r>[0042]请参考图1，其示出了本发明部分示例性实施例所涉及的测试场景的示意图。如图1所示，该测试场景中包括测试组件110和示波器120。
[0043]该测试组件110包括连接器111和测试主板112。
[0044]连接器111的管脚包括对应于每路测试信号的输入管脚和输出管脚。其中，输入管脚的封装与终端主板中的共模滤波器的输入管脚或者输出管脚的封装相同。
[0045]终端主板是指需要进行MIPI D-PHY测试的主板，该终端主板可以为手机主板，也可以为其他主板，本实施例对此并不做限定。并且，本实施例所说的封装相同是指连接器111的各个输入管脚之间的相对位置与共模滤波器中的各个输入管脚之间的相对位置相同，或者，与共模滤波器中的各个输出管脚之间的相对位置相同。
[0046]可选的，连接器111中还可以包括对应于每路测试信号的接地管脚。并且，当连接器111的输入管脚与共模滤波器的输入管脚的封装相同时，该接地管脚和输入管脚之间的相对位置与终端主板中的共模滤波器的输入管脚和终端主板中的地线之间的相对位置相同；类似的，当连接器111的输入管脚与共模滤波器的输出管脚的封装相同时，该接地管脚和输入管脚之间的相对位置与终端主板中的共模滤波器的输出管脚和终端主板中的地线之间的相对位置相同。实际实现时，各路测试信号可以共用同一个接地管脚，也可以使用不同接地管脚，本实施例对此并不做限定。
[0047]实际实现时，终端主板中的共模滤波器可以有一个，也可以有η个。
[0048]当共模滤波器有一个时，连接器111可以为输入管脚与该共模滤波器的输入管脚或者输出管脚封装相同的器件。
[0049]而当共模滤波器有η个时，连接器111可以相应的包括η个连接组件。每个连接组件的输入管脚的封装与η个共模滤波器中的一个共模滤波器的输入管脚或者输出管脚的封装对应相同，η为大于I的整数;其中，不同连接组件对应于不同共模滤波器。
[0050]比如，以共模滤波器有3个且连接器111的输入管脚的封装与共模滤波器的输入管脚的封装相同来举例，连接器111可以包括连接组件1、连接组件2和连接组件3共3个连接组件;且，连接组件I的输入管脚的封装与共模滤波器I的输入管脚的封装相同，连接组件2的输入管脚的封装与共模滤波器2的输入管脚的封装相同，连接组件3的输入管脚的封装与共模滤波器3的输入管脚的封装相同。
[0051]连接器111的输出管脚与测试主板112中的第一连接组件112a匹配。这里所说的匹配是指输出管脚的结构与第一连接组件112a的结构匹配，这样两者即可电性相连。
[0052]可选的，为了使得信号能够通过连接器111，连接器111的内部需要连通，也即连接器111的输入管脚和输出管脚通过连接线短接。比如，以对终端主板进行MIPI D-PHY测试为例，测试信号可以包括CLK+，CLK-，LANEO+和LANEO-，则请参考图2，连接器中每路测试信号的输入管脚和输出管脚均短接。
[0053]为了保证测试的准确度，连接器111的特性阻抗需要符合MIPI的测试需求，本实施例对此并不做限定。
[0054]连接器111，用于在对终端主板进行MIPI D-PHY测试时替换终端主板中的共模滤波器。由于连接器111的输入管脚的封装与共模滤波器的输入管脚或者输出管脚的封装相同，因此，在对终端主板进行MIPI D-PHY测试时，测试人员可以将终端主板中的共模滤波器取下，并且当连接器111的输入管脚的封装与共模滤波器的输入管脚的封装相同时，测试人员可以将该连接器111的输入管脚焊接在共模滤波器的输入管脚所对应的位置处;类似的，当连接器111的输入管脚的封装与共模滤波器的输出管脚的封装相同时，测试人员可以将连接器111的输入管脚焊接在共模滤波器的输出管脚所对应的位置处。
[0055]由于在终端主板中焊接连接器111的管脚的焊接难度远远低于在共模滤波器中焊接连接线的难度，所以这就很好的简化了测试人员的测试难度。
[0056]测试主板112包括第一连接组件112a和第二连接组件112b。
[0057]连接器111用于在对终端主板进行MIPI D-PHY测试时与测试主板112中的第一连接组件112a电性连接。
[0058]可选的，连接器111与第一连接组件112a电性连接的连接方式可以包括如下三种可能的实现方式。
[0059]第一种，连接器111的输出管脚封装为第一接口，第一连接组件112a为从测试主板112内延伸至测试主板112外的?03(?1'；[1^6(1 Circuit Board，印制电路板)或者线路，PCB板或者线路的末端设置有与第一接口匹配的接头。
[0060]比如，连接器111可以为公头，第一连接组件112a为测试主板112中延伸至测试主板112外部的线路，该线路的末端可以设置有与该公头匹配的母头。
[0061]第二种，连接器111的输出管脚封装为第一接口，第一连接组件112a为第二接口；连接器111和第一连接组件112a通过预设线路连接。其中，预设线路的一端与第一接口匹配，预设线路的另一端与第二接口匹配。
[0062]比如，请参考图3，其示出了连接器111和第一连接组件112a的连接示意图。
[0063]第三种，连接器111的输出管脚封装为连接线的连接头，第一连接组件112a为与连接头匹配的第二接口。
[0064]比如，请参考图4，其示出了连接器111与第一连接组件112a的另一种连接示意图。
[0065]实际实现时，为了保证测试的准确度，在测试信号包括CLK+，CLK-，LANEO +和LANEO-时，连接器111和第一连接组件112a之间的每路测试信号所对应的信号线的长度相同。
[0066]通过保证连接器111和第一连接组件112a之间的每路测试信号所对应的信号线的长度相同，避免了信号传输过程中由于信号线长度的不同而导致的测试信号出现误差最终测试不准确的问题。
[0067]在将连接器111和测试主板112中的第一连接组件112a电性连接之后，连接器111即可将终端主板中产生的测试信号连接至测试主板112。
[0068]测试主板112中的第二连接组件112b为与示波器120的探头匹配的连接部。可选的，结合图1，该第二连接组件112b可以为与探头匹配的连接孔。
[0069]在将第二连接组件112b与示波器120的探头连接之后，测试信号可以连接至示波器 120。
[0070]实际实现时，为了保证测试的准确度，测试主板112中的特性阻抗符合MIPI的测试要求。
[0071 ] 并且，在测试信号包括CLK+，CLK-，LANEO+和LANEO-时，第一连接组件112a和第二连接组件112b之间的每路测试信号所对应的信号线的长度相同。
[0072]通过保证第一连接组件112a和第二连接组件112b之间的每路测试信号所对应的信号线等长，提高了信号测试的测试准确度。
[0073]此外，为了减少信号传输过程中，对测试信号的影响，第一连接组件112a和第二连接组件112b之间的信号线尽可能的短。
[0074]基于上述测试组件，测试人员需要对终端主板进行MIPI D-PHY测试时，测试人员将终端主板中的共模滤波器取下，并将共模滤波器的输