1.一种充电测试方法，其特征在于，应用于测试设备对终端设备的测试过程，所述充电测试方法包括：
2.根据权利要求1所述的充电测试方法，其特征在于，所述充电测试方法还包括：
3.根据权利要求2所述的充电测试方法，其特征在于，所述温度调节装置包括气流驱动装置，所述控制温度调节装置对所述终端设备进行温度调节，包括：
4.根据权利要求3所述的充电测试方法，其特征在于，每间隔预设时长设定采集时刻，于所述采集时刻获取所述终端设备的当前温度参数，所述基于所述当前温度参数与所述目标参考温度之间的差值，获得所述气流驱动装置的目标控制参数，包括：
5.根据权利要求4所述的充电测试方法，其特征在于，基于所述第一温度参数、所述第二温度参数、所述当前温度参数和所述目标参考温度，确定所述气流驱动装置的目标控制参数，包括：
6.根据权利要求1至5任一项所述的充电测试方法，其特征在于，所述对所述终端设备进行在所述目标参考温度下的充电测试，包括：
7.根据权利要求6所述的充电测试方法，其特征在于，所述对所述终端设备进行在所述目标参考温度下的充电测试，还包括：
8.根据权利要求7所述的充电测试方法，其特征在于，所述对所述终端设备进行在所述目标参考温度下的充电测试，还包括：
9.根据权利要求7所述的充电测试方法，其特征在于，所述对所述终端设备进行在所述目标参考温度下的充电测试，还包括：
10.一种充电测试装置，其特征在于，应用于测试设备对终端设备的测试过程，所述充电测试装置包括：
11.一种测试设备，其特征在于，所述测试设备包括：
12.一种非临时性计算机可读存储介质，其上存储有可执行指令，其特征在于，该可执行指令被处理器执行时实现如权利要求1至9中任一项所述的充电测试方法。
13.一种充电测试系统，其特征在于，所述充电测试系统包括测试设备，所述测试设备包括主控芯片和通信装置，所述测试设备还包括设置于充电通路的开关，所述开关与所述主控芯片电连接；
14.根据权利要求13所述的充电测试系统，其特征在于，所述充电测试系统还包括温度调节装置，所述温度调节装置与所述主控芯片电连接；