老化测试连接设备的电路板及基体的制作方法

本实用新型涉及老化测试设备，尤其涉及一种老化测试连接设备的电路板及基体。

背景技术：

测试连接设备常见于对电子设备，如手机、平板电脑等，进行性能测试时的场景。老化测试连接设备是常见的一种类型。老化测试连接设备用于对电子设备的老化程度进行测试，从而得出电子设备抗老化能力以及老化之后设备运行性能。通常的老化测试连接设备中都是通过繁杂的布线来进行连接，布局不佳、结构复杂，有待改进。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于为克服现有技术的以上缺陷，而提供一种老化测试连接设备电路板及基体。

为实现上述目的，本实用新型采用以下技术方案：老化测试连接设备的电路板正面的一侧边的中间位置设有触点a1至a12，电路板背面的对应位置设有触点b1至b12；触点a1至a12及触点b1至b12用于焊接并电连接插头；电路板的中间设有两排可插入铜柱的对称的触点孔，触点孔贯穿电路板正面与背面并连通电路板正面与背面。第一排触点孔依次序为cc1、s-、s+、vbus、gnd和cc2，第二排触点孔依次为d+、d-、bnc+和bnc-，其中触点孔cc1与触点a5电连接，触点孔s-分别与触点a1和触点孔bnc-电连接，触点孔s+分别与触点a4、触点孔bnc+和触点孔vbus电连接，触点孔vbus分别与触点a9、触点孔bnc+和触点孔s+电连接，触点孔gnd与触点孔bnc-电连接，触点孔cc2与触点b5电连接，触点孔d+与触点a6电连接，触点孔d-与触点a7电连接；触点a1穿过电路板并与触点b12电连接，触点a12穿过电路板并与触点b1电连接。

进一步地，触点a1穿过电路板并通过电阻r107与触点b12电连接，触点a12穿过电路板并通过电阻r110与触点b1电连接。

进一步地，触点孔bnc-通过电阻r105与触点孔gnd电连接，触点孔bnc-通过电阻r106与触点孔s-电连接。

进一步地，触点孔bnc+通过电阻r102与触点孔s+电连接，触点孔bnc+通过电阻r103与触点孔vbus电连接，触点孔vbus通过电阻r108与触点孔s+电连接。

本实用新型还公开了老化测试连接设备的基体，其包括以上的老化测试连接器电路板；基体还包括盖板和底板，电路板夹在盖板与底板之间，电路板正面朝向于盖板，电路板背面朝向于底板，电路板上插接的铜柱均贯穿盖板并外露于盖板之外。

进一步地，盖板上对应触点a1至a12的位置上设有让位槽；底板上对应触点b1至b12的位置上同样设有让位槽。

进一步地，盖板和底板通过四个角上通入螺钉实现固定连接。

进一步地，第二排触点孔下方中间的位置穿入一个主螺钉和一个等高铜套，主螺钉穿入等高铜套中，等高铜套贯穿盖板、电路板和底板，主螺钉末端外露于底板之外。

进一步地，底板的背面设有四个围成方形的定位柱。

进一步地，盖板上设有沿着盖板工作表面的法向凸起的隔离台，隔离台与电路板设置触点a1至a12的侧边齐平。

本实用新型与现有技术相比的有益效果是：采用电路板中放置更合理的接触点布局形式，解决了繁杂的布线问题，结构简单化，并且简化了延伸到二级系统线路，满足需求，提高了生产效率，改善了产品质量，产品使用性能也得到提升。

附图说明

图1为本实用新型老化测试连接设备的电路板正面图。

图2为本实用新型老化测试连接设备的电路板背面图。

图3为本实用新型老化测试连接设备的基体装配立体图。

图4、5均为为本实用新型老化测试连接设备的基体分解图。

需要说明的是，以上视图所示产品均为适应图纸大小及视图清楚而进行了适当的缩小/放大，并不对视图所示产品大小加以限制。

具体实施方式

为了更充分理解本实用新型的技术内容，下面结合具体实施例对本实用新型的技术方案作进一步介绍和说明。

本实用新型实施例的具体结构如图1-5所示。

电路板布局和结构如图1-4所示，电路板80的正面的一侧边的中间位置设有触点a1至a12，电路板80背面的对应位置设有触点b1至b12。触点a1至a12及触点b1至b12用于焊接并电连接插头(未示出)。电路板80的中间设有两排可插入铜柱81的对称的触点孔84、85，两排触点孔84、85贯穿电路板80正面与背面并连通电路板80正面与背面。第一排触点孔84依次序为cc1、s-、s+、vbus、gnd和cc2，第二排触点孔85依次为d+、d-、bnc+和bnc-。

其中，触点孔cc1与触点a5电连接，触点孔s-分别与触点a1和触点孔bnc-电连接，触点孔s+分别与触点a4、触点孔bnc+和触点孔vbus电连接，触点孔vbus分别与触点a9、触点孔bnc+和触点孔s+电连接，触点孔gnd与触点孔bnc-电连接，触点孔cc2与触点b5电连接，触点孔d+与触点a6电连接，触点孔d-与触点a7电连接；触点a1穿过电路板并与触点b12电连接，触点a12穿过电路板并与触点b1电连接。

在本实施例中，如图1、2所示，触点a1穿过电路板并通过电阻r107与触点b12电连接，触点a12穿过电路板并通过电阻r110与触点b1电连接。触点孔bnc-通过电阻r105与触点孔gnd电连接，触点孔bnc-通过电阻r106与触点孔s-电连接。触点孔bnc+通过电阻r102与触点孔s+电连接，触点孔bnc+通过电阻r103与触点孔vbus电连接，触点孔vbus通过电阻r108与触点孔s+电连接。

如图3-5所示，电路板80设置触点a1至a12的侧边位置设有沿着触点a1至a12排布方向延伸的凸台83，凸台83延伸长度大于触点a1至a12的距离，凸台83的凸起方向垂直于电路板80的侧边。凸台83与电路板80的侧边连接处的内角为圆角。

如图3-5所示，老化测试连接器基体包括本实施例的电路板80，以及盖板91和底板92，电路板80夹在盖板91与底板92之间，盖板91和底板92通过四个角上通入螺钉94实现固定连接。电路板80正面朝向于盖板91，电路板80背面朝向于底板92，电路板80上插接的铜柱81均贯穿盖板91并外露于盖板91之外。盖板91上对应触点a1至a12的位置上设有让位槽911。底板92上对应触点b1至b12的位置上同样设有让位槽921。底板92的背面设有四个围成方形的定位柱923。

此外，第二排触点孔85下方中间的位置穿入一个主螺钉93和一个等高铜套95，主螺钉93穿入等高铜套95中，等高铜套95贯穿盖板91、电路板80和底板92，主螺钉93末端外露于底板92之外。

此外，盖板91上设有沿着盖板91工作表面的法向凸起的隔离台912，隔离台912与电路板80设置触点a1至a12的侧边齐平。

以上陈述仅以实施例来进一步说明本实用新型的技术内容，以便于读者更容易理解，但不代表本实用新型的实施方式仅限于此，任何依本实用新型所做的技术延伸或再创造，均受本实用新型的保护。