透明产品的缺陷位置检测方法及装置与流程

文档序号:35028600发布日期:2023-08-05 16:55阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种透明产品的缺陷位置检测方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取透明产品的缺陷图像包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述缺陷基本信息包括所述缺陷点的半径和质心坐标,所述缺陷确定指标的获取方法包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述缺陷基本信息还包括所述缺陷点的平均灰度值,在根据所述尺寸对比系数、所述相对距离、所述相对角度,得到所述第一缺陷点与所述第二缺陷点对应的缺陷确定指标之后,还包括:

5.根据权利要求3或4所述的方法,其特征在于,在根据所述尺寸对比系数、所述相对距离、所述相对角度,得到所述第一缺陷点与所述第二缺陷点对应的缺陷确定指标之后,还包括:

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,在将所述纹理清晰度对比系数添加到所述缺陷确定指标中之后,还包括:

7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据各个所述缺陷确定指标是否在预设的缺陷参考范围的判断结果,确定所述缺陷点与所述透明产品的位置关系包括:

8.一种透明产品的缺陷位置检测装置,其特征在于,包括:

9.一种透明产品的缺陷图像采集方法,其特征在于,应用于图像采集设备,所述图像采集设备置于透明产品一侧,所述图像采集设备一侧还设有光源,所述采集方法包括:

10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7中任一项所述的方法的步骤。


技术总结
本申请涉及一种透明产品的缺陷位置检测方法、装置及计算机可读存储介质。其中,检测方法包括:获取透明产品的图像,并通过算法识别出图像中的缺陷点,再根据每个缺陷点的基本信息,可以得到这两个缺陷点对应的缺陷确定指标,将任一缺陷确定指标与预设参考范围进行比较,可以确定该缺陷确定指标对应的两个缺陷点是否为透明产品表面的同一缺陷。本方案透明产品的图像可以由面阵相机等设备一次拍摄得到,无需其他设备,不占用额外空间,缺陷位置检测过程可以通过算法自动得到结果,整个过程更易于实现,成本更低,检测时间更短,效率更高。

技术研发人员:姚夏,姚宪
受保护的技术使用者:华兴源创(成都)科技有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/1/14
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