技术特征：
1.一种内存测试方法，其特征在于，包括：控制待测内存的至少一个工作电压和/或运行频率按照预设规则进行变化；以及在变化中的至少一个工作电压和/或运行频率下，控制执行至少一个图形算法，以对所述待测内存进行测试。2.如权利要求1中所述的方法，其特征在于，所述预设规则包括间隔预设时间等值下降的规则、间隔预设时间等值上升的规则和随机变化的规则中至少一个。3.如权利要求2中所述的方法，其特征在于，所述控制所述待测内存的至少一个工作电压和/或运行频率按照预设规则进行变化，包括：控制所述待测内存的至少一个工作电压按照所述间隔预设时间等值下降的规则、所述间隔预设时间等值上升的规则或所述随机变化的规则进行变化。4.如权利要求2中所述的方法，其特征在于，所述控制所述待测内存的至少一个工作电压和/或运行频率按照预设规则进行变化，包括：控制所述待测内存的运行频率按照所述间隔预设时间等值下降的规则、所述间隔预设时间等值上升的规则或所述随机变化的规则进行变化。5.如权利要求2中所述的方法，其特征在于，所述控制所述待测内存的至少一个工作电压和/或运行频率按照预设规则进行变化，包括：控制所述待测内存的至少一个工作电压按照所述间隔预设时间等值下降的规则、所述间隔预设时间等值上升的规则或所述随机变化的规则进行变化；以及控制所述待测内存的运行频率按照所述间隔预设时间等值下降的规则、所述间隔预设时间等值上升的规则或所述随机变化进行变化。6.如权利要求1-5中任一项所述的方法，其特征在于，进一步包括：控制对所述待测内存执行读写测试，以获取所述待测内存读取的数据和写入的数据；判断所述读取的数据与所述写入的数据是否一致，若是，则所述待测内存通过所述至少一个图形算法所对应的测试。7.如权利要求1-5中任一项所述的方法，其特征在于，所述至少一个图形算法包括全0/全1图形算法、奇偶校验板图形算法和齐步图形算法。8.如权利要求1-5中任一项所述的方法，其特征在于，所述待测内存包括ddr和lpddr。9.如权利要求8中所述的方法，其特征在于，所述至少一个工作电压包括第一工作电压vdd、第二工作电压vdd1、第三工作电压vdd2和第四工作电压vddq中的至少一个。10.一种内存测试设备，其特征在于，包括与内存连接的控制电路和与所述控制电路连接的存储电路，其中，所述存储电路存储有测试程序，在执行时使得所述控制电路执行如权利要求1-9中所述的内存测试方法。