[0187] (1)第1中间层（记录层支持层）的形成
[0188] 采用与上述实施例1相同的方法形成。
[0189] (2)记录层的形成
[0190] 将化合物E用PGMEA(丙二醇单甲醚醋酸酯）稀释，制备固体成分浓度为13质量％ 的涂布液。用旋涂法在第1中间层上涂布该涂布液使得厚度为1ym，从而形成记录层。需 要说明的是，将涂布液中的化合物E的浓度调整为使得1ym记录层的光吸收率为8%。
[0191] (3)第2中间层（粘合剂层）的形成
[0192] 采用与上述实施例1相同的方法形成。
[0193] (4)覆盖层的形成
[0194] 采用与上述实施例1相同的方法形成。
[0195][比较例4]
[0196](1)第1中间层（记录层支持层）的形成
[0197] 采用与上述实施例1相同的方法形成。
[0198] (2)记录层的形成
[0199] 将化合物F与聚甲基丙稀酸苄基酯（Sigma-Aldrich公司制，Mw~70, 000)以质 量比为22:78的比例溶于甲乙酮中，制备固体成分浓度为9质量％的涂布液。用旋涂法在 第1中间层上涂布该涂布液使得厚度为1ym，从而形成记录层。需要说明的是，将涂布液中 化合物F的浓度调整为使得1ym记录层的光吸收率为8%。
[0200] (3)第2中间层（粘合剂层）的形成
[0201] 采用与上述实施例1相同的方法形成。
[0202] (4)覆盖层的形成
[0203] 采用与上述实施例1相同的方法形成。
[0204]〈性能评价〉
[0205](1)记录层的吸收率的评价
[0206] 用旋涂法在石英玻璃上涂布在上述记录层形成过程中制备的、溶剂中溶解有记录 材料的涂布液使得厚度为1ym，分别制备各实施例和比较例的只形成有记录层的样品。接 着，通过分光光度计（株式会社岛津制作所制造的UV3100-PC)测定各样品（记录层）在波 长405nm处的吸光度。需要说明的是，基线通过仅有石英玻璃时的测定值来进行校正。
[0207] 通过下式由所得到的吸光度来计算光吸收率（％ )。
[0208] 光吸收率=(1-10 (吸光度)）X100
[0209] 结果，确认了全部实施例和比较例中光吸收率为8%。
[0210] (2)高分子化合物与染料的耦合强度的评价
[0211] 在测定回波峰位移时，使用钛-蓝宝石激光器的再生放大光的二次谐波（400nm， 60fs，重复频率1kHz)作为激发光。用电子束分裂器将产生的脉冲分为三个，3个电子束以 构成正三角形的方式入射到凹透镜中，通过直进镜台（LinearStage)控制各脉冲间的时间 间隔。用2个硅光二极管检测来自样品的在满足相位匹配条件的方向（-ki+h+kyki-h+ig 上产生的回波信号（诱导光子回波和虚拟回波），通过2台锁相放大器进行积分计算。
[0212] 需要说明的是，回波峰位移测定是通过上述参考文献[1]中记载的3脉冲?光子 回波测定进行的。具体来说，固定第2脉冲和第3脉冲的时间间隔（PopulationTime，T)， 相对于第1和第2脉冲的间隔（CoherentTime，t)来绘制诱导光子回波和虚拟回波的信 号强度。求出2个回波信号的强度峰值的时间间隔，并且相对于T来绘制其1/2值，由此进 行回波峰位移测定。
[0213] 结果，如图6所示，得到各样品的耦合强度值。实施例1和对比例1使用了相同的 染料，但是，与染料分散于高分子化合物中的比较例1相比，染料结合至高分子化合物上的 实施例1的耦合强度较大。另外，实施例2和比较例2也使用了相同的染料，但是，与染料 分散于高分子化合物中的比较例2相比，染料结合至高分子化合物上的实施例2的耦合强 度较大。
[0214] 另一方面，比较例3和比较例4使用了相同的染料，但是，染料结合至高分子化合 物上的比较例3和染料分散于高分子化合物中的比较例4的耦合强度相同。
[0215] (3)记录性能的评价
[0216][记录再现评价装置]
[0217] 对各实施例和比较例的各光学信息记录介质的记录再现使用与通常的BD读取光 学系统相同的系统，并且使用八少只亍7夕工业株式会社制造的0DU-1000作为由主轴电 机和记录再现激光、光接收元件等构成的评价系统的控制单元。使用波长405nm的半导体 激光器作为激光光源，并使用开口数（NA) 0. 85的物镜作为物镜，监测来自记录层的反射光 从而得到再现信号。将反射光的一部分导入到聚焦控制用的光接收元件中，并通过控制物 镜的位置来进行聚焦控制。
[0218] 使用上述记录再现评价装置，通过下述记录条件对各实施例和比较例的光学信 息记录介质进行记录，其后，通过下述再现条件得到再现信号从而评价CNR(Carrierto Noiseratio,载噪比）。需要说明的是，调整记录时的激光器光束的功率使得CNR最高。
[0219] 记录条件线速度：2m/s
[0220] 脉冲发光时间：50ns
[0221] 脉冲发光周期：6. 7MHz
[0222] 再现条件线速度：2m/s
[0223] 读出光的峰值功率：lmW
[0224] 结果，如图6所示，实施例1能够以比比较例1小的记录功率进行记录，其中在实 施例1中，由于染料结合到高分子化合物上，与染料分散于高分子化合物中的情况相比，耦 合强度变大。即，观察到由于染料和高分子化合物的结合而提高了灵敏度。实施例2也能 够以比比较例2小的记录功率进行记录，并观察到由于染料和高分子化合物的结合而提高 了灵敏度。
[0225] 另一方面，比较例3可以以与比较例4相同的记录功率进行记录，没有观察到由于 染料和高分子化合物的结合导致的灵敏度提高。（3)保存性能的评价
[0226] 对于各实施例和比较例的各光学信息记录介质，对来自记录层与中间层（粘合剂 层）的界面的反射光强度进行测定后，在80°C、85%RH的环境下保存各光学信息记录介质， 并在100小时后测定来自记录层与中间层（粘合剂层）的界面的反射光强度。需要说明的 是，反射光强度的测定使用了多层膜厚测定器SI-TS10(株式会社年一工>只制造）。
[0227] 结果确认了：实施例1、实施例2和比较例3中，100小时后的反射光强度表现出为 保存前的反射光强度的90%这样高的值，反射光强度的变化小。这意味着含有结合有染料 的高分子化合物的光学信息记录介质即使在高温多湿条件下保存，记录层中的染料也难以 扩散至中间层，意味着保存稳定性良好。另一方面，确认了：比较例1、比较例2和比较例4 中，100小时后的反射光强度低至保存前的反射光强度的50%以下，反射光强度的变化大。 这意味着染料分散在高分子粘结剂中而成的光学信息记录介质在高温多湿条件下保存时， 记录层中的染料容易扩散至中间层，意味着由于界面反射强度显著降低，再现信号显著劣 化。
[0228] 由以上所述确认了 ：使用了染料结合至高分子化合物上的记录材料的光学信息记 录介质的长期稳定性优异。
【主权项】
1. 一种光学信息记录介质，其具有1个以上的记录层，其特征在于， 所述记录层包含单光子吸收染料结合至高分子化合物而形成的记录材料， 与所述单光子吸收染料分散于所述高分子化合物中的状态相比，所述记录材料中所述 高分子化合物与所述单光子吸收染料的耦合强度A2较大。2. 根据权利要求1所述的光学信息记录介质，其特征在于，所述高分子化合物和所述 单光子吸收染料的结合所涉及的原子数小于10个。3. 根据权利要求1或2所述的光学信息记录介质，其特征在于，在所述记录层彼此之间 设置有中间层。4. 根据权利要求3所述的光学信息记录介质，其特征在于，所述记录层在与夹着该记 录层的中间层之间形成第1界面和第2界面，并且通过所述单光子吸收染料吸收记录光所 产生的热而发生变形，从而在所述第1界面和所述第2界面中至少一者的界面处形成朝向 所述中间层的凸出形状以记录信息。5. 根据权利要求4所述的光学信息记录介质，其特征在于，所述记录层的厚度为50nm 以上。6. 根据权利要求4所述的光学信息记录介质，其特征在于，形成了其中形成有所述凸 出形状的界面的中间层比所述记录层软。7. 根据权利要求4所述的光学信息记录介质，其特征在于，形成了其中形成有所述凸 出形状的界面的中间层的玻璃化转变温度低于所述记录层的玻璃化转变温度。8. 根据权利要求4所述的光学信息记录介质，其特征在于，形成了其中形成有所述凸 出形状的界面的中间层为粘合剂层。9. 根据权利要求4所述的光学信息记录介质，其特征在于，通过记录光的照射，所述第 1界面和所述第2界面中，仅在一个界面处形成所述凸出形状，而在另一界面处未形成所述 凸出形状， 形成了其中形成有所述凸出形状的界面的中间层与所述记录层的折射率差大于形成 了其中未形成有所述凸出形状的界面的中间层与所述记录层的折射率差。10. 根据权利要求9所述的光学信息记录介质，其特征在于，形成了其中未形成有所述 凸出形状的界面的中间层的折射率与所述记录层的折射率的差为〇. 05以下。
【专利摘要】本发明提供一种保存性等长期稳定性优异、且可利用峰值功率小的激光器进行记录的光学信息记录介质。光学信息记录介质10具有1个以上的记录层14。记录层14包含单光子吸收染料结合至高分子化合物而形成的记录材料，与单光子吸收染料分散于高分子化合物中的状态相比，该记录材料中高分子化合物与单光子吸收染料的耦合强度较大。
【IPC分类】B41M5/26, G11B7/24038, G11B7/24035, G11B7/24, G11B7/244
【公开号】CN105027205
【申请号】CN201480012971
【发明人】望月英宏, 渡边哲也, 佐佐木俊央, 见上龙雄, 中村巧
【申请人】富士胶片株式会社
【公开日】2015年11月4日
【申请日】2014年1月22日
【公告号】WO2014136486A1