ADC-DAC测试装置的制作方法

本实用新型属于测试仪器技术领域，具体地来说，是一种ADC-DAC测试装置。

背景技术：

在信号处理中，模拟信号与数字信号之间常常需要通过信号转换模块进行信号转换。一般地，信号转换模块包括ADC与DAC。ADC(Analog-to-Digital Converter，模数转换器)是将模拟信号转换为数字信号的器件，DAC(Digital-to-Analog Converter，数模转换器)是将数字信号转换为模拟信号的器件。随着电路电子技术的发展，ADC/DAC的应用与日俱增，需求量快速增长。

为了满足产业需要，ADC/DAC的产能迅速增加。ADC/DAC的测试任务量随之迅速增加，给生产企业带来新的挑战。传统的模块测试作业中，测试人员以电缆直接连接测试主板与被测试模块，由测试主板实现电性测试。这种操作要求测试人员反复连接不同的被测试模块，效率低下、错误率高，严重依赖于工人的经验水平，且测试主板直接暴露而安全性低，难以满足大批量生产的需要，制约了ADC/DAC的产能提升。

技术实现要素：

为了克服现有技术的不足，本实用新型提供了一种ADC-DAC测试装置，可实现快速高效的标准化测试，摆脱对工人经验水平的依赖，适应大批量生产的需要。

本实用新型的目的通过以下技术方案来实现：

一种ADC-DAC测试装置，包括：

测试箱，用于密闭安装测试主板；

承载单元，设置于所述测试箱的外表面，用于承载被测试模块；

探针组，包括复数个弹簧探针，所述弹簧探针贯穿所述测试箱的内外壁面，所述弹簧探针一端与所述测试主板的连接触点电性连接，另一端突出于所述测试箱的外表面；

压紧机构，设置于所述测试箱的外表面，用于将所述被测试模块的连接触点压紧于所述弹簧探针远离所述测试主板的一端上。

作为上述技术方案的改进，所述测试箱包括相互铰接的上箱体与下箱体，所述上箱体与所述下箱体包围而成安装容腔，所述安装容腔用于密闭安装所述测试主板，所述承载单元与所述压紧机构分别设置于所述上箱体上，所述弹簧探针可弹性伸缩地贯穿所述上箱体。

作为上述技术方案的进一步改进，所述上箱体与所述下箱体之间设有用于锁紧二者的锁扣。

作为上述技术方案的进一步改进，所述承载单元包括承载托盘与设置于所述承载托盘上的绝缘承载部，所述绝缘承载部用于绝缘承载所述被测试模块。

作为上述技术方案的进一步改进，所述承载托盘上设有用于对所述被测试模块侧向限位的侧向限位部，所述侧向限位部位于所述绝缘承载部的外周。

作为上述技术方案的进一步改进，所述压紧机构包括导杆、导套与压紧作用件，所述导杆固设于所述测试箱的外表面，所述导套可滑动地保持于所述导杆上，所述导套与所述压紧作用件固定连接。

作为上述技术方案的进一步改进，所述压紧作用件包括压板与固设于所述压板上的顶销，所述顶销用于顶紧所述被测试模块。

作为上述技术方案的进一步改进，所述压紧作用件连接有用于驱动其滑动的驱动件，所述驱动件为驱动把手或驱动电机。

作为上述技术方案的进一步改进，所述承载单元、所述探针组与所述压紧机构一一对应地设置，并与所述被测试模块的类型相适应，所述被测试模块的类型包括ADC与DAC。

作为上述技术方案的进一步改进，所述承载单元为复数个，分别承载ADC型被测试模块与DAC型被测试模块。

本实用新型的有益效果是：

以测试箱密闭安装测试主板而避免测试主板的暴露，以承载单元紧密承载被测试模块，并由压紧机构压紧被测试模块于弹簧探针上，通过探针组的弹簧探针实现测试主板与被测试模块的电性连接，适应具有不同触点布局的ADC/DAC模块的连接测试，实现于一致性基准下的标准化操作，保证测试效率与测试精度，摆脱对工人经验水平的依赖，具有快速高效的优点，适应大批量生产的需要。

为使本实用新型的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1是本实用新型实施例1提供的ADC-DAC测试装置的第一轴测示意图；

图2是本实用新型实施例1提供的ADC-DAC测试装置的平视示意图；

图3是本实用新型实施例1提供的ADC-DAC测试装置的第二轴测示意图；

图4是图3中ADC-DAC测试装置的M处放大示意图；

图5是本实用新型实施例1提供的ADC-DAC测试装置的第三轴测示意图。

主要元件符号说明：

1000-ADC-DAC测试装置，0100-测试箱，0110-上箱体，0120-下箱体，0130-合页，0140-锁扣，0200-承载单元，0210-承载托盘，0220-绝缘承载部，0221-绝缘承载触点，0230-侧向限位部，0231-侧限位柱，0300-探针组，0310-弹簧探针，0400-压紧机构，0410-导杆，0420-导套，0430-压紧作用件，0431-压板，0432-顶销，0440-驱动件，0450-传动杆，0500-通断开关。

具体实施方式

为了便于理解本实用新型，下面将参照相关附图对ADC-DAC测试装置进行更全面的描述。附图中给出了ADC-DAC测试装置的优选实施例。但是，ADC-DAC测试装置可以通过许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对ADC-DAC测试装置的公开内容更加透彻全面。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。相反，当元件被称作“直接在”另一元件“上”时，不存在中间元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在ADC-DAC测试装置的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在限制本实用新型。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

实施例1

请结合参阅图1～5，本实施例公开一种ADC-DAC测试装置1000，该测试装置包括测试箱0100、承载单元0200、探针组0300与压紧机构0400，用于提供一种标准化测试治具，实现标准化测试而保证测试效率与精度。

测试箱0100用于密闭安装测试主板，避免测试主板暴露，从而保证测试主板的安全。可以理解，测试箱0100具有可启闭结构，便于测试人员对测试主板进行安装或更换。测试主板承载常规的ADC/DAC测试电路，当与被测试模块电路接通后即可进行测试。

可以理解，由于ADC与DAC的电路结构之差异，ADC测试电路与DAC测试电路亦有不同，使测试主板与被测试模块的类型相对应。换言之，当被测试模块为ADC时，选配承载ADC测试电路的测试主板；当被测试模块为DAC时，选配承载DAC测试电路的测试主板。示范性地，测试箱0100分别设置用于测试ADC与DAC的测试主板，分别实现对应测试。

测试箱0100的可启闭结构实现方式众多，包括旋转启合、滑动启合等类型。示范性地，测试箱0100包括相互铰接的上箱体0110与下箱体0120，形成旋转启合结构。示范性地，上箱体0110与下箱体0120通过合页0130铰接。合页0130具有两折式构造，两折分别连接上箱体0110与下箱体0120，实现上箱体0110与下箱体0120的活动连接。

上箱体0110与下箱体0120包围而成安装容腔，下箱体0120用于保持于桌面或地面，上箱体0110保持于下箱体0120上。安装容腔用于密闭安装测试主板，隔绝测试主板与外界环境；承载单元0200、探针组0300与压紧机构0400分别设置于上箱体0110上，实现可靠安装。

示范性地，上箱体0110与下箱体0120之间设有用于锁紧二者的锁扣0140。当锁扣0140打开时，上箱体0110与下箱体0120得以分离开启；当锁扣0140锁紧时，上箱体0110与下箱体0120保持紧密固定，保证安装容腔的封闭。

承载单元0200设置于测试箱0100的外表面(例如上箱体0110的上表面)，用于承载被测试模块，实现被测试模块与测试主板的相对位置的标准化定位。

换言之，由于承载单元0200与测试箱0100的相对位置保持固定，被测试模块与测试主板的相对位置实现标准化与固定化，避免传统电缆连接的位置不定、摆放混乱的问题，保证电性连接的结构可靠性与测试结果的数据可靠性。

示范性地，承载单元0200、探针组0300与压紧机构0400一一对应地设置，并与被测试模块的类型相适应。换言之，承载单元0200、探针组0300与压紧机构0400适配于一被测试模块。其中，被测试模块的类型包括ADC与DAC。示范性地，承载单元0200为复数个，分别承载ADC型被测试模块与DAC型被测试模块。

例如，每一承载单元0200仅承载一个被测试模块，使被测试模块与承载单元0200的数量一致。其中，复数个被测试模块至少包括一个ADC与一个DAC。由此，在同一测试装置上，可同时进行ADC测试与DAC测试。

承载单元0200的实现方式众多，示范性地，承载单元0200包括承载托盘0210与设置于承载托盘0210上的绝缘承载部0220。承载托盘0210安装于测试箱0100的外表面(例如上箱体0110的上表面)，绝缘承载部0220用于绝缘承载被测试模块。

其中，绝缘承载部0220由绝缘材料(如塑料、橡胶等)制成，保证用电安全与电性连接的可靠性。示范性地，绝缘承载部0220包括复数个绝缘承载触点0221，使承载作用更为均匀。示范性地，承载托盘0210与绝缘承载部0220具有一体成型结构(如一体注塑成型)，增强绝缘安全性能与结构强度。

示范性地，承载托盘0210上设有侧向限位部0230，用于对被测试模块侧向限位，避免被测试模块发生侧向窜动，保证测试过程的定位可靠。可以理解，侧向限位部0230位于绝缘承载部0220的外周，自侧向限制被测试模块。

示范性地，侧向限位部0230包括复数个侧限位柱0231，侧限位柱0231分居被测试模块的外周侧，并与被测试模块相适应。可以理解，侧限位柱0231的自由端位于绝缘承载部0220远离承载托盘0210的一侧，保证限位作用。

探针组0300设置于测试箱0100上(例如上箱体0110上)，包括复数个弹簧探针0310。其中，弹簧探针0310贯穿测试箱0100的内外壁面。相应地，弹簧探针0310一端与测试主板的连接触点电性连接，另一端突出于测试箱0100的外表面而可实现与被测试模块的连接触点的电性连接。

示范性地，上箱体0110上设有贯穿其上下壁面的贯通孔。弹簧探针0310嵌入设置于贯通孔内，且两端触头分别突出于贯通孔的外部。弹簧探针0310属于弹针的一种类型，包括针管及设置于针管的管道两端的端部触头，两个端部触头之间通过弹簧连接。弹簧探针0310一端的端部触头与测试主板始终保持接触，另一端的端部触头突出于上箱体0110的外表面而形成自由端。

示范性地，上箱体0110上的贯通孔为复数个，并与弹簧探针0310一一对应。复数个弹簧探针0310之间相互绝缘，且彼此保持平行阵列，形成多个可供利用的触点，适应具有不同的连接触点布局的被测试模块，保证良好的电性接触。

压紧机构0400设置于测试箱0100的外表面，用于将被测试模块的连接触点压紧于弹簧探针0310远离测试主板的一端上。示范性地，弹簧探针0310一并贯穿承载托盘0210，以保证与被测试模块的电性连接。

压紧机构0400的实现方式众多，包括螺旋旋转式、直线运动式等类型。示范性地，压紧机构0400包括导杆0410、导套0420与压紧作用件0430，以直线往复运动而实现夹紧目的。

其中，导杆0410固设于测试箱0100的外表面，导套0420可滑动地保持于导杆0410上，导杆0410与导套0420形成直线运动配合。导套0420与压紧作用件0430固定连接，带动后者直线往复而作用于被测试模块上。示范性地，导杆0410的延伸方向与弹簧探针0310的弹簧伸缩方向一致，保证运动方向一致而避免干涉。可以理解，导杆0410可以由导轨进行替换，导套0420可以由滑块进行替换，亦可实现直线运动配合。

压紧作用件0430的结构形式众多，示范性地，压紧作用件0430包括压板0431与固设于压板0431上的顶销0432。其中，顶销0432设置于压板0431面向被测试模块的一侧表面，用于顶紧被测试模块。示范性地，顶销0432的数量可为一至复数个。当顶销0432为复数个时，顶销0432之间相互平行。示范性地，顶销0432由塑料制成，弹性较佳而避免损伤被测试模块。

示范性地，压紧作用件0430还连接有用于驱动其滑动的驱动件0440。驱动件0440的实现方式众多，示范性地，驱动件0440为驱动把手或驱动电机。驱动把手用于手动驱动压紧作用件0430，其形式包括推拉把手、旋转松紧扳手等类型。驱动电机可为旋转电机、直线电机等类型，在旋转电机形式下，驱动电机通过丝杠传动结构驱动压紧作用件0430。示范性地，驱动件0440通过传动杆0450与压紧作用件0430(例如其中的压板0431)固定连接。

示范性地，ADC-DAC测试装置1000还包括通断开关0500，用于控制电源通断而实现对测试主板的启闭控制。示范性地，通断开关0500与测试主板、被测试模块一一对应地设置。通断开关0500的种类众多，包括拨动开关、按键开关、旋转开关等类型。

在这里示出和描述的所有示例中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制，因此，示例性实施例的其他示例可以具有不同的值。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型的保护范围应以所附权利要求为准。