1.一种ADC-DAC测试装置，其特征在于，包括：
测试箱，用于密闭安装测试主板；
承载单元，设置于所述测试箱的外表面，用于承载被测试模块；
探针组，包括复数个弹簧探针，所述弹簧探针贯穿所述测试箱的内外壁面，所述弹簧探针一端与所述测试主板的连接触点电性连接；
压紧机构，设置于所述测试箱的外表面，用于将所述被测试模块的连接触点压紧于所述弹簧探针远离所述测试主板的一端上。
2.根据权利要求1所述的ADC-DAC测试装置，其特征在于，所述测试箱包括相互铰接的上箱体与下箱体，所述上箱体与所述下箱体包围而成安装容腔，所述安装容腔用于密闭安装所述测试主板，所述承载单元与所述压紧机构分别设置于所述上箱体上，所述弹簧探针可弹性伸缩地贯穿所述上箱体。
3.根据权利要求2所述的ADC-DAC测试装置，其特征在于，所述上箱体与所述下箱体之间设有用于锁紧二者的锁扣。
4.根据权利要求1所述的ADC-DAC测试装置，其特征在于，所述承载单元包括承载托盘与设置于所述承载托盘上的绝缘承载部，所述绝缘承载部用于绝缘承载所述被测试模块。
5.根据权利要求4所述的ADC-DAC测试装置，其特征在于，所述承载托盘上设有用于对所述被测试模块侧向限位的侧向限位部，所述侧向限位部位于所述绝缘承载部的外周。
6.根据权利要求1所述的ADC-DAC测试装置，其特征在于，所述压紧机构包括导杆、导套与压紧作用件，所述导杆固设于所述测试箱的外表面，所述导套可滑动地保持于所述导杆上，所述导套与所述压紧作用件固定连接。
7.根据权利要求6所述的ADC-DAC测试装置，其特征在于，所述压紧作用件包括压板与固设于所述压板上的顶销，所述顶销用于顶紧所述被测试模块。
8.根据权利要求6所述的ADC-DAC测试装置，其特征在于，所述压紧作用件连接有用于驱动其滑动的驱动件，所述驱动件为驱动把手或驱动电机。
9.根据权利要求1所述的ADC-DAC测试装置，其特征在于，所述承载单元、所述探针组与所述压紧机构一一对应地设置，并与所述被测试模块的类型相适应，所述被测试模块的类型包括ADC与DAC。
10.根据权利要求9所述的ADC-DAC测试装置，其特征在于，所述承载单元为复数个，复数个承载单元分别承载ADC型被测试模块与DAC型被测试模块。