技术特征：
1.一种电晕放电通道折射率分布的计算方法，其特征在于，包括：基于预先搭建的直线型纹影光路获取电晕放电纹影图像，并根据所述电晕放电纹影图像确定目标放电通道对应的光线偏折角校正曲线；基于所述光线偏折角校正曲线以及所述电晕放电纹影图像中各个像素点的灰度值，确定所述电晕放电纹影图像中各像素点对应的原始偏折角；利用预设的数据插值法对所述各像素点对应的原始偏折角进行插值处理，得到插值处理后的偏折角数据点，根据所述偏折角数据点确定所述目标放电通道的轴心，并基于所述轴心确定所述电晕放电纹影图像的轴对称坐标系；基于预设的abel积分公式以及所述轴对称坐标系确定偏折角数据点与折射率的对应关系，并采用改进型高斯—勒让德方法对所述abel积分公式的奇点进行逼近求解；根据逼近求解后的奇点以及所述偏折角数据点与折射率的对应关系，计算得到所述目标放电通道的折射率径向分布数据。2.根据权利要求1所述的电晕放电通道折射率分布的计算方法，其特征在于，所述根据所述电晕放电纹影图像确定目标放电通道对应的光线偏折角校正曲线，包括：采用校正纹影法确定所述电晕放电纹影图像中各像素点的光偏移量与灰度变化量的定量关系；基于所述光偏移量与灰度变化量的定量关系确定所述目标放电通道对应的光线偏折角校正曲线。3.根据权利要求1所述的电晕放电通道折射率分布的计算方法，其特征在于，所述预设的数据插值法为采用双立方插值法。4.根据权利要求1所述的电晕放电通道折射率分布的计算方法，其特征在于，对所述abel积分公式的奇点进行逼近求解为采用线性拟合法。5.一种电晕放电通道折射率分布的计算装置，其特征在于，包括：曲线校正模块，用于基于预先搭建的直线型纹影光路获取电晕放电纹影图像，并根据所述电晕放电纹影图像确定目标放电通道对应的光线偏折角校正曲线；偏折角确定模块，用于基于所述光线偏折角校正曲线以及所述电晕放电纹影图像中各个像素点的灰度值，确定所述电晕放电纹影图像中各像素点对应的原始偏折角；轴心确定模块，用于利用预设的数据插值法对所述各像素点对应的原始偏折角进行插值处理，得到插值处理后的偏折角数据点，根据所述偏折角数据点确定所述目标放电通道的轴心，并基于所述轴心确定所述电晕放电纹影图像的轴对称坐标系；奇点求解模块，用于基于预设的abel积分公式以及所述轴对称坐标系确定偏折角数据点与折射率的对应关系，并采用改进型高斯—勒让德方法对所述abel积分公式的奇点进行逼近求解；分布计算模块，用于根据逼近求解后的奇点以及所述偏折角数据点与折射率的对应关系，计算得到所述目标放电通道的折射率径向分布数据。6.根据权利要求5所述的电晕放电通道折射率分布的计算装置，其特征在于，所述曲线校正模块具体用于：采用校正纹影法确定所述电晕放电纹影图像中各像素点的光偏移量与灰度变化量的定量关系；
基于所述光偏移量与灰度变化量的定量关系确定所述目标放电通道对应的光线偏折角校正曲线。7.根据权利要求5所述的电晕放电通道折射率分布的计算装置，其特征在于，所述预设的数据插值法为采用双立方插值法。8.根据权利要求5所述的电晕放电通道折射率分布的计算装置，其特征在于，对所述abel积分公式的奇点进行逼近求解为采用线性拟合法。9.一种终端设备，包括处理器和存储有计算机程序的存储器，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至4任一项所述的电晕放电通道折射率分布的计算方法。10.一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至4任一项所述的电晕放电通道折射率分布的计算方法。
技术总结
本发明提供一种电晕放电通道折射率分布的计算方法、装置、设备及存储介质，所述方法包括：获取电晕放电纹影图像，确定目标放电通道对应的光线偏折角校正曲线；确定电晕放电纹影图像中各像素点对应的原始偏折角；对各像素点对应的原始偏折角进行插值处理，根据偏折角数据点确定目标放电通道的轴心，并确定电晕放电纹影图像的轴对称坐标系；基于预设的Abel积分公式以及轴对称坐标系确定偏折角数据点与折射率的对应关系，并对Abel积分公式的奇点进行逼近求解；根据逼近求解后的奇点以及偏折角数据点与折射率的对应关系，计算得到目标放电通道的折射率径向分布数据。本发明能够增加电晕放电检测技术提供的参考信息量，以满足对电晕放电的定量分析需求。放电的定量分析需求。放电的定量分析需求。
技术研发人员：孟维 李丽
受保护的技术使用者：广东电网有限责任公司电力科学研究院
技术研发日：2022.11.21
技术公布日：2023/3/6