1.一种芯片检测设备，包括检测机架(1)、待检芯片(2)，所述待检芯片(2)的两侧均设置有若干个等距的针脚(3)，所述检测机架(1)的顶部设置有第一半开放套座(4)、丝杠传动机构(5)、检测仪(19)，所述丝杠传动机构(5)的输出结构与第一半开放套座(4)的底部传动连接，且丝杠传动机构(5)的前端结构传动连接有第一抱闸伺服电机(6)，所述第一半开放套座(4)的后端套装有弹性夹持部件(7)，且弹性夹持部件(7)的顶部结构与第一半开放套座(4)的顶面组合形成前端让位的半开放夹持空间，所述待检芯片(2)放置在半开放夹持空间中进行定位安装，所述待检芯片(2)两侧上的针脚(3)均与第一半开放套座(4)的顶部活动套接，且针脚(3)的一端延伸至第一半开放套座(4)的外侧；
2.根据权利要求1所述的一种芯片检测设备，其特征在于：所述检测机架(1)顶部设置有导向架(20)，所述导向架(20)包括导向杆体(202)以及导向杆体(202)两端固定连接的倒u形架(201)，两个所述倒u形架(201)的底部均固定连接在检测机架(1)的顶部，所述导向杆体(202)的中部卡接在第一半开放套座(4)底部的内侧，所述检测仪(19)采用万能表装置。
3.根据权利要求1所述的一种芯片检测设备，其特征在于：所述丝杠传动机构(5)包括丝杠(51)、螺母(52)、联动套板(53)、伞齿轮箱(54)，所述螺母(52)的内侧螺纹连接在丝杠(51)的表面上，所述丝杠(51)的两端均套装有轴承，所述轴承采用轴承座安装在检测机架(1)的顶部，所述丝杠(51)一端的端头与伞齿轮箱(54)的输出端传动连接，且伞齿轮箱(54)的壳体表面与检测机架(1)的顶部之间安装有支撑座。
4.根据权利要求3所述的一种芯片检测设备，其特征在于：所述螺母(52)的一端与联动套板(53)的底部固定连接，且螺母(52)与联动套板(53)形成的组合件作为丝杠传动机构(5)的输出结构与第一半开放套座(4)底部的传动连接，所述第一抱闸伺服电机(6)的输出端贯穿检测机架(1)顶部结构并与伞齿轮箱(54)的输入端传动连接，且第一抱闸伺服电机(6)的壳体表面与检测机架(1)顶部内壁之间安装有固定座。
5.根据权利要求1所述的一种芯片检测设备，其特征在于：所述检测探针组件(10)由探针本体(101)、检测复位弹簧(102)组成，所述探针本体(101)的顶部为t型结构并卡接在检测支撑架(9)顶部结构内，所述检测复位弹簧(102)的两端分别固定连接在检测支撑架(9)顶部结构表面上和探针本体(101)顶部表面上。
6.根据权利要求1所述的一种芯片检测设备，其特征在于：所述弹性夹持部件(7)包括联动杆(71)、夹持压板(72)、磁吸限位板(73)以及夹持弹簧(74)，所述联动杆(71)的中部卡接在第一半开放套座(4)后端的内侧，所述夹持压板(72)位于第一半开放套座(4)的顶部，所述磁吸限位板(73)位于第一半开放套座(4)的底部，且夹持压板(72)的一端与磁吸限位板(73)的一端分别与联动杆(71)的两端固定连接，所述夹持弹簧(74)的两端分别固定连接在夹持压板(72)的底部和第一半开放套座(4)后端的顶部。
7.根据权利要求6所述的一种芯片检测设备，其特征在于：所述磁吸部件(8)由电磁吸盘以及电磁吸盘表面上固定连接的支架组成，所述支架的顶部固定连接在第一半开放套座(4)的底面上，所述电磁吸盘的磁吸面能够与磁吸限位板(73)的表面磁吸连接。
8.根据权利要求1所述的一种芯片检测设备，其特征在于：所述检测支撑架(9)的顶部两侧均套装有检测方向朝上的检测探针组件(10)，且检测方向朝上的两个检测探针组件(10)也通过导线与检测仪(19)电性连接，所述检测机架(1)顶部的后端连接有辅助支架(16)，所述辅助支架(16)的顶部套装有与第一半开放套座(4)同结构的第二半开放套座(17)，所述第二半开放套座(17)内也套装有弹性夹持部件(7)并与弹性夹持部件(7)组合形成组前端让位的半开放对照空间，所述半开放对照空间内套装有标准芯片(18)，所述标准芯片(18)的两侧均设置有若干个等距的对照引脚，所述对照引脚的一端能够与对应且检测方向朝上的检测探针组件(10)顶部接触贴合连接。
9.根据权利要求5所述的一种芯片检测设备，其特征在于：所述锥形箱(11)的底部连接有过渡阀管，且锥形箱(11)的表面与检测机架(1)的顶部之间固定安装有辅助支板，所述过渡阀管的底部连接有与自身空间相通的橡胶球，所述锥形箱(11)顶部的内壁上连接有与半圆柱顶块(12)表面接触且处于倾斜状态的刮板，所述刮板的底部开设有与锥形箱(11)内部空间相通的让位槽，所述探针本体(101)检测端头为平板状结构。
10.一种如权利要求1-9任一所述的一种芯片检测设备的检测方法，其特征在于，包括以下操作步骤：