非受限约束结构下硬质聚合物封装应力的测试装置与方法与流程

文档序号:35633803发布日期:2023-10-06 04:12阅读:来源:国知局

技术特征:

1.非受限约束结构下硬质聚合物封装应力的测试装置,其特征在于,所述测试装置包括底座、外部筒体、支撑轴、下套筒、侧壁筒、上套筒、应变传感器和温度传感器;

2.根据权利要求1所述的非受限约束结构下硬质聚合物封装应力的测试装置,其特征在于,所述应变传感器和温度传感器相邻成对布置,且测试装置布置一对或者多对。

3.根据权利要求1所述的非受限约束结构下硬质聚合物封装应力的测试装置,其特征在于,所述应变传感器和温度传感器布置在侧壁筒中部。

4.根据权利要求1所述的非受限约束结构下硬质聚合物封装应力的测试装置,其特征在于,所述外部筒状体由可拆卸的左瓣模和右瓣模组成。

5.根据权利要求1所述的非受限约束结构下硬质聚合物封装应力的测试装置,其特征在于,所述侧壁筒的壁厚为0.5mm~1.0mm。

6.根据权利要求1所述的非受限约束结构下硬质聚合物封装应力的测试装置,其特征在于,所述引线通过轴的上端面高于填充的硬质聚合物封装材料最高液面15mm以上。

7.根据权利要求1所述的非受限约束结构下硬质聚合物封装应力的测试装置,其特征在于,所述底座上表面和外部筒体内表面均涂抹脱模剂。

8.非受限约束结构下硬质聚合物封装应力的测试方法,其特征在于,所述方法基于权利要求1~7中任一项所述的测试装置进行,所述方法包括硬质聚合物封装材料固化残余应力的测试和硬质聚合物封装材料封装热致应力的测试;

9.根据权利要求8所述的非受限约束结构下硬质聚合物封装应力的测试方法,其特征在于,所述s1-2中还包括消除应变传感器在首次经历高低温时产生的零点漂移,具体包括:


技术总结
本发明公开了非受限约束结构下硬质聚合物封装应力的测试装置与方法,该装置设置硬质聚合物封装材料包裹薄壁侧壁筒固化,结合侧壁筒刚度小容易变形的特点,构造三维非受限约束结构,并将硬质聚合物封装材料的变形反映到薄壁侧壁筒的变形上;通过预在侧壁筒内壁布置应变传感器,实现在传感器与流动状态的硬质聚合物封装材料不直接接触的情况下,硬质聚合物封装应力(包括固化残余应力与热致应力)的测试;该测试装置与方法实现了非受限约束封装应力的原位实时测量,可有效排除测量中的温度干扰并准确反映非受限约束结构高弹态应力水平低的封装应力机制,适用于诸如涂覆、包封、模塑等三维非受限约束电子封装工况,具有广阔的应用前景。

技术研发人员:李想,李悦芳,钟华,张国亮,刘鑫,陈磊,曾志斌
受保护的技术使用者:中国工程物理研究院电子工程研究所
技术研发日:
技术公布日:2024/1/15
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