技术特征：
1.一种设备，其包括：直接存取(da)端子；存储器阵列；查找表，其被配置成存储多个测试样式；直接存取混合(da混合)电路，其被配置成从所述直接存取端子接收测试指令，并且基于所述测试指令提供来自所述查找表的所述多个测试样式中的一个所选测试样式；错误捕捉存储器(ecm)电路，其被配置成基于所述测试指令存储结果信息。2.根据权利要求1所述的设备，其中所述设备包含高带宽存储器(hbm)装置，所述hbm装置包括：接口裸片，其包含所述直接存取端子、所述查找表、所述da混合电路和所述ecm电路；和核心裸片，其包含所述存储器阵列。3.根据权利要求1所述的设备，其中所述测试指令包含与所述存储器阵列的所选存储器单元相关联的地址和与所述查找表中的所述多个测试样式中的所述所选测试样式相关联的指针值，且其中响应于所述测试指令，将所述所选测试样式存储于所述所选存储器单元中。4.根据权利要求3所述的设备，其中所述da混合电路被配置成存储所述测试指令并且当从与所述测试指令相关联的所述所选存储器单元读取数据时，将所述指针值提供给所述查找表。5.根据权利要求1所述的设备，其中所述ecm电路被配置成接收来自所述存储器阵列的存储器单元的读取数据和来自所述查找表的所述所选测试样式，并且基于所述读取数据与所述所选测试样式的比较，产生所述结果信息。6.根据权利要求1所述的设备，其另外包括测试接口电路，所述测试接口电路被配置成接收来自所述da端子的所述多个测试样式并将其存储于所述查找表中，并且将来自所述ecm电路的所述结果信息提供给所述da端子。7.根据权利要求6所述的设备，其中所述测试接口电路是ieee 1500接口电路。8.一种设备，其包括：直接存取(da)端子；至少一个核心裸片，其包含多个存储器单元；和接口裸片，其被配置成存储多个测试样式，其中所述接口裸片被配置成通过所述da端子接收与所述多个存储器单元中的至少一个相关联的地址以及与所述多个测试样式中的一个所选测试样式相关联的索引指针，并且将所述多个测试样式中的所述所选测试样式存储到与所述地址相关联的所述存储器单元。9.根据权利要求8所述的设备，其中所述接口裸片被进一步配置成从所述存储器单元读取所述多个测试样式中的所述所选测试样式，将所述读取测试样式与所述多个测试样式中的所述所选测试样式进行比较，并且基于所述比较产生结果信息。10.根据权利要求9所述的设备，其中所述接口裸片被配置成将所述结果信息提供给所述da端子。11.根据权利要求8所述的设备，其中所述接口裸片包括被配置成存储所述多个测试样式的查找表。
12.根据权利要求11所述的设备，其中在所述设备的第一操作模式中通过所述da端子将所述多个测试样式加载到所述查找表中，且其中作为所述设备的第二操作模式的部分，将所述地址和所述索引指针提供给所述da端子。13.根据权利要求12所述的设备，其另外包括测试接口电路，所述测试接口电路被配置成在所述设备处于所述第一操作模式中时接收所述多个测试样式。14.根据权利要求8所述的设备，其中所述da端子包含探测垫。15.一种方法，其包括：在存储器的直接存取端子处接收测试指令；基于所述接收到的测试指令，从存储于所述存储器的查找表中的多个测试样式选择测试样式；将所述测试样式写入到所述存储器的存储器单元；从所述存储器单元读取数据；和将所述测试样式与所述读取数据进行比较并且基于所述比较产生结果信息。16.根据权利要求15所述的方法，其另外包括将所述存储器置于直接存取ieee 1500操作模式中并且在所述ieee 1500操作模式中通过所述直接存取端子读取所述结果信息。17.根据权利要求15所述的方法，其另外包括将所述存储器置于直接存取ieee 1500操作模式中并且将所述多个测试样式存储于所述查找表中。18.根据权利要求15所述的方法，其另外包括存储所述接收到的测试指令且其中将所述测试样式与所述读取数据进行比较包含基于所述所存储的测试指令检索所述测试样式。19.根据权利要求15所述的方法，其中所述测试指令包含与所述所选测试样式相关联的数据指针和与所述存储器单元相关联的地址。20.根据权利要求19所述的方法，其另外包括在时钟信号的上升边沿接收第一地址并且在所述时钟信号的下降边沿接收第二地址。21.一种设备，其包括：存储器装置，其包含直接存取端子；和测试器，其被配置成将所述存储器装置置于第一操作模式中并且将多个测试样式提供给所述直接存取端子，将所述存储器装置置于第二操作模式中并且将至少一个测试指令提供给所述直接存取端子，和将所述存储器装置置于所述第一操作模式中并且接收与所述至少一个测试指令相关联的结果信息。22.根据权利要求21所述的设备，其中所述第一操作模式是直接存取ieee 1500模式。23.根据权利要求21所述的设备，其中所述至少一个测试指令包含地址和与所述多个测试样式中的一个相关联的数据指针。24.根据权利要求23所述的设备，其中所述数据指针包含第一数目的位且其中所述多个测试样式中的每一个包含大于所述第一数目的位的第二数目的位。
技术总结
本公开的实施例描绘用于直接存取混合测试的设备、系统和方法。例如高带宽存储器(HBM)的存储器装置可包含直接存取端子。在测试程序期间，可通过所述直接存取端子将测试指令提供给所述存储器。所述测试指令包含与预加载于所述存储器中的多个测试样式中的一个相关联的数据指针和地址。所述所选测试样式可写入到与所述地址相关联的所述存储器单元并且随后从与所述地址相关联的所述存储器单元读取。所述读取测试样式可与所述所选测试样式进行比较以产生结果信息。在不同于其中提供所述测试指令的所述操作模式的操作模式中，所述测试样式可加载到所述存储器，并且可从所述存储器读出所述结果信息。所述结果信息。所述结果信息。
技术研发人员：堂野千晶 近藤力 R
受保护的技术使用者：美光科技公司
技术研发日：2020.10.01
技术公布日：2022/4/26