四限位件和所述第六滑动件之间。9.根据权利要求8所述的晶体频率测试装置，其特征在于，所述定位结构还包括第一连
接件和第二连接件，所述第一连接件具有相对的两端，所述第一连接件的一端固定连接所述第三滑动件，所述第一连接件的另一端固定连接所述第五滑动件；所述第二连接件具有相对的两端，所述第二连接件的一端连接所述第四滑动件，所述第二连接件的另一端连接所述第六滑动件，所述安装结构位于所述第一连接件和所述第二连接件之间。10.一种晶体频率测试系统，其特征在于，包括测试设备和如权利要求1-9任一项所述的晶体频率测试装置，所述测试设备和所述晶体频率测试装置电连接，所述测试设备用于测试射频模组的晶体频率。
技术总结
本实用新型涉及晶体频率测试技术领域，公开了一种晶体频率测试装置，包括射频连接件，用于将所述待测晶体连接至所述测试设备，定位结构，用于固定连接所述射频模组，安装结构，可活动地设置在所述定位结构上，所述射频连接件固定安装于所述安装结构上。本实用新型还公开了一种晶体频率测试系统，包括上述晶体频率测试装置，可以提高晶体频率测试精度，满足在高低温环境下的测试需求。低温环境下的测试需求。低温环境下的测试需求。
技术研发人员：苏国汉
受保护的技术使用者：上海移远通信技术股份有限公司
技术研发日：2022.09.15
技术公布日：2023/3/13